離子探針分析儀特點
離子探針分析儀有以下幾個特點：1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。4. 可作同位素分析。......閱讀全文
離子探針分析儀特點
離子探針分析儀有以下幾個特點：1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。4. 可作同位素
請問離子探針分析儀有哪些特點？
SISM有以下幾個特點： 1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。 2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。 3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。 4
離子探針分析儀應用
離子探針分析儀應用由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同
離子探針分析儀應用
目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的深度濃度 分布最有效的表面分析工
離子探針分析儀簡介
離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表面，使之激發和濺射二次離子，經過加速和質譜分析，分析區域可
離子探針分析儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），
離子探針分析儀儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），
離子探針質量顯微分析儀
離子探針質量顯微分析儀ion microprobe mass analyzer以聚焦很細(1～2微米)的高能(10～20千電子伏)一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子并引入質量分析器，按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器，簡稱離子探針。簡史 應用離子照射樣品產生二
離子探針分析儀的應用概述
由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究： 1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。 2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的
離子探針分析儀的組成結構介紹
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。 ① 一次離子發射系統 一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、
離子探針分析儀基本原理
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過程可以看成是單個入射離子和組成
離子探針分析儀基本原理
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過程可以看成是單個入射離子和組成
離子探針產品介紹、特點和應用領域
離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測極限
離子探針方法
離子探針方法是將質譜測定技術與離子發射顯微鏡技術相結合的現代儀器分析方法。能提供一般質譜分析所不能提供的試樣微區質譜。由于它能對固體物質作微區、微量及深度成分分析，在某些條件下檢測靈敏度可達ppb數量級，因此被廣泛地應用于半導體、冶金、地質和生物研究等部門。其原理是利用聚焦的高能一次離子束轟擊試樣表
離子探針原理
離子探針(IMA)的基本原理是，用高能負氧離子轟擊樣品表面，測定被飛濺活化出來并發生電離的原子（即離子）的同位素組成，以獲得年齡。為一種得到迅猛發展的新型質譜計，它具有許多其他測年方法所沒有的優點：不需要化學處理；具有高的分辨率，可同時獲得幾組年齡以確定被測對象同位素體系是否封閉，有無鉛丟失；可對樣
關于離子探針質量顯微分析儀的簡介
離子探針質量顯微分析儀（ion microprobemass analyzer）,以聚焦很細（1～2 微米）的高能（10～20 千電子伏）一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子并引入質量分析器，按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器，簡稱離子探針。
離子探針分析儀的基本原理簡介
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質離子探針分析儀基本原理譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。 被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過
鈣離子熒光探針：比值型熒光探針
前面我們介紹了熒光指示劑法可以將Ca2+檢測的實驗與其他技術結合使用，如可以與流式細胞儀、熒光分光光度計、或者熒光顯微鏡進行聯合檢測 。紫外光型主要包括Quin-2、Indo-1、Fura-2等，數量較少，可見光型數目較多，包括Fluo-3、鈣黃綠素、Rhod-2等。熒光指示劑根據測光原理和數據
質譜儀離子探針質譜儀產品介紹、特點和應用領域
離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測極限
關于離子探針質量顯微分析儀的展望介紹
離子探針質量顯微分析儀的展望：離子探針作為一個具有分析微量元素的高靈敏度的微區分析方法正在迅速發展。但是，由于二次離子濺射機理較為復雜，定量分析仍存在許多問題。今后發展和改進的主要方向是：提高質譜分辨率，以減少和排除二次離子質譜干擾；實現多種質譜粒子探測，以獲得樣品和多種粒子的信息和資料；定量分
詳述離子探針分析儀在各方面的應用
（1）在半導體材料方面的應用 由于半導體材料純度要求很高，要求分析的區域最小，迫切要求做表面分析和深度分析，因此也是最適合離子探針發揮作用的領域，其中有代表性的工作有： ? 表面、界面和體材料的雜質分析 ? 離子注入濃度及摻雜的測定 ? 在實效分析方面的應用 （2）在金屬材料方面的應用
關于離子探針質量顯微分析儀的儀器介紹
離子探針質量顯微分析儀主要包括四部分： ①能夠產生加速和聚焦一次離子束的離子源； ②樣品室和二次離子引出裝置； ③能把二次離子按質荷比分離的質量分析器； ④二次離子檢測和顯示系統及計算機數據處理系統等。 應用：元素檢測、能檢測包括氫在內的、元素周期表上的全部元素，對不同的元素，檢測靈敏
關于離子探針質量顯微分析儀的簡史介紹
應用離子照射樣品產生二次離子的基礎研究工作最初是R.H.斯隆（1938）和R.F.K.赫佐格（1949）等人進行的。1962 年R.卡斯塔因和G.斯洛贊在質譜法和離子顯微技術基礎上研制成了直接成像式離子質量分析器。1967 年H.利布爾在電子探針概念的基礎上，用離子束代替電子束，以質譜儀（見質譜
關于離子探針質量顯微分析儀的分析介紹
1、離子探針質量顯微分析儀的深度分析： 作動態分析時，在一次離子束剝蝕作用下，樣品成分及其濃度將隨剝蝕時間而變化，因而得到了樣品深度-濃度分布曲線。離子探針在半導體材料中對控制雜質元素注入量和注入深度及濃度分布上起著重要作用。還以其橫向分辨率為1～2 微米、深度分辨率為50～100 埃的本領，
水泥氯離子分析儀特點
水泥氯離子分析儀特點：●分析速度快，單個樣品測定在10分鐘內完成。●分析精度高、分析結果偏差小于標準要求的誤差。●應用范圍廣，可用于水泥成品、半成品及原料的測定，也可用于水泥，砼無機外加劑的測定。●也可用于水泥及其它原料中氯的測定。
北京離子探針中心離子探針質譜儀器研發進入攻堅階段
2010年1月16-17日，由北京離子探針中心主辦的“2009北京SHRIMP成果報告會”在京隆重舉行。中國科學院多位院士、政府相關部門負責人以及來自全國各地的地學界同仁等約100人出席了開幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流會”已經成為中國地學界同仁們進行學術交
離子分析儀的性能特點介紹
1、全自動系統2點定標，性能穩定測值精確。 2、可全天候對樣本進行檢測，24小時實時監控，并可任意設置時間段保存并打印結果。 3、可多參數/單/多項（氟離子、硝酸根、PH、水硬度（Ca2+、Mg2+離子）、K+、Na+等離子）同時檢測并打印結果，測試速度快（>60秒/次） 4、全中文操作界
氟離子分析儀的技術特點
氟離子分析儀是采用離子選擇電極法，專門用于測量氟離子的在線監測儀、實驗室檢測儀。適合于含有氟離子的場合，檢測氟離子的數值。 通常所謂離子選擇電極，是指帶有敏感膜的、能對離子或分子態物質有選擇性響應的電極，使用此類電極的分析法屬于電化學分析中的電位分析法。 離子選擇電極法是70年
鐵離子分析儀主要特點
鐵離子分析儀是供火力發電廠、核發電廠、石油、化工等相關行業對其鍋爐給水、蒸汽、凝結水、水內冷發電機冷卻水和爐水中的鐵離子濃度測定的必備儀表。鐵離子分析儀測定依據GB/T14427-93“鍋爐用水和冷卻水分析方法——鐵的測定”，即采用1,10－菲羅啉光度法。鐵離子分析儀具有不工作時的待機功能，對光
常見RNA探針及其特點
常見RNA探針及其特點：RNA探針是指帶有標記的能與組織內相對應的核苷酸序列互補結合的一段單鏈cDNA或cRNA分子。根據在RNA雜交中所使用的探針依其來源可分為三種：即特異性cDNA、cRNA探針和人工合成寡核苷酸探針。?cRNA探針：是以cDNA為模板，通過體外轉錄而獲得的。因為它是一種單鏈探針