X射線能譜過濾的MC模擬研究
能量低于300 keV且能譜簡單的穩定放射性核素較少,作為替代,利用X射線機產生X射線,并經過不同厚度的材料的過濾,可以得到用于對輻射防護儀器進行校準和確定其能量響應和角響應的一系列規定輻射質的參考輻射。由于材料的質量衰減系數與X射線在物質中各種作用過程有關,并強烈的依賴于光子的能量,基于這一物理現象,可以通過X射線在物質中的衰減規律,計算產生規定輻射質的過濾材料的厚度。針對過濾材料的厚度這一問題,本文運用Geant4程序模擬了不同能量的電子打靶,統計韌致輻射的X射線,以獲得計算所需X射線能譜,再由文中濾片厚度計算方法,計算產生規定輻射質過濾材料的厚度。模擬計算的結果顯示,過濾后的X射線能譜能夠很好的滿足標準要求,從而驗證了能譜過濾的理論計算的合理性......閱讀全文
X射線能譜過濾的MC模擬研究
能量低于300 keV且能譜簡單的穩定放射性核素較少,作為替代,利用X射線機產生X射線,并經過不同厚度的材料的過濾,可以得到用于對輻射防護儀器進行校準和確定其能量響應和角響應的一系列規定輻射質的參考輻射。由于材料的質量衰減系數與X射線在物質中各種作用過程有關,并強烈的依賴于光子的能量,基于這一物理現
X射線能譜測量與模擬
1895年,德國科學家倫琴發現了X射線,開辟了一個嶄新的、廣闊的物理研究領域。其中,針對電子打靶產生的韌致輻射X射線的研究,是X射線研究領域的一個重要課題。本文在國內外針對X射線能譜測量與解析的基礎上,利用高純鍺(HPGe)探測器使用直接測量法與間接測量法對鎢靶X射線與鉬靶X射線能譜進行了測量。工作
X射線能譜測量的蒙特卡羅成像模擬
針對高能強流電子束轟擊高Z靶產生的X射線的能譜測量問題,采用蒙特卡羅方法進行成像模擬研究。高能X射線能譜通常由對X射線經過衰減體的直穿透射率曲線進行解譜獲得。設計了帶多準直孔的截錐體模型,在單次模擬成像中獲得完整的衰減透射率曲線,有效避免了散射光子對透射率曲線以及X射線能譜重建的影響。成像面采用非均
10－MeV電子加速器X射線能譜模擬研究
本文建立了10 Mev電子轟擊鉛靶、鐵靶、鋁靶產生x射線的幾何模型,使用蒙特卡羅程序模擬計算得到了0°~180°方向上產生的x射線能譜和O°、90°、180°方向上的劑量率發射常數。模擬結果表明劑量率發射常數具有明顯的方向性,0°方向轟擊鉛靶最高,隨著靶材原子序數的降低或角度的增大而減小;0°方向的
X－射線能譜
X 射線能譜（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微區成分分析最為常用的一種方法，其物理基礎是基于樣品的特征 X 射線。當樣品原子內層電子被入射電子激發或電離時，會在內層電子處產生一個空缺，原子處于能量較高的激發狀態，此時外層電子將向內層躍遷以填補
復雜X射線能譜構造方法研究
本文提出了基于最小二乘法的復雜X射線能譜構造方法,介紹了其構造原理,設計了由35~100kV加速電壓條件下的14個X射線過濾譜組成的構造子譜組。目標能譜模擬構造結果表明,構造能譜與目標能譜總體的相對偏差基本控制在10%以內;影響其偏差的主要因素包括構造子譜數量與形態,目標能譜的非連續可微以及射線源特
工業CT錐束X射線能譜及強度的分布模擬
利用蒙特卡羅方法模擬了錐束工業CT系統中X射線的產生過程,分別得到了未加過濾層和加2mm鐵片作為過濾層情況下的X射線能譜;計算了不同靶面傾角下出射X射線相對強度的角分布。隨后模擬了X射線通過被測物體后射線強度的分布,分別得到了射線源與探測器間距離相同時,穿過不同直徑被測物體以及經過相同的被測物體,但
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
軟X射線能譜儀
本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?
X射線機重過濾X射線能譜的測量
本文報道了用 NaI(Tl)閃爍譜儀對國產 F34-Ⅰ型 X 射線機的重過濾 X 射線能譜的測量和解譜方法,給出一組測量結果,并對測量結果進行了比較和討論。
快脈沖硬X射線能譜測量實驗研究
研究設計了以解析吸收片后的透射率來測量快脈沖硬X射線輻射場能譜的實驗方法。對實驗方案進行了理論模擬設計,并獲得了解譜必要的理論數據,通過測量不同吸收片后光強的實驗方法獲得了透射系數,用微擾的數學方法完成了測量譜的解析,復現了測量位置處快脈沖硬X射線輻射場能譜,最后對該方法的可靠性進行了驗證。?
氚鈦靶的X射線能譜初步研究
采用超低能鍺探測X射線技術和βIXS方法,研究了在Ar氣、空氣介質中鉬材料中氚和氚鈦靶中氚產生的X射線能譜。Ar氣介質與空氣介質相比,鉬材料中氚產生的X射線能譜除了與空氣介質在同樣的峰位能量2.2keV位置產生譜峰外,還增加了一個峰位能量為3.0keV的譜峰。
基于MARS系統的X射線能譜CT研究
X射線是19世紀末物理學的三大發現（X射線1895年、放射性1896年、電子1897年）之一，這一發現標志著現代物理學的誕生。由于X射線是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁輻射，因而它具有很高的穿透本領，能穿透許多對可見光不透明的物質，基于此，可用來幫助人們進行醫學診斷和治療，或者用于工業等領域的非破
軟X射線能譜定量測量技術研究
采用每毫米 10 0 0線的自支撐透射光柵配上背照射軟X射線CCD(charge coupleddevice)組成了透射光柵譜儀 ,利用北京同步輻射裝置 (BSRF) 3W1B光束線軟X射線實驗站上X射線源分別對透射光柵的衍射效率和軟X射線CCD的響應靈敏度進行了準確的實驗標定 ,獲得了 15 0e
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。
Si(Li)X射線能譜儀
Si(Li)x射線能譜儀于一九六八午首次應川在電子探針,成為一種x射線微分析的工具。此后,在能量分辨率、計數率和數據分析等方面作了許多改進,目前已經成為電子探針和掃描電鏡的一種受歡迎的附件,甚至在透射電子顯微鏡上也得到應用。
X射線能譜儀應用范圍
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，
DPF脈沖X射線能譜測量
采用濾光法對ＤＰＦ脈沖Ｘ射線源裝置的Ｘ射線能譜進行了測量，取得了較好的結果，為輻射效應環境測量提供了一種手段。?
X射線能譜數據處理
本文提出運用FFT,對雙路實測能譜信息在變換域中加以濾波修正,同時完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EMZL程序,并與諸元素特征峰及背底的譜分析相比較,獲取濾波修正頻窗。文中編制了雙路能譜同時作濾波修正程序。試驗表明:此法實現了數據壓縮及零相位校正,增快了濾波速度,減小了相位滯移量,提高了分
高能脈沖X射線能譜測量
給出了高能脈沖X射線能譜測量的基本原理及實驗結果.采用Monte-Carlo程序計算了高能光子在能譜儀中每個靈敏單元內的能量沉積,利用能譜儀測量了"強光Ⅰ號"加速器產生的高能脈沖X射線不同衰減程度下的強度,求解得到了具有時間分辨的高能脈沖X射線能譜,時間跨度57ns,時間步長5ns,光子的最高能量3
X射線能譜定性分析
X射線能譜定性分析快速有效，是電子探針和掃描電鏡分析必須的組成部分。用X射線能譜儀測量試樣特征X射線全譜中各譜峰的能量值，計算機釋譜得出試樣的元素組成。X射線能譜定性分析要注意背景的判別、峰的位移、峰的重疊、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干擾峰等問題，以免導致錯誤的分析結果。(1)背景的判別在使用X射線
NaI晶體譜儀采集X射線能譜測量方法研究
為準確測量軔致輻射X射線能譜,利用NaI晶體譜儀對于測量光子的能譜展寬效應,結合理論模擬分析,提出了采用變能量矩陣求解法實現X射線能譜的重建。該方法通過合理選擇能量區間,可有效消除能譜響應矩陣中各矢量的相關性,從而實現能譜的準確重建。并分別以均勻能譜分布和實際軔致輻射X射線能譜為例,進行了X射線的能
HPGe測量連續硬X射線能譜的解譜方法研究
結合數值模擬得到的單能光子在HPGe探測器上能量響應函數,用改進的剝譜法對測量得到的連續硬X射線能譜進行解譜。扣除測量譜中康普頓、反散射等效應產生的計數對測量能譜的影響,得到了僅反映探測器對光電效應的能量響應的能譜。最后,通過效率修正,完成了測量譜到實際能譜的還原,為連續硬X射線能譜解析提供了可靠方
HPGe測量連續硬X射線能譜的方法研究
采用數值模擬與實驗測量相結合的方法,完成了探測系統刻度,得到了該探測器對單能光子的能量全響應函數,在此基礎上探索出改進的剝譜法,對測量得到的連續硬X射線能譜進行解析,扣除了測量譜中非光電效應對每道計數的貢獻,復現了測量位置處的實際能譜,并對該能譜測量方法進行了誤差分析,提出了進一步完善措施。?
用X射線能譜研究金基六元合金
利用Ｘ射線能譜（ＥＤＳ）和透射電子顯微術（ＴＥＭ）等手段研究了Ａｕ－Ｎｉ－Ｆｅ－Ｃｒ－Ｉｎ－Ｚｒ合金的顯微組織。研究結果表明，合金主要由Ａｕ基固溶體和Ｎｉ基固溶體組成。此外還有兩種第二相粒子，一種粒子（命名為η相）含Ｃｒ量為９０ａｔ％，屬簡單正交結構，ａ＝０．４４８ｎｍ，ｂ＝１．４０ｎｍ，ｃ＝１．２
腔靶軟X射線能譜結構的實驗研究
敘述了利用雙狹縫透射光柵譜儀,在高功率激光物理聯合實驗室神光裝置上,對腔靶不同位置的能譜進行診斷,給出了腔靶源區能譜的空間分布和爆區的能譜結構,為腔靶輻射場的研究提供了重要信息。
X射線能譜儀的原理介紹
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
X射線能譜定量分析
隨著探頭制造技術水平的提高、電子學技術的發展,以及對脈沖處理技術和重疊峰處理方法的改進,能譜定量分析的精度得到不斷提高。目前,對原子序數在11～30之間的常用元素,其分析精度大體上可以達到波長譜儀的水平。由于能譜定量分析的方法簡單、操作方便,它既能進行大試樣的平均成份分析,也能進行微粒、薄板、鍍層、
X射線光電子能譜
X射線光電子能譜(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技術也被稱作用于化學分析的電子能譜(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS屬表面分析法,它可以給出固體樣品表面所含的元素種類、化學組成以及有
X射線能譜重疊峰的識別
提出了一種通過譜線權重來正確識別X射線能譜重疊峰的新方法。應用該方法 ,成功地分析了Ti合金微區中能量差為 2 0eV的Ti和V的重疊峰。實驗表明 ,該方法簡便、可靠 ,并可適用于K Zn之間元素的分析?