離子探針分析儀的基本原理簡介
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質離子探針分析儀基本原理譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。 被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過程可以看成是單個入射離子和組成固體的原子之間獨立的、一連串的碰撞所產生的。 右圖說明入射的一次離子與固體表面的碰撞情況。 入射離子一部分與表面發生彈性或非彈性碰撞后改變運動方向，飛向真空，這叫作一次離子散射（如圖中Ⅰ）；另外有一部分離子在單次碰撞中將其能量直接交給表面原子，并將表面原子逐出表面，使之以很高能量發射出去，這叫作反彈濺射（如圖中Ⅲ）；然而在表面上大量發生的是一次離子進入固體表面，并通過一系列的級聯碰撞而將其能量消耗在晶格上，最后注入到一定深度（通常為幾個原子層）。固體子受到碰撞，一旦獲得足夠的能量就會離開晶格點陣，并再次......閱讀全文
離子探針分析儀的基本原理簡介
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質離子探針分析儀基本原理譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。 被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過
離子探針分析儀簡介
離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表面，使之激發和濺射二次離子，經過加速和質譜分析，分析區域可
離子探針分析儀基本原理
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過程可以看成是單個入射離子和組成
離子探針分析儀基本原理
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過程可以看成是單個入射離子和組成
關于離子探針質量顯微分析儀的簡介
離子探針質量顯微分析儀（ion microprobemass analyzer）,以聚焦很細（1～2 微米）的高能（10～20 千電子伏）一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子并引入質量分析器，按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器，簡稱離子探針。
離子探針分析儀應用
離子探針分析儀應用由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同
離子探針分析儀應用
目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的深度濃度 分布最有效的表面分析工
離子探針分析儀特點
離子探針分析儀有以下幾個特點：1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。4. 可作同位素
離子探針分析儀的應用概述
由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究： 1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。 2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的
離子探針分析儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），
離子探針分析儀儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），
離子探針分析儀的組成結構介紹
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。 ① 一次離子發射系統 一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、
離子探針質量顯微分析儀
離子探針質量顯微分析儀ion microprobe mass analyzer以聚焦很細(1～2微米)的高能(10～20千電子伏)一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子并引入質量分析器，按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器，簡稱離子探針。簡史 應用離子照射樣品產生二
請問離子探針分析儀有哪些特點？
SISM有以下幾個特點： 1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。 2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。 3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。 4
離子分析儀簡介
離子分析儀是用來同時檢測樣本中檢測氟離子、硝酸根、PH、水硬度（Ca2+、Mg2+離子）的儀器。國產儀器中有同時檢測氟離子、硝酸根、PH、水硬度（Ca2+、Mg2+離子）、K+、Na+等離子。樣本可以是礦泉水、自來水、純凈水、海水、江河湖泊水等。 元素離子分析元素離子分析是指根據樣品不同特點選
離子探針方法
離子探針方法是將質譜測定技術與離子發射顯微鏡技術相結合的現代儀器分析方法。能提供一般質譜分析所不能提供的試樣微區質譜。由于它能對固體物質作微區、微量及深度成分分析，在某些條件下檢測靈敏度可達ppb數量級，因此被廣泛地應用于半導體、冶金、地質和生物研究等部門。其原理是利用聚焦的高能一次離子束轟擊試樣表
離子探針原理
離子探針(IMA)的基本原理是，用高能負氧離子轟擊樣品表面，測定被飛濺活化出來并發生電離的原子（即離子）的同位素組成，以獲得年齡。為一種得到迅猛發展的新型質譜計，它具有許多其他測年方法所沒有的優點：不需要化學處理；具有高的分辨率，可同時獲得幾組年齡以確定被測對象同位素體系是否封閉，有無鉛丟失；可對樣
合金分析儀的基本原理簡介
在XRF分析法中，從X光發射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將最里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩定的離子。由于電子本能會尋求穩定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之
關于離子探針質量顯微分析儀的展望介紹
離子探針質量顯微分析儀的展望：離子探針作為一個具有分析微量元素的高靈敏度的微區分析方法正在迅速發展。但是，由于二次離子濺射機理較為復雜，定量分析仍存在許多問題。今后發展和改進的主要方向是：提高質譜分辨率，以減少和排除二次離子質譜干擾；實現多種質譜粒子探測，以獲得樣品和多種粒子的信息和資料；定量分
關于離子探針質量顯微分析儀的儀器介紹
離子探針質量顯微分析儀主要包括四部分： ①能夠產生加速和聚焦一次離子束的離子源； ②樣品室和二次離子引出裝置； ③能把二次離子按質荷比分離的質量分析器； ④二次離子檢測和顯示系統及計算機數據處理系統等。 應用：元素檢測、能檢測包括氫在內的、元素周期表上的全部元素，對不同的元素，檢測靈敏
關于離子探針質量顯微分析儀的簡史介紹
應用離子照射樣品產生二次離子的基礎研究工作最初是R.H.斯隆（1938）和R.F.K.赫佐格（1949）等人進行的。1962 年R.卡斯塔因和G.斯洛贊在質譜法和離子顯微技術基礎上研制成了直接成像式離子質量分析器。1967 年H.利布爾在電子探針概念的基礎上，用離子束代替電子束，以質譜儀（見質譜
關于離子探針質量顯微分析儀的分析介紹
1、離子探針質量顯微分析儀的深度分析： 作動態分析時，在一次離子束剝蝕作用下，樣品成分及其濃度將隨剝蝕時間而變化，因而得到了樣品深度-濃度分布曲線。離子探針在半導體材料中對控制雜質元素注入量和注入深度及濃度分布上起著重要作用。還以其橫向分辨率為1～2 微米、深度分辨率為50～100 埃的本領，
氟離子分析儀簡介
氟離子分析儀是采用離子選擇電極法，專門用于測量氟離子的在線監測儀、實驗室檢測儀。適合于含有氟離子的場合，檢測氟離子的數值。通常所謂離子選擇電極，是指帶有敏感膜的、能對離子或分子態物質有選擇性響應的電極，使用此類電極的分析法屬于電化學分析中的電位分析法。離子選擇電極法是70年代發展起來的技術，國際
離子分析儀的工作原理簡介
離子分析儀主要采用離子選擇電極測量法來實現精確檢測的。儀器上的電極：氟、鈉、鉀、離子鈣、鎂、和參比電極。每個電極都有一離子選擇膜，會與被測樣本中相應的離子產生反應，膜是一離子交換器，與離子電荷發生反應而改變了膜電勢，就可檢測液，樣本和膜間的電勢。膜兩邊被檢測的兩個電勢差值會產生電流，樣本，參考電
簡介氟離子分析儀的用途
氟是人體所必需的微量元素。我們每天的飲水、食物、化妝品和牙膏等均含不同程度的各種氟化物。通常情況下，人體內的氟直接來自飲水、食物和空氣。成年人體內氟的總含量約為2.57g，其中96%以上蓄積在骨和齒等硬組織中。人群流行病學調查及動物試驗研究已經證明，氟是機體的必需微量元素，但攝入過多會對機體造成
離子分析儀的研究過程簡介
電極溶液中被測離子接觸電極時，在離子選擇電極膜基質的含水層內發生離子遷移。遷移離子的電荷改變存在著電勢，因而使膜面間的電位發生變化；在測量電極與參比電極間產生一個電位差。理想的離子選擇性電極對溶液中所要測定的離子產生的電位差，應符合能斯特（Nernst）方程： E=E0+ log10a(x)
RNA探針的簡介
許多載體如pBluescript, pGEM等均帶有來自噬菌體SP6或E.coli噬菌體T7或T3的啟動子,它們能特異性地被各自噬菌體編碼的依賴于DNA的RNA聚合酶所識別,合成特異性的RNA。在反應體系中若加入經標記的NTP,則可合成RNA探針。RNA探針一般都是單鏈,它具有單鏈DNA探針的優
基因探針的簡介
基因探針,即核酸探針,是一段帶有檢測標記,且順序已知的,與目的基因互補的核酸序列(DNA或RNA)。基因探針通過分子雜交與目的基因結合,產生雜交信號,能從浩瀚的基因組中把目的基因顯示出來。根據雜交原理,作為探針的核酸序列至少必須具備以下兩個條件：①應是單鏈,若為雙鏈,必須先行變性處理。②應帶有容
鈣離子熒光探針：比值型熒光探針
前面我們介紹了熒光指示劑法可以將Ca2+檢測的實驗與其他技術結合使用，如可以與流式細胞儀、熒光分光光度計、或者熒光顯微鏡進行聯合檢測 。紫外光型主要包括Quin-2、Indo-1、Fura-2等，數量較少，可見光型數目較多，包括Fluo-3、鈣黃綠素、Rhod-2等。熒光指示劑根據測光原理和數據
詳述離子探針分析儀在各方面的應用
（1）在半導體材料方面的應用 由于半導體材料純度要求很高，要求分析的區域最小，迫切要求做表面分析和深度分析，因此也是最適合離子探針發揮作用的領域，其中有代表性的工作有： ? 表面、界面和體材料的雜質分析 ? 離子注入濃度及摻雜的測定 ? 在實效分析方面的應用 （2）在金屬材料方面的應用