X射線能譜儀應用范圍
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。X射線光電子能譜分析X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子，可以測量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標，相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖，從而獲得待測物組成。XPS主要應用是測定電子的結合能來實現對表面元素的定性分析，包括價態。 X射線光電子能譜因對化學分析最有用，因此被稱為化學分析用電子能譜受激發射（stimulated em......閱讀全文
X射線能譜儀應用范圍
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，
X－射線能譜
X 射線能譜（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微區成分分析最為常用的一種方法，其物理基礎是基于樣品的特征 X 射線。當樣品原子內層電子被入射電子激發或電離時，會在內層電子處產生一個空缺，原子處于能量較高的激發狀態，此時外層電子將向內層躍遷以填補
應用X射線能譜儀檢驗原子印油
?原子印章是一種新型的印章。原子印章攜帶和使用極為方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊結構,其印油的成份不同于普通的印臺油及印泥。早期的原子印油多為國外進口,目前國內亦有一些廠家生產。我們應用掃描電子顯微鏡和 X 射線能譜儀對原子印油進行檢驗,獲得一些有用的信息。
軟X射線能譜儀
本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?
X射線能譜儀簡介
能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器，常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
X射線能譜儀的工作原理和應用
1 X射線能譜儀的工作原理 當電子槍發射的高能電子束進入樣品后，與樣品原子相互作用，原子內殼層電子被電離后，由較外層電子向內殼層躍遷產生具有特定能量的電磁輻射光子，即特征X射線。X射線能譜儀就是通過探測樣品產生的特征X射線能量來確定其相對應的元素，并對其進行相應的定性、定量分析。 2 掃描電
X射線能譜儀的使用原理及應用
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。? X射線能譜儀的簡介? X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法是在
X射線機重過濾X射線能譜的測量
本文報道了用 NaI(Tl)閃爍譜儀對國產 F34-Ⅰ型 X 射線機的重過濾 X 射線能譜的測量和解譜方法,給出一組測量結果,并對測量結果進行了比較和討論。
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。
DPF脈沖X射線能譜測量
采用濾光法對ＤＰＦ脈沖Ｘ射線源裝置的Ｘ射線能譜進行了測量，取得了較好的結果，為輻射效應環境測量提供了一種手段。?
高能脈沖X射線能譜測量
給出了高能脈沖X射線能譜測量的基本原理及實驗結果.采用Monte-Carlo程序計算了高能光子在能譜儀中每個靈敏單元內的能量沉積,利用能譜儀測量了"強光Ⅰ號"加速器產生的高能脈沖X射線不同衰減程度下的強度,求解得到了具有時間分辨的高能脈沖X射線能譜,時間跨度57ns,時間步長5ns,光子的最高能量3
X射線能譜數據處理
本文提出運用FFT,對雙路實測能譜信息在變換域中加以濾波修正,同時完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EMZL程序,并與諸元素特征峰及背底的譜分析相比較,獲取濾波修正頻窗。文中編制了雙路能譜同時作濾波修正程序。試驗表明:此法實現了數據壓縮及零相位校正,增快了濾波速度,減小了相位滯移量,提高了分
X射線能譜測量與模擬
1895年,德國科學家倫琴發現了X射線,開辟了一個嶄新的、廣闊的物理研究領域。其中,針對電子打靶產生的韌致輻射X射線的研究,是X射線研究領域的一個重要課題。本文在國內外針對X射線能譜測量與解析的基礎上,利用高純鍺(HPGe)探測器使用直接測量法與間接測量法對鎢靶X射線與鉬靶X射線能譜進行了測量。工作
X射線能譜定性分析
X射線能譜定性分析快速有效，是電子探針和掃描電鏡分析必須的組成部分。用X射線能譜儀測量試樣特征X射線全譜中各譜峰的能量值，計算機釋譜得出試樣的元素組成。X射線能譜定性分析要注意背景的判別、峰的位移、峰的重疊、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干擾峰等問題，以免導致錯誤的分析結果。(1)背景的判別在使用X射線
Si(Li)X射線能譜儀
Si(Li)x射線能譜儀于一九六八午首次應川在電子探針,成為一種x射線微分析的工具。此后,在能量分辨率、計數率和數據分析等方面作了許多改進,目前已經成為電子探針和掃描電鏡的一種受歡迎的附件,甚至在透射電子顯微鏡上也得到應用。
X射線檢查的應用范圍
常用于神經系統的X射線檢查有頭顱平片 、 腦血管造影、CT 、脊髓造影等 ；常用于循環系統的X射線檢查有心臟透視、心臟遠距攝影、心血管造影；常用于消化系統的 X 射線檢查有消化道造影，膽道系統的X射線照片和造影，肝臟的 CT 檢查，胰腺的B超、CT或血管造影；常用于泌尿系統的X射線檢查有X射線腹
X射線光電子能譜應用領域
主要用途：1.表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間分辨率的X射線光電子能譜的全譜資訊.2.維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學態的深度分析(角分辨方式,,氬離子或團簇離子刻蝕方式)3.線掃瞄或面掃瞄以得到線或面上的元素或化學態分布.4.成像功能.5.可進行樣品的原位處理 AES:1
X射線能譜儀的原理介紹
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
X射線能譜定量分析
隨著探頭制造技術水平的提高、電子學技術的發展,以及對脈沖處理技術和重疊峰處理方法的改進,能譜定量分析的精度得到不斷提高。目前,對原子序數在11～30之間的常用元素,其分析精度大體上可以達到波長譜儀的水平。由于能譜定量分析的方法簡單、操作方便,它既能進行大試樣的平均成份分析,也能進行微粒、薄板、鍍層、
X射線能譜重疊峰的識別
提出了一種通過譜線權重來正確識別X射線能譜重疊峰的新方法。應用該方法 ,成功地分析了Ti合金微區中能量差為 2 0eV的Ti和V的重疊峰。實驗表明 ,該方法簡便、可靠 ,并可適用于K Zn之間元素的分析?
X射線光電子能譜
X射線光電子能譜(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技術也被稱作用于化學分析的電子能譜(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS屬表面分析法,它可以給出固體樣品表面所含的元素種類、化學組成以及有
復雜X射線能譜構造方法研究
本文提出了基于最小二乘法的復雜X射線能譜構造方法,介紹了其構造原理,設計了由35~100kV加速電壓條件下的14個X射線過濾譜組成的構造子譜組。目標能譜模擬構造結果表明,構造能譜與目標能譜總體的相對偏差基本控制在10%以內;影響其偏差的主要因素包括構造子譜數量與形態,目標能譜的非連續可微以及射線源特
X射線能譜儀在薄膜器件刻蝕中的應用
锫鈦酸鉛[Pb（Ti,Zr）O3,簡稱 PZT]是一種新型的鐵電薄膜材料,具有獨特的電學,光學性能,有很廣泛的應用價值。PZT 薄膜與器件的制造,均采用集成電路制造工藝。使用掃描電鏡與 X 射線能譜儀對其進行工藝監控,可以得到比較滿意的結果。
關于x射線光電子能譜的應用概述
一、x射線光電子能譜的應用概述： 對固體樣品的元素成分進行定性、定量或半定量及價態分析。 固體樣品表面的組成、化學狀態分析，廣泛應用于元素分析、多相研究、化合物結構鑒定、富集法微量元素分析、元素價態鑒定。此外在對氧化、腐蝕、摩擦、潤滑、燃燒、粘接、催化、包覆等微觀機理研究；污染化學、塵埃粒子研
X射線光電子能譜的原理和應用
一?X光電子能譜分析的基本原理??X光電子能譜分析的基本原理：一定能量的X光照射到樣品表面，和待測物質發生作用，可以使待測物質原子中的電子脫離原子成為自由電子。該過程可用下式表示：hn=Ek+Eb+Er；其中：hn：X光子的能量；Ek：光電子的能量；Eb：電子的結合能；Er：原子的反沖能量。其中Er
應用掃描電鏡和X射線能譜儀研究鈦酸鋇
該文使用發射掃描電子顯微鏡和X射線能譜儀對鈦酸鋇進行表征。針對鈦酸鋇的材料特性和工作目標,采用了多種測試工作條件,通過其結果對比,找到了對鈦酸鋇進行形貌觀察的最佳條件,并分析了其成分。
X射線能譜儀譜峰重疊問題的探討
針對X射線能譜儀在對樣品進行定性分析時經常出現的元素譜峰重疊問題,進行機理分析和歸納總結,提出在物證檢驗中如何避免譜峰重疊帶來定性分析偏差的方法.?
軟X射線能譜儀數據采集系統
在 線 存 儲 軟X射線能譜儀的結構框圖見圖1。不同能量的軟X射線被Johann彎晶衍射分光,分光后的能量分布轉化成在探測器上對應的位置分布。位置靈敏、時間分辨好的MWPC和MCP都可做為這種探測器。軟X射線區適用的MWPC采用逐絲陽極讀出法以允許高計數率,同時也是為了滿足將可測能區延伸到更低能區時
衰減透射法測量高能X射線能譜
研究了基于衰減透射原理的高能X射線能譜測量與重建。利用蒙特卡羅方法對神龍一號直線感應加速器的X射線源穿過不同厚度鋁時的衰減透射過程進行模擬實驗。解譜方法采用迭代擾動法,對不同的初始能譜估計和測量噪聲水平條件下的能譜重建進行計算分析。結果表明:實驗測量不包含噪聲時,選擇合適的初始能譜可以獲得比較準確的
X射線能譜過濾的MC模擬研究
能量低于300 keV且能譜簡單的穩定放射性核素較少,作為替代,利用X射線機產生X射線,并經過不同厚度的材料的過濾,可以得到用于對輻射防護儀器進行校準和確定其能量響應和角響應的一系列規定輻射質的參考輻射。由于材料的質量衰減系數與X射線在物質中各種作用過程有關,并強烈的依賴于光子的能量,基于這一物理現