XRF分析技術的相關介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，加上快速測量和結構緊湊的臺式儀器等優點，能實現現場分析并立即得到結果。......閱讀全文
XRF分析技術的相關介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，
XRF分析儀的相關分析因素介紹
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。 c) 根據各元素的特征X射線的強
XRF的能量相關信息介紹
而根據量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光子具有的能量為: E=hν=h C/λ 式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數；ν為光波的頻率；C為光速。 因此，只要測出熒光X射線的波長或者能量，就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外
XRF鍍層測厚儀的相關介紹
XRF鍍層測厚儀對焦系統確保每次測量中X射線管、零部件和探測器間的X射線可測量且幾何光路連續一致；否則會導致結果不準確。XRF鍍層測厚儀相機幫助用戶精確定位測量區域。某些情形下相機用于向自動操作模塊提供圖像信息，或包括放大圖像以精確定位需要測量的區域。樣品可放置于固定或可移動的XRF鍍層測厚儀樣
XRF分析的基本介紹
XRF分析是一項成熟的技術，利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。用于在整個行業范圍內驗證成分，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。在測定電子電器產品中是否存在限用物質時，一般采用XRF進行初篩。其基本的無損性質，
XRF鍍層測厚儀的技術介紹
XRF技術的最小檢測厚度為大約1nm。如果低于這個水平，則相應的特征X射線會淹沒于噪聲信號中，無法對其進行識別。最大范圍約為50μm左右。如果在該水平之上，則鍍層厚度將導致內層發射的X射線無法穿透鍍層而到達探測器。即厚度的任何進一步增加都不會導致更多的X射線到達探測器，因此厚度達到飽和無法測出變
選擇XRF技術的優勢介紹
相比其他分析技術，XRF具有許多優勢。 其速度較快。能夠測量多種類型的元素及其在不同類型材料中的含量濃度。此外，其屬于非破壞性技術，僅需制備少量樣品甚至完全不需要制備樣品，因此，其相比其他技術成本較低。 這也就是為什么全球這么多人選擇使用XRF技術進行日常的材料分析工作。
XRF檢測定性原理的相關介紹
X射線熒光光譜分析是指試樣中的元素受到足夠能量的激發后發射出特征X射線(熒光)，根據特征X射線的波長及其強度進行定性、定量分析的方法。 眾所周知，原子是由原子核和核外電子構成的，電子處在核外不同能級的殼層上，這些殼層自內向外依次稱為K(n＝1)層，L(n＝2)層，M(n＝3)層……當用具有足夠
XRF熔融制片方法的相關介紹
X射線熒光分析法是一種現代儀器分析方法，具有分析迅速、非破壞性分析、光譜不受化學狀態的影響、分析精度高、分析范圍廣（4Be～92U）、定性定量分析、樣品制備簡單等優點。 儀器裝置分為X射線發生裝置、分光裝置、計數記錄裝置。
XRF的分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。 c) 根據各元素的特征X射線的強
紅細胞分析技術的相關介紹
現行的血細胞分析儀一般可對白細胞進行分群或分類，但是對紅細胞的體積大小和每個紅細胞內血紅蛋白含量的多少進行分析和分群則是更加特殊的技術。早在上世紀80 年代開始Technicon 公司采用激光分析技術制作的血液分析儀就可以做到這些，目前BAYER ADVIA 120 也是唯一可對紅細胞的體積和色
XRF土壤分析儀的技術優勢
土壤分析測試儀主要優勢1便于使用?2該系統通過可在陽光直射下操作的 英寸彩色觸摸屏進行操作。界面易于導航，帶有即使戴著手套也可以使用的大圖標。只需最少的培訓即可操作該系統。3符合人體工程學的設計、9 公斤的輕質結構和 10-12 小時的長電池壽命意味著該系統可以長時間連續使用而疲勞程度低。?4增強的
XRF光譜分析技術對元素分析的作用
諸多元素分析人員都會選擇XRF光譜分析技術，因為它可以在PPM到100%的濃度變化范圍中確定元素成分并將其量化。 而且，它基本上不要求樣本準備工作，也不會破壞樣品， 徹底分析樣品得到測試結果的過程也非常短。 所有這些優點使得X熒光光譜分析技術與其它的元素分析技術相比大大地降低了樣品分析的單位成本
金屬元素分析XRF檢測技術解析
1895年，倫琴在研究陰極射線時偶然發現一種能穿透物質產生熒光的未知射線，并將它命名為X射線， 這一發現引起了許多物理學家的關注。1908年，物理學家Barkla發現物質被激發產生的X射線中含有兩種成分，除了原入射X射線外，還含有一種與元素有關的標識譜線成分，又稱為特征X射線。隨后，Barkla
XRF技術講解
X射線熒光光譜（XRF）技術是一項可用于確定各類材料成分構成的分析技術，已經成熟運用多年。其應用方向包括金屬合金、礦物、石化產品等等。 X射線形成部分電磁波譜。其處于紫外線輻射的高能側，使用千電子伏特表示能量高低，納米表示波長。 XRF一般可用于分析從鈉到鈾的所有元素，其可識別濃度范圍最低至
XRF合金分析儀的原理介紹
合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據X射線的發射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素構成。 每一個原子都有自己固定數量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道
X射線熒光分析技術的相關介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。 X射線熒光分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S
X射線熒光分析技術相關介紹
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的
能量色散－X－射線熒光－(ED－XRF)的相關介紹
能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 是用于元素分析應用的兩種通用型 X 射線熒光技術之一。在 EDXRF 光譜儀中，樣品中的所有元素都被同時激發，而能量色散檢測儀與多通道分析儀相結合，用于同時收集從樣品發射的熒光輻射，然后區分來自各個樣品元素的特性輻射的不同能量。EDXRF 系統的分辨率取決
XRF分析儀樣品制備中蒸發和冷凍干燥技術介紹
生物組織試樣常用的干燥方法是冷凍干燥法，讓生物樣品在冷凍狀態下用真空泵將水抽干。其優點是樣品在處理過程中不會被污染，待測元素不因揮發而損失，但設備昂貴、費時。也可以采用放在氧等離子體低溫干燥箱中灰化，低溫等離子是氣體在低壓于高頻電場的作用下產生的，在這種情況下，由于分子或原子間的間距大，加大了電
質譜分析技術電離源的相關介紹
電離源產生的不同離子之間能夠互相反應，使得電離的結果更加豐富而復雜。比如在EI的作用下能夠產生大量的離子，內能較大的離子在與中性分子（如He）碰撞時能夠自發裂解產生更多的碎片離子。這種離子-分子反應一般很難進行完全，往往在得到許多碎片離子的同時還保留著部分母體離子，不過，通過增加離子內能（如調節
XRD分析與XRF分析的異同
1，用途不同。XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測定晶體的結構的，而XRF是x射線熒光發射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測定原子序數小于Na的元素，定量測定的濃度范圍是常量、微量、
XRD分析與XRF分析的異同
1，用途不同。XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測定晶體的結構的，而XRF是x射線熒光發射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測定原子序數小于Na的元素，定量測定的濃度范圍是常量、微量、
XRD分析與XRF分析的異同
1，用途不同。XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測定晶體的結構的，而XRF是x射線熒光發射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測定原子序數小于Na的元素，定量測定的濃度范圍是常量、微量、
波長色散型和能量色散型XRF的相關介紹
不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射 線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。 因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型: 波長色
材料成分分析利器XRF－UniQuant－獨特的無標樣分析技術
XRF（X射線熒光光譜儀）已在各類材料分析中廣泛應用，然而，在實際樣品分析中，標樣的制備是決定分析結果準確程度的重要因素。賽默飛世爾科技的UniQuant無標樣技術則可以在不需要標樣的情況下進行任何尺寸、形狀和狀態樣品的快速定性、定量、非破壞性的元素分析。2011年4月28
XRF定量分析的基本信息介紹
X射線熒光光譜儀（XRF）是用于元素定量分析的儀器，廣泛應用于鋼鐵、水泥、石油化工、環境保護、材料等各個領域，其在制樣方便、無損、快速等方面優于其它分析方法，但其在定量精度和樣品適應范圍等方面一直受到挑戰。 當前XRF廣泛應用的領域往往具備三個特點：一是樣品基體相對穩定，二是分析元素種類有限，
關于XRF元素定量分析的問題介紹
1) 不同的元素激發和探測效率不同，有的元素很容易激發和檢測，有的元素很難激發和檢測，那么強度和含量的關系大不相同。 2) X射線熒光光譜分析中一個重要的難點是解決元素之間的吸收增強效應的問題。 最簡單的方法當然是采用標準樣品，通過檢測標準樣品的熒光強度，在熒光強度和含量之間通過最優化算法（
XRF分析銅合金主元素含量的方法技術研究
銅及其合金具有優良的導電、導熱、耐腐蝕等性能,銅合金中各元素含量不同直接影響銅合金的金屬性能。因此對銅合金的化學成分快速、準確的分析對銅合金的生產貿易及加工等都極為重要。采用X射線熒光分析方法分析銅合金具有分析速度快、檢測范圍廣、可現場原位無損分析等優點。本文以黃銅、青銅和白銅為重點采用X射線管激發
XRF分析銅合金主元素含量的方法技術研究
銅及其合金具有優良的導電、導熱、耐腐蝕等性能,銅合金中各元素含量不同直接影響銅合金的金屬性能。因此對銅合金的化學成分快速、準確的分析對銅合金的生產貿易及加工等都極為重要。采用X射線熒光分析方法分析銅合金具有分析速度快、檢測范圍廣、可現場原位無損分析等優點。本文以黃銅、青銅和白銅為重點采用X射線管激發