xrf分析結果是原子比還是質量比
XRF是質量百分比，但是XRF是半定量測量，可能不是很準，還有看你測試的元素的基體材料是什么，對精度有要求推薦ICP。XRF優缺點（摘自百度百科）優點a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b)X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。e) 分析精密度高。f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。缺點a）難于作絕對分析，故定量分析需要標樣。b）對輕元素的......閱讀全文
XRF的分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。 c) 根據各元素的特征X射線的強
XRF測試結果分析方式
定性分析不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜
XRF分析的基本介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，
XRD分析與XRF分析的異同
1，用途不同。XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測定晶體的結構的，而XRF是x射線熒光發射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測定原子序數小于Na的元素，定量測定的濃度范圍是常量、微量、
XRD分析與XRF分析的異同
1，用途不同。XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測定晶體的結構的，而XRF是x射線熒光發射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測定原子序數小于Na的元素，定量測定的濃度范圍是常量、微量、
XRD分析與XRF分析的異同
1，用途不同。XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測定晶體的結構的，而XRF是x射線熒光發射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測定原子序數小于Na的元素，定量測定的濃度范圍是常量、微量、
XRF分析技術的相關介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，
XRF分析儀探測什么？
XRF分析儀可以探測從鎂（Mg）到鈾（U）的元素。XRF分析儀幾乎可以指向任何樣件進行檢測，并獲得準確的結果。使用分析儀完成的常見應用包括廢料分揀、合金牌號的辨別、金屬制造業的質量控制（QC）、地質勘探或采礦、工業材料的檢測，如：水泥或煤炭等，以及消費產品的檢測，以發現漆層中的鉛或其他污染物。
XRF合金分析儀簡介
合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域金屬材料中元素成份的現場測定。是伴隨世界經濟崛起的工業和軍事制造領域必不可少的快速成份鑒定工具。
XRF分析儀檢測什么？
分析儀分析可以通過探測從鎂（Mg）到鈾（U）的元素。XRF分析儀幾乎我們可以直接指向任何樣件進行系統檢測，并獲得更加準確的結果。使用網絡分析儀完成的常見技術應用主要包括廢料分揀、合金牌號的辨別、金屬設備制造業的質量管理控制（QC）、地質勘探或采礦、工業建筑材料的檢測，如：水泥或煤炭等，以及社會消費金
關于XRF的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
關于XRF的基本分析
當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時放射出次級X射線光子，此即X射線熒光。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，X射線熒光的波長對不同元素是特征的。 根據
XRF分析儀的用途
XRF分析儀用于需要辨別材料的化學成分或樣件合金牌號的應用中。便攜式XRF分析儀可在野外現場采用堪比實驗室的技術對那些龐大、笨重或運送成本很高的樣品進行檢測。在現場進行分析可以實時提供信息，使用戶迅速做出決策。
XRF分析儀的相關分析因素介紹
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。 c) 根據各元素的特征X射線的強
XRF分析的有哪些優勢特點？
XRF分析的精密度和重現性很高。若有合適的標準，分析的準確度非常高，當然沒有標準時也可以分析。測量時間取決于待測的元素數目和要求的精度，在幾秒至30分鐘間變動。測量后的數據處理時間只需幾秒鐘。圖1顯示用EDXRF測得油的土壤樣品一組典型的光譜圖。圖中峰的輪廓清晰可見。峰的位置確定樣品存在的元素，
XRF做元素分析試樣怎么處理
這需要看你的材質是那種類型的。如果你是做礦石土壤等元素的分析的話，首先需要對礦石進行烘干、粉碎，最好在100目以上，在裝入樣品杯中或壓片，再進行測試。如果你是做金屬材質的分析的話，需要先對金屬材質的表面進行打磨，把表皮的氧化物和污漬去掉，露出光亮的金屬表面再進行測試。如果你是做水溶液的分析的話，需要
XRF分析有哪些樣品制備方法
a車削、切割、磨銑和拋光金屬試樣及分布均勻的合金樣品等，可用一般的機加工方法制成一定直徑的金屬圓片樣品。如車床車制、飛輪切割等。如表面比較粗糙，通常再進行研磨拋光。但必須指出，拋光條紋會引起所謂的“屏蔽效應”，尤其對長波輻射線與磨痕垂直時，強度降低嚴重。為此，測量時應采取試樣自轉方式，消除試樣取向影
XRF分析的熔片法程序
1.加熱樣品和硼酸鹽助熔劑的混合物，直到助熔劑融化；2.繼續加熱直到樣品溶解到助熔劑中，并攪拌以使熔體均勻化；3.將熔融玻璃倒入熱模中；4.冷卻以獲得堅固的玻璃盤，無需任何其他處理即可進行X射線測量。要進行融合實驗，必須了解使用的工具，融合混合物的成分，融合前的準備工作以及融合程序。將考慮所有這些，
關于XRF的定量分析
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比： （10.2） 式中， 為 =100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2)，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似
XRF
能量色散X熒光光譜儀，簡稱XRF，是一種物理的元素分析方法，具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢，在電子、電器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。可應用于：1、歐盟RoHS指令限定有害元素檢測： 鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價鉻
XRF分析儀的用途是什么？
手持式xrf光譜儀用于企業需要辨別材料的化學成分或樣件合金牌號的應用中。分析儀可在野外現場采用堪比實驗室的技術對那些龐大、笨重或運送成本很高的樣品數據進行研究檢測。在現場情況進行比較分析方法可以實現實時發展提供相關信息，使用戶能夠迅速做出正確決策。
XRF土壤分析儀的應用特點
?XRF土壤分析儀方法可以用最少的樣品制備 即可對土壤進行有效的定量元素分析。對大面積土地進行詳細的環境篩選是許多項目不可少的第一步。 然而，等待實驗室結果進行原位土壤篩選、異地土壤分析或修復可以有效地使工作停止。 在現場使用便攜式 XRF（X 射線熒光）土壤分析儀使您能夠進行大量土壤分析并快速完成
XRF分析儀的主要環境應用
對環境的評估只能依賴于在實驗室對從現場采集并運送到實驗室的樣件所做的分析，這種方法既浪費金錢又耗用時間。如今有了便攜式XRF分析儀，檢測人員可以在現場直接對環境進行評估。DELTA手持式XRF分析儀可進行經濟、有效、及時的實時數據分析，并快速得出全面的調查結論，從而決定所要采取的下一步措施。
XRF礦石分析儀鐵礦檢測方法
在105℃的鼓風干燥箱中，對客戶提供的鐵礦粉末標樣干燥4h。然后，對鐵礦二次標樣進行壓片；使用X熒光光譜儀EDX9000B礦石分析儀測量鐵礦粉末壓片和客戶提供的鐵礦玻璃熔片，使用歸一壓片法測量鐵礦中主、次組分，并且查看鐵礦組分的測量值和理論值的線性相關度。鐵礦壓片法歩驟：用電子天平稱量9.00g硼酸
金屬元素分析XRF檢測技術解析
1895年，倫琴在研究陰極射線時偶然發現一種能穿透物質產生熒光的未知射線，并將它命名為X射線， 這一發現引起了許多物理學家的關注。1908年，物理學家Barkla發現物質被激發產生的X射線中含有兩種成分，除了原入射X射線外，還含有一種與元素有關的標識譜線成分，又稱為特征X射線。隨后，Barkla
XRF合金分析儀的原理介紹
合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據X射線的發射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素構成。 每一個原子都有自己固定數量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道
XRF－分析污泥中的重金屬
能量色散X 射線熒光 (EDXRF) 適合于對污泥中的重元素進行篩查和監控。這項技術依賴于高靈敏度的探測器，能夠測量從鈉(Na, Z=11) 到鈾(U, Z=92)所有元素的發射譜線，測量濃度可從幾個ppm到百分含量，且樣品制備非常簡單，一次完整的樣品分析所需的時間不超過15 mi
XRF光譜分析技術對元素分析的作用
諸多元素分析人員都會選擇XRF光譜分析技術，因為它可以在PPM到100%的濃度變化范圍中確定元素成分并將其量化。 而且，它基本上不要求樣本準備工作，也不會破壞樣品， 徹底分析樣品得到測試結果的過程也非常短。 所有這些優點使得X熒光光譜分析技術與其它的元素分析技術相比大大地降低了樣品分析的單位成本
XRF測試
XRF測試若干問題： XRF中文稱為X射線熒光光譜儀，它包括能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）和波長色散型X射線熒光光譜儀(WDXRF)，WDXRF在精度和準確度方面要比EDXRF好，價格也較高。目前市場上使用較多的是EDXRF。無論是哪種X射線熒光光譜儀，它都是利用熒光散射的原理探測樣品中是
概述XRF分析儀的主要環境應用
過去，對環境的評估只能依賴于在實驗室對從現場采集并運送到實驗室的樣件所做的分析，這種方法既浪費金錢又耗用時間。如今有了便攜式XRF分析儀，檢測人員可以在現場直接對環境進行評估。DELTA手持式XRF分析儀可進行經濟、有效、及時的實時數據分析，并快速得出全面的調查結論，從而決定所要采取的下一步措施