X射線能譜過濾的MC模擬研究
能量低于300 keV且能譜簡單的穩定放射性核素較少,作為替代,利用X射線機產生X射線,并經過不同厚度的材料的過濾,可以得到用于對輻射防護儀器進行校準和確定其能量響應和角響應的一系列規定輻射質的參考輻射。由于材料的質量衰減系數與X射線在物質中各種作用過程有關,并強烈的依賴于光子的能量,基于這一物理現象,可以通過X射線在物質中的衰減規律,計算產生規定輻射質的過濾材料的厚度。針對過濾材料的厚度這一問題,本文運用Geant4程序模擬了不同能量的電子打靶,統計韌致輻射的X射線,以獲得計算所需X射線能譜,再由文中濾片厚度計算方法,計算產生規定輻射質過濾材料的厚度。模擬計算的結果顯示,過濾后的X射線能譜能夠很好的滿足標準要求,從而驗證了能譜過濾的理論計算的合理性......閱讀全文
X射線能譜巖芯掃描分析技術的研究開發
XRF(X射線熒光光譜分析)巖芯掃描方法,是一種非破壞性的、高效的巖芯元素組成分布的XRF分析測試方法。我們研制的國內第一臺XRF巖芯掃描儀將傳統的點數據改為線掃描面積型數據,使數據對樣品元素組成的變化趨勢描述的更加準確,清晰,結合計算機數據分析,可以提供可靠的趨勢數據。?
高能閃光照相X射線能譜的理論研究
用 Ｍ ｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ 方法模擬球對稱客體系統的閃光照相中 Ｘ 光光子的輸運過程。分別在單客體情況和全系統情況下，給出了記錄平面上各種光子譜及其在記錄平面上的空間分布。結果表明：記錄區邊緣的譜形與源光子譜形很相似；深穿透區各點之間的譜形差別不大，譜平均光子能量近似相同，并且位于使高 Ｚ材料的光
應用掃描電鏡和X射線能譜儀研究鈦酸鋇
該文使用發射掃描電子顯微鏡和X射線能譜儀對鈦酸鋇進行表征。針對鈦酸鋇的材料特性和工作目標,采用了多種測試工作條件,通過其結果對比,找到了對鈦酸鋇進行形貌觀察的最佳條件,并分析了其成分。
X射線能譜儀譜峰重疊問題的探討
針對X射線能譜儀在對樣品進行定性分析時經常出現的元素譜峰重疊問題,進行機理分析和歸納總結,提出在物證檢驗中如何避免譜峰重疊帶來定性分析偏差的方法.?
應用Geant4模擬放療、診斷和防護線質下的X射線能譜
目的獲得放療、診斷和防護線質下的X射線能譜。方法應用Geant4對于不同的過濾片和管電壓組合進行了蒙特卡洛模擬,得到了相應條件下的X射線能譜。模擬時考慮了電子與靶碰撞發生的康普頓效應、光電效應、瑞利散射、軔致輻射和電離等物理過程。結果得到了放療、診斷和防護線質下的X射線能譜與平均能量值。結論應用Ge
軟X射線能譜儀數據采集系統
在 線 存 儲 軟X射線能譜儀的結構框圖見圖1。不同能量的軟X射線被Johann彎晶衍射分光,分光后的能量分布轉化成在探測器上對應的位置分布。位置靈敏、時間分辨好的MWPC和MCP都可做為這種探測器。軟X射線區適用的MWPC采用逐絲陽極讀出法以允許高計數率,同時也是為了滿足將可測能區延伸到更低能區時
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
應用X射線能譜儀檢驗原子印油
?原子印章是一種新型的印章。原子印章攜帶和使用極為方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊結構,其印油的成份不同于普通的印臺油及印泥。早期的原子印油多為國外進口,目前國內亦有一些廠家生產。我們應用掃描電子顯微鏡和 X 射線能譜儀對原子印油進行檢驗,獲得一些有用的信息。
太陽耀斑硬X射線能譜演變特征
太陽硬Ｘ射線是耀斑高能電子束流與太陽大氣相互作用產生的韌致輻射，根據簡單的太陽耀斑環物理模型，假定具有流量與能譜同步變化的高能電子束流從耀斑環頂部注入，計算了硬Ｘ射線輻射在不同的靶物質密度區的能譜演變特征．結果表明：硬Ｘ射線輻射在低大氣密度靶區呈現軟一硬一硬的能譜演變特征，在高密度靶區硬Ｘ射線能譜則
X射線光電子能譜（－XPS）
XPS：X射線光電子能譜分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)測試的是物體表面10納米左右的物質的價態和元素含量，而EDS不能測價態，且測試的深度為幾十納米到幾微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。?原理：用X射線去輻射樣品，使原子或分子
云南天文臺伽瑪射線暴X射線能譜研究獲進展
伽瑪射線暴是宇宙中劇烈的爆發現象，高能伽瑪射線輻射過后的X射線、光學、射電等波段的余輝輻射研究，是確定爆發前身星和星周環境基本物理性質的關鍵。伽瑪暴通常被認為是銀河系外的輻射，而余輝的X射線線特征探測，是確認伽瑪射線暴紅移（即距離）的重要手段。伽瑪射線暴X射線能譜的發射線探測始于上世紀末，盡管極
家貓針毛的形態研究和X射線能譜元素分析
本文對家貓針毛的形態結構進行了掃描電鏡（ＳＥＭ）觀察，并且利用Ｘ 射線能譜儀（ＥＤＡＸ）分別對鱗片層、皮質層和髓質層進行了元素分析。結果表明：家貓針毛具有特殊的形態結構，針毛纖維各層間所含元素有明顯區別。可為家貓針毛的性能研究及鑒別提供依據。
基于X射線能譜的爆炸物檢測算法研究
正確識別行李包裹中的爆炸物是車站、機場等重要出入口處安檢工作中極為迫切的需求。x射線技術是目前國內外安檢系統中應用最廣泛的技術,隨著高分辨率光子計數器的發展,多能譜X射線技術應用于安檢成為了可能。本文首先介紹了X射線與物質的各種相互作用,重點介紹了光電效應和康普頓散射原理,指出了物質的線性衰減系數與
x射線光電子能譜儀的主要研究領域
主要研究領域包括： （1）TiO2納米光催化以及在空氣和水凈化方面的應用； （2）汽車尾氣凈化催化劑新型金屬載體的研究； （3）納米藥物載體及靶向藥物的研究； （4）納米導電陶瓷薄膜材料的研究； （5）納米雜化超硬薄膜材料及摩擦化學的研究； （6）納米發光材料及納米分析化學研究；
不銹鋼X射線能譜定量分析方法研究
配備X射線能譜儀的掃描電子顯微鏡不僅能夠觀察材料的微觀形貌還可對微區成分進行分析，現已廣泛應用于材料分析測試領域。提高能譜儀定量分析的準確度，是科學研究和工業生產的重要課題。本論文對能譜儀的物理基礎、工作原理、定性分析、定量分析等方面進行了闡述，并圍繞如何獲得不銹鋼標樣定量分析的最佳工作條件以及提高
陽極桿箍縮二極管產生X射線能譜的模擬計算
采用粒子模擬,得到了陽極桿箍縮二極管陽極鎢針上電子的空間分布和入射角分布,分析二極管工作狀態得到了電子的能量分布.在此基礎上建立陽極桿箍縮二極管的蒙特卡羅模型,模擬得到了陽極桿箍縮二極管的輻射能譜和X射線的平均能量,并與實驗結果進行了比較.結果表明:09006炮光子平均能量為0.441MeV,計算該
云南天文臺伽瑪射線暴X射線能譜發射線探測研究獲進展
伽瑪射線暴是宇宙中劇烈的爆發現象，高能伽瑪射線輻射過后的X射線、光學、射電等波段的余輝輻射研究，是確定爆發前身星和星周環境基本物理性質的關鍵。伽瑪暴通常被認為是銀河系外的輻射，而余輝的X射線線特征探測，是確認伽瑪射線暴紅移（即距離）的重要手段。伽瑪射線暴X射線能譜的發射線探測始于上世紀末，盡管極
X射線能譜微區分析中出射角對X射線強度的影響
利用SEM-EDS研究了硅襯底上Au、Cu薄膜發射的不同線系特征X射線相對強度間比值隨出射角的變化規律,探討了影響其變化的原因。結果顯示:隨著出射角變大,同一元素不同線系X射線相對強度間比值具有一定變化規律。低能量譜線的強度相對高能量譜線逐漸變大,這種變化主要是受X射線被基體吸收效應的影響所致。在低
12MVX射線能譜的實驗測定
對于流體物理研究所的12MV脈沖X射線裝置,其光子能譜是一個重要的物理參量。當用12MV脈沖射線作為相關實驗研究的輻射源時,得到的實驗結果的物理解釋也需要足夠的譜的數據。但由于高能高注量軔致輻射的光子譜難以用通常的在線式γ譜儀測量,所以用透射系數數值分析的方法對12MV-X射線譜作了初步的實驗測定。
6MV－X－射線能譜的實驗測定
用穿透系數數值分析的疊代最小二乘法對穩態加速器的Ｘ射線能譜進行了實驗測定，編寫了疊代最小二乘法的計算程序。?
X射線能譜儀的工作原理和應用
1 X射線能譜儀的工作原理 當電子槍發射的高能電子束進入樣品后，與樣品原子相互作用，原子內殼層電子被電離后，由較外層電子向內殼層躍遷產生具有特定能量的電磁輻射光子，即特征X射線。X射線能譜儀就是通過探測樣品產生的特征X射線能量來確定其相對應的元素，并對其進行相應的定性、定量分析。 2 掃描電
Z箍縮軟X射線連續能譜測量
診斷Z箍縮等離子體不同時刻的空間分布及狀態是認識等離子體運動規律進而控制其箍縮過程以便加以利用的必經環節。在箍縮過程中,離子、電子和光子發生強烈的相互作用,探測出射的X光可不破壞等離子體原有狀態而獲取三者運動信息。通過測量X光能譜可以探知輻射場溫度、離子密度、輻射沖擊過程等等。受現有裝置驅動能力的限
X射線能譜儀和波譜儀的優缺點
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。 Si(Li)能譜儀的優點 分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分
電子探針分析的X射線能譜法
本文介紹了使用硅(鋰)檢測器進行定量電子探針分析的一種方法,這種方法使用了背景模擬技術及其它技術中的電荷收集不完全和電子噪聲的校正。輕元素分析的改進對硅酸鹽樣品是特別有利的,使之盡可能采用純金屬作分析標樣。這種方法已被用于各種地球化學樣品的分析中(包括用JG—1和JB—1巖石做成的玻璃)。與濕式化學
美國KEVEX公司8000型x射線能譜儀
?8000型X射線能譜儀主要做能量分散X射線分析,可用于冶金、電子、地球化學勘探、化工、石油、生物醫學等許多領域。儀器由X射線探測器,分析儀,小型計算機、大容量存貯器,顯示器,鍵盤和軟件構成。?
多層鏡軟X射線能譜儀的研制
軟X射線能譜測量是ICF實驗中的重要內容,測量意義重大。軟X射線能診斷通過光譜分析,可以得到X射線總的通量,輻射溫度,轉換效率以及反照率。這些都是間接驅動黑腔熱力學的重要參數。作為黑體腔特征診斷系統,軟X射線能診斷系統測量黑體腔中發射出的X射線,可得出黑腔中輻射溫度的時間變化圖。針對目前常用的譜儀往
X射線能譜儀的使用原理及應用
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。? X射線能譜儀的簡介? X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法是在
X射線光電子能譜儀原理
X射線光子的能量在1000～1500ev之間，不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來，內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。?XPS的原理
用于高能X射線能譜測量的MLS法
為滿足高能X射線能譜測量的需要,提出采用MLS法進行能譜測量的方案。MLS法克服了其他測量方法散射不易控制、光場不均勻性影響較大的缺點,還具有對不同角度能譜進行測量的優勢。對MLS法的測量原理以及測量過程中的注意事項進行了明確,并利用蒙特卡羅方法針對一特定的X射線能譜設計了兩種不同介質的測量裝置,并