飛行時間二次離子質譜法
飛行時間二次離子質譜法Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry :TOF-SIMS原理超真空環境下向樣品射入1次離子束，從樣品的淺表層（1~3nm）釋放出2次離子。將2次離子導入飛行時間（TOF型）質譜儀，就可以獲得樣品最表層的質譜。此時，再通過調低1次離子的照射量，檢測保留了表面成分化學結構的分子離子和部分碎片離子，就可以獲取最表層的元素構成和化學結構的信息。飛行時間（TOF型）質譜儀由于脈沖后1次離子的照射而產生的2次離子在一定能量下被加速，根據質量不同以不同速度（輕離子高速，重離子低速）進入質譜儀。達到檢測器的時間（飛行時間）與質量有著函數關系，通過精密測定此飛行時間的分布可以獲取質譜。 ......閱讀全文
飛行時間二次離子質譜法
飛行時間二次離子質譜法Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry :TOF-SIMS原理超真空環境下向樣品射入1次離子束，從樣品的淺表層（1~3nm）釋放出2次離子。將2次離子導入飛行時間（TOF型）質譜儀，就可以獲得樣品最表層的質譜。此時，再通過調
飛行時間二次離子質譜共享
儀器名稱：飛行時間二次離子質譜儀器編號：13027664產地：德國生產廠家：ION-TOF GmbH型號：TOF.SIMS 5出廠日期：2012.5購置日期：201312所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：理科樓D-104固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-6
飛行時間二次離子質譜儀（TOFSIMS）
飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）介紹美信檢測失效分析實驗室?【摘要】飛行時間二次離子質譜儀（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微 量的二次離子，根據二次
關于飛行時間二次離子質譜儀的介紹
飛行時間二次離子質譜儀(ToF-SIMS)。在此類質譜儀中，二次離子被提取到無場漂移管，二次離子沿既定飛行路徑到達離子檢測器。由于給定離子的速度與其質量成反比，因此它的飛行時間會相應不同，較重的離子到達檢測器的時間會比較輕的離子更晚。此類質譜儀可同時檢測所有給定極性的二次離子，并具有極佳質量分辨
二次離子質譜法的簡介
二次離子質譜法是指當初級離子束（Ar+，O2+，N2+, O-，F-，N -或Cs+等） 轟擊固體試樣表面時，它可以從表面濺射出各種類型的二次離子，利用離子在電場，磁場或自由空間中的運動規律，通過質量分析器，可以使不同質荷比的離子分開，經分別計數后可得到二次離子強度-質荷比關系曲線的分析方法。
一單位880萬采購飛行時間二次離子質譜儀
某單位飛行時間二次離子質譜儀采購項目公開招標公告 項目概況 某單位飛行時間二次離子質譜儀采購項目 招標項目的潛在投標人應在http://www.oitccas.com/獲取招標文件，并于2023年10月30日13點30分（北京時間）前遞交投標文件。 一、項目基本情況 項目編號：OITC-G
飛行時間二次離子質譜（TOFSIMS）研究
一、二次離子峰位歸屬煤及烴源巖中的有機組分的二次離子譜非常復雜，再加上目前對SIMS裂分機理掌握不夠，因此，對煤及源巖有機質的SIMS譜圖解釋存在很多問題。目前對TOF-SIMS常見碎片離子峰認識程度綜合于表7-7。本節研究重點是根據對現有峰位的認識，建立與13CNMR,Mirco-FT·IR可以類
TOFSIMS（飛行時間二次離子質譜儀）的工作原理
1. 利用聚焦的一次離子束在樣品上進行穩定的轟擊，一次離子可能受到樣品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固體樣品表面的一些原子層深入到一定深度，在穿透過程中發生一系列彈性和非彈性碰撞。一次離子將其部分能量傳遞給晶格原子，這些原子中有一部分向表面運動，并把能量傳遞給表面離子使之發射，這種過程成為粒子
TOFSIMS（飛行時間二次離子質譜儀）的主要用途
1. 摻雜劑與雜質的深度剖析2. 薄膜的成份及雜質測定 （金屬、電介質、鍺化硅 、III-V族、II-V族）3. 超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析4. 硅材料整體分析，包含B, C, O,以及N5. 工藝工具（離子植入）的高精度分析
單臺近1500萬－飛行時間二次離子質譜儀項目中標
一、項目編號：DLDC-2024-GKZB00014 二、項目名稱：飛行時間二次離子質譜儀項目 三、中標（成交）信息 1.中標結果：序號中標金額中標供應商名稱中標供應商地址1投標報價:14750000元浙江鴻煌科技有限公司浙江省杭州市西湖區翠苑新村三區11幢5單元配套用房1620室 四、
單臺近千萬，浙江大學采購飛行時間二次離子質譜儀
項目概況 飛行時間二次離子質譜儀等設備 招標項目的潛在投標人應在詳見公告原文獲取招標文件，并于2025年12月30日 14點00分（北京時間）前遞交投標文件。 一、項目基本情況 項目編號：ZUPC-GK-HW-2025035G 項目名稱：飛行時間二次離子質譜儀等設備 預算金額：998.
高德英特中標860萬飛行時間二次離子質譜儀采購項目！
近日，高德英特（北京）科技有限公司發布《飛行時間二次離子質譜儀采購項目中標公告》，8589000.00元中標飛行時間二次離子質譜儀。詳細信息如下：一、項目編號：OITC-G230610908（招標文件編號：OITC-G230610908）?二、項目名稱：某單位飛行時間二次離子質譜儀采購項目三、中標（
1160萬！南京大學公開采購飛行時間二次離子質譜儀
公告信息采購項目名稱飛行時間二次離子質譜儀品目貨物/設備/儀器儀表/教學儀器采購單位南京大學行政區域南京市公告時間2023年11月06日 15:45獲取招標文件時間2023年11月06日至2023年11月13日每日上午:9:00 至 11:30 下午:13:30 至 17:00（北京時間，法定節假日
質譜分析法術語二次離子質譜法
二次離子質譜法（ secondary ion mass spectrometry， SIMS）采用二次離子質譜儀進行質析的方法，該法依賴于所用不同二次離子質譜儀，可劃分為四極桿二次離子質（quasSenary ion nmss spectrometr）、高分辯二次離子質譜儀（ high resolu
金屬基質增強飛行時間二次離子質譜用于單細胞脂質分析
1引 言? 單個細胞在結構、組成及代謝等方面存在差異，這種差異帶來的影響在組織、器官等的功能上均有所體現。針對多個細胞的常規分析方法測得的結果通常無法保留這些個體差異信息，難以準確評估及預測細胞的生理學行為，因此，單細胞分析引起越來越多的關注[1]。單細胞分析的一個重要內容是單細胞脂質分析。脂
美研究人員用飛行時間二次離子質譜繪制癌癥運動地圖
由于腫瘤細胞利用組織環境并壟斷可用資源以繼續生長，因此研究人員很難識別散布在非惡性組織中的腫瘤細胞。這限制了他們對癌癥細胞運動軌跡的探究。近日，華盛頓大學研究人員使用一種新技術，可生成腫瘤樣本中任何特定分子的地圖，進而講述了腫瘤生長的故事。 飛行時間二次離子質譜分析 研究人員將癌癥細胞利用細
離子阱飛行時間質譜工作方式
隨著國內醫藥行業的飛速發展，以及國內外大環境的要求，質譜作為一種非常有用的檢測儀器以及手段，逐漸受到國內醫藥企業的重視并不斷普及。而其中的翹楚-高分辨質譜在藥物研發方面，尤其是本人從事的藥物雜質研究方面擁有著無與倫比的地位。然而，就質譜本身而言，不論是儀器維護還是應用研究，都需要有一定的理論基礎
單臺1200萬！南京大學擬采購一套飛行時間二次離子質譜儀
南京大學2023年10至11月政府采購意向-飛行時間二次離子質譜儀，預算金額1200萬元，預計采購時間為10月份。詳細情況如下：飛行時間二次離子質譜儀項目所在采購意向：南京大學2023年10至11月政府采購意向采購單位：南京大學采購項目名稱：飛行時間二次離子質譜儀預算金額：1200.000000
島津－電噴霧離子阱/飛行時間串聯質譜儀共享
儀器名稱：電噴霧-離子阱/飛行時間串聯質譜儀儀器編號：13032571產地：日本生產廠家：日本島津公司型號：LCMS IT/TOF出廠日期：201204購置日期：201312所屬單位：化學系>分析中心>高分辨有機質譜室放置地點：理科樓分析中心二層 D216固定電話：010-62797463固定手機：
離子阱飛行時間質譜Trap－TOF－的優缺點
需要仔細維護以3D離子阱作為質量選擇器和反應器，結合了離子阱的多級質譜能力和飛行時間質譜的高分辨能力優點同時具有多級串級和高分辨能力，適合于未知樣品的定性工作，如糖蛋白的定性缺點由于離子阱容量限制，對于混合樣品的靈敏度欠佳定量能力弱
液相色譜離子阱飛行時間質譜相關簡介
技術特點：島津LCMS-IT-TOF，即液相色譜-離子阱-飛行時間質譜，通過獨創一系列關鍵的ZL技術，將離子阱質譜的多級質譜分析和飛行時間質譜的高靈敏度、高質量準確度、高分辨率結合在一起，可以前所未有的進行多級質譜解析，每一級質譜又能達到高質量精度的強大功能。簡而言之，可以實現“多級高分辨”的功
國家標準氮化鎵材料中鎂含量的測定二次離子質譜法
１國家標準《氮化鎵材料中鎂含量的測定二次離子質譜法》編制說明（預審稿）一、工作簡況1.立項的目的和意義GaN材料的研究與應用是目前全球半導體研究的前沿和熱點，是研制微電子器件、光電子器件的新型半導體材料，并與SiC、金剛石等半導體材料一起，被譽為是繼第一代Ge、Si半導體材料、第二代GaAs、InP
等離子質譜法是什么
電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）是以等離子體為離子源的一種質譜型元素分析方法。主要用于進行多種元素的同時測定，并可與其他色譜分離技術聯用，進行元素價態分析。測定時樣品由載氣（氬氣）引入霧化系統進行霧化后，以氣溶膠形式進入等離子體中心區，在高溫和惰性氣氛中被去溶劑化、汽化解離和電離，轉化成帶正電
等離子質譜法是什么
電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）是以等離子體為離子源的一種質譜型元素分析方法。主要用于進行多種元素的同時測定，并可與其他色譜分離技術聯用，進行元素價態分析。測定時樣品由載氣（氬氣）引入霧化系統進行霧化后，以氣溶膠形式進入等離子體中心區，在高溫和惰性氣氛中被去溶劑化、汽化解離和電離，轉化成帶正電
等離子質譜法是什么
電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）是以等離子體為離子源的一種質譜型元素分析方法。主要用于進行多種元素的同時測定，并可與其他色譜分離技術聯用，進行元素價態分析。測定時樣品由載氣（氬氣）引入霧化系統進行霧化后，以氣溶膠形式進入等離子體中心區，在高溫和惰性氣氛中被去溶劑化、汽化解離和電離，轉化成帶正電
一文了解質譜相對強度
國際標準分類中，質譜中相對強度涉及到分析化學。 在中國標準分類中，質譜中相對強度涉及到基礎標準與通用方法、化學。 日本工業標準調查會，關于質譜中相對強度的標準 JIS K0153-2015 表面化學分析. 二次離子質譜法. 靜態二次離子質譜法中相對強度范圍的重復性和穩定性 英國標準學會，
1910萬！國家地質實驗測試中心冷凍聚焦氙離子束飛行時間二次離子質譜系統公開招標公告
項目概況 國家地質實驗測試中心冷凍聚焦氙離子束-飛行時間二次離子質譜系統 招標項目的潛在投標人應在北京市海淀區西三環北路21號久凌大廈南樓15層獲取招標文件，并于2025年06月19日 13點30分（北京時間）前遞交投標文件。 一、項目基本情況 項目編號：0773-2541GNJTHWGK1
飛行時間質譜技術
質譜分析本是一種物理方法，其基本原理是使試樣中各組分在離子源中發生電離，生成不同荷質比的帶正電荷的離子，經加速電場的作用，形成離子束，進入質量分析器。在質量分析器中，再利用電場和磁場使發生相反的速度色散，將它們分別聚焦而得到質譜圖，從而確定其質量。第一臺質譜儀是英國科學家阿斯頓質譜儀開始主要是作為一
飛行時間質譜－(TOF)
分析物的質荷比是根據分析物在真空飛行管中的飛行時間推算出的。飛行時間質譜的質量分析器由調制區、加速區、無場飛行空間和檢測器等部分組成。樣品分子電離以后，將離子加速并通過一個無場區，不同質量的離子具有不同的能量，通過無場區的飛行時間長短不同，可以依次被收集檢測出來。四極桿 (Quadrupole，Q)
飛行時間質譜簡介
飛行時間質譜，Time of Flight Mass Spectrometer (TOF)，是一種很常用的質譜儀。這種質譜儀的質量分析器是一個離子漂移管（ion drift tube）。由離子源產生的離子首先被收集。在收集器中所有離子速度變為0。使用一個脈沖電場加速后進入無場漂移管，并以恒定速度