電子探針，有幾種類型
何為電子探針，有幾種類型電子探針是一種分析儀器，可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。該儀器將高度聚焦的電子束聚焦在礦物上，激發組成礦物元素的特征X射線。用分光器或檢波器測定熒光X射線的波長，并將其強度與標準樣品對比，或根據不同強度校正直接計數出組分含量。電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析。可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量（預置9999測試點）定量分析。由于電子探針技術具有操作迅速簡便（相對復雜的化學分析方法而言）、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優點，故在冶金、地質、電子材料、生物、醫學、考古以及其它領域中得到日益廣泛地應用，是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具。......閱讀全文
掃描電鏡與電子探針的區別
掃描電鏡和電子探針的根本區別在于電子束流:電子探針的束流(指打在樣品表面的電流)要比掃描電鏡大幾個數量級.由此造成:電子探針的空間分辨率差,二次電子和背散射電子分辨率差.如果要求不高, 電子探針可以當作掃描來用.
為什么電子探針要使用拋光樣品
簡單來說 就是電子束從樣品里面岀射時會被樣品吸收一部分能量，對應一定的吸收距離，樣品表面平整的話就有統一的吸收距離，則可統一修正，簡單的如ZAF修正。如果樣品表面不平整，則打在不同地方電子束的吸收距離不同，那么原來統一的修正顯然不再適合。
電子探針分析的X射線能譜法
本文介紹了使用硅(鋰)檢測器進行定量電子探針分析的一種方法,這種方法使用了背景模擬技術及其它技術中的電荷收集不完全和電子噪聲的校正。輕元素分析的改進對硅酸鹽樣品是特別有利的,使之盡可能采用純金屬作分析標樣。這種方法已被用于各種地球化學樣品的分析中(包括用JG—1和JB—1巖石做成的玻璃)。與濕式化學
關于電子探針的定性分析方法介紹
1. 定點分析： 將電子束固定在要分析的微區上，用波譜儀分析時，改變分光晶體和探測器的位置，即可得到分析點的X射線譜線；用能譜儀分析時，幾分鐘內即可直接從熒光屏（或計算機）上得到微區內全部元素的譜線。 鎂合金中的析出相CaMgSi的鑒別 Spectrum1 位置析出相富含Ca、Mg、Si元
什么是電子探針顯微分析儀
電子探針顯微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全稱：電子探針x射線顯微分析，是一種顯微分析和成分分析相結合的微區分析。適用于分析試樣中微小區域的化學成分，是研究材料組織結構和元素分布狀態的有效方法。 電子探針顯微分析是利用聚焦電子束（電子探測針）照
電子探針X射線顯微分析儀概述
電子探針可以對試樣中微小區域微米的化學組成進行定性或定量分析，除做微區成分分析外，還能觀察和研究微觀形貌、晶體結構等。電子探針技術具有操作迅速簡便、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優點，在冶金、地質、土壤、生物、醫學、考古以及其他領域中得到日益廣泛應用，是土壤和礦物測
電子探針X射線顯微分析儀概述
電子探針X射線顯微分析儀(Electron probe X-raymicroanalyser , EPMA )的簡稱為電子探針 。在眾多樣品化學成分分析的儀器中，電子探針分析技術(EPMA)是一種應用較早、且至今仍具有獨特魅力的多元素分析技術。 二戰以來，世界經濟和社會的迅猛發展極大的促進了科
電子探針X射線顯微分析儀簡介
電子探針X射線顯微分析儀，簡稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特征X射線，并根據X射線的波長和強度，對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理儀器。電子探針分析的原理是以電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補空位而釋放能量，從
電子探針儀與掃描電鏡有何異同？
電子探針儀，學名應該是掃描隧道顯微鏡（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一個針尖在離樣品表面極近的位置慢慢劃過，樣品和針尖上加有恒定電壓，隨著針尖和樣品起伏不平的表面原子距離的改變，二者間的電流會有變化，記錄這個電流的變化進行處理后，可以得到表面的形
電子探針顯微鏡之不損壞試樣探測
現在電子探針均與計算機聯機，可以連續自動進行多種方法分析，并自動進行數據處理 和數據分析，對含 10 個元素以下的樣品定性、定量分析，新型電子探針在 30min 左右可以 完成，如果用 EDS 進行定性、定量分析，幾 min 即可完成。對表面不平的大樣品進行元素 面分析時，現在可以自動聚焦分析
電子探針顯微鏡之元素分析范圍廣
電子探針所分析的元素范圍從硼(B)——鈾(Ｕ)，因為電子探針成份分析是利用元素的特 征 X 射線，而氫和氦原子只有 K 層電子，不能產生特征 X 射線， 所以無法進行電子探針 成分分析。鋰(Li)和鈹(Be)雖然能產生 X 射線，但產生的特征 X 射線波長太長，通常無法進 行檢測，少數電子探針
電子探針X射線微區分析的工作原理
電子探針（Electron Probe Microanalysis-EPMA）的主要功能是進行微區成分分析。它是在電子光學和X射線光譜學原理的基礎上發展起來的一種高效率分析儀器。 其原理是：用細聚焦電子束入射樣品表面，激發出樣品元素的特征X射線，分析特征X射線的波長（或能量）可知元素種類；分析
礦物的成分測試方法（電子探針顯微分析）
電子探針X射線顯微分析儀（EPM），簡稱電子探針，是一種現代成分分析儀器。由于它可以獲得礦物微米量級微區內的化學成分，并且無需分離和破壞樣品，費用也不高，尤其是對于那些含量少、顆粒微小以及成分不均勻樣品的成分分析，提供了有效的分析方法，因此目前在礦物成分研究中應用最廣。它除了可以給出一個微區的成分外
掃描電鏡SEM與電子探針EPMA對比總結
一、EPMA相對于SEM，(平臺方面)：1.可以大束流，計數率與束流成正比；2.束流控制和穩定性更好；3.EPMA有光學顯微鏡控制樣品高度。二、EPMA(WDS)與EDS，(EPMA標配WDS，SEM選配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一個數量級；2.EPMA的靈敏度優于EDS，測試微量元素時
掃描電鏡SEM與電子探針EPMA對比總結
一、EPMA相對于SEM，(平臺方面)：1.可以大束流，計數率與束流成正比；2.束流控制和穩定性更好；3.EPMA有光學顯微鏡控制樣品高度。二、EPMA(WDS)與EDS，(EPMA標配WDS，SEM選配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一個數量級；2.EPMA的靈敏度優于EDS，測試微量元素時
電子探針儀與掃描電鏡有何異同
透射電子顯微鏡 (transmission electron microscopy﹐簡寫為TEM)。 構造原理 ： 電子顯微鏡的構造原理與光學顯微鏡相似﹐主要由照明系統和成像系統構成(圖1 光學顯微鏡與電子顯微鏡的對比 )。照明系統包括電子槍和聚光鏡。鎢絲在真空中加熱并在電場的作用下發射出電
電子探針儀與掃描電鏡有何異同
二者最主要的不同是其工作原理不同。電子探針儀，學名應該是掃描隧道顯微鏡（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一個針尖在離樣品表面極近的位置慢慢劃過，樣品和針尖上加有恒定電壓，隨著針尖和樣品起伏不平的表面原子距離的改變，二者間的電流會有變化，記錄這個電流的變
電子探針顯微鏡之顯微結構分析
電子探針是利用 0.5μm－1μm 的高能電子束激發待分析的樣品，通過電子與樣品的相 互作用產生的特征 X 射線、二次電子、吸收電子、 背散射電子及陰極熒光等信息來分析樣 品的微區內(μm 范圍內)成份、形貌和化學結合狀態等特征。電子探針是幾個μm 范圍內的 微區分析， 微區分析是它的一個重要
電子薄膜的電子探針能譜分析技術研究
對于電子薄膜材料研究,薄膜的微觀結構、成分和厚度是決定薄膜性能的一個關鍵因素。如何表征薄膜的微觀結構、成分和厚度也一直是薄膜研究領域的一個重要課題,尤其是應用無損表征方法。掃描電子顯微鏡配備X射線能譜儀分析技術（電子探針能譜）能夠觀察微觀形貌和分析薄膜的微區成分的同時,根據電子束的穿透深度可測量薄膜
電子探針能譜儀分析結果受哪些因素
X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域.?X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器，廣泛應用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業。它是當今國內
關于電子探針X射線微區分析的線分析
使入射電子束在樣品表面沿選定的直線掃描，譜儀固定接收某一元素的特征X射線信號，其強度在這一直線上的變化曲線可以反映被測元素在此直線上的濃度分布，線分析法較適合于分析各類界面附近的成分分布和元素擴散。 實驗時，首先在樣品上選定的區域拍照一張背散射電子像(或二次電子像)，再把線分析的位置和線分析
電子探針在鑒別黃金飾品中有何作用？
??????K金首飾的成色鑒定，古老的方法是試金石（比色）與比重法，這雖然可以大致確定首飾的含金量，但只是一種近似方法。化學法雖具較高精確度，但耗時，破壞樣品，且只能測定金的含量。使用電子探針檢測K金首飾可彌補上述不足，因它不僅不破壞樣品，而且分析速度快，準確度高，可同時檢測K金中各種成分含量。
電子探針顯微分析的兩種掃描方式
電子探針分析有兩種掃描方式：線掃描分析和面掃描分析。 （1）線掃面分析 使聚焦電子束在試樣觀察區內沿一選定直線（穿越粒子或界面）進行慢掃描。 X射線譜儀處于探測某已知元素特征X射線狀態，得出反映該元素含量變化的特征X射線強度沿試樣掃描線的分布。 X射線譜儀處于探測未知元素狀態，得出沿掃描
簡介電子探針X射線微區分析的實驗條件
(1) 樣品 樣品表面要求平整，必須進行拋光；樣品應具有良好的導電性，對于不導電的樣品，表面需噴鍍一層不含分析元素的薄膜。實驗時要準確調整樣品的高度，使樣品分析表面位于分光譜儀聚焦圓的圓周上。 (2) 加速電壓 電子探針電子槍的加速電壓一般為3～50kV，分析過程中加速電壓的選擇應考慮待分
電子探針X射線微區分析的相關內容
電子探針X射線微區分析(EPMA)Electron Probe X-ray Microanalysis是用聚焦極細的電子束轟擊固體的表面，并根據微區內所發射出X射線的波長（ 或能量）和強度進行定性和定量分析的方法。主要功能是進行微區成分分析。它是在電子光學和X射線光譜學原理的基礎上發展起來的一種
電子探針X射線微區分析能譜儀分析特點
具有以下優點（與波譜儀相比） 能譜儀探測X射線的效率高。 在同一時間對分析點內所有元素X射線光子的能量進行測定和計數，在幾分鐘內可得到定性分析結果，而波譜儀只能逐個測量每種元素特征波長。 結構簡單，穩定性和重現性都很好（因為無機械傳動），不必聚焦，對樣品表面無特殊要求，適于粗糙表面分析。
納米級電子探針進行溫度測量－－溫度高達1300度
?? 美國能源部科學辦公室發布消息，能源部橡樹嶺國家實驗室的研究團隊發現了一種測量納米尺度局部溫度的新方法。其題為“基于能量增益損耗光譜學利用納米級電子探針進行溫度測量”的論文發表在《物理評論快報》上。圖片來源網絡 這項研究使用新型設備“高能量分辨率單色電子能量增益損失譜掃描透射電子顯微鏡（H
島津電子探針用戶會暨新品發布會邀請函
2010年島津公司電子探針(EPMA)用戶會暨新品發布會 邀 請 函 ? 尊貴的島津電子探針用戶： 為促進島津公司的電子探針用戶之間的相互溝通，就電子探針的分析原理、分析技術和分析方法進行廣泛而深入的技術交流，并介紹島津公司電子探針的最新產品EPMA-1720及其應用的
關于電子探針X射線微區分析面分析的相關介紹
使入射電子束在樣品表面選定的微區內作光柵掃描，譜儀固定接收某一元素的特征X射線信號，并以此調制熒光屏的亮度，可獲得樣品微區內被測元素的分布狀態。元素的面分布圖像可以清晰地顯示與基體成分存在差別的第二相和夾雜物，能夠定性地顯示微區內某元素的偏析情況。在顯示元素特征X射線強度的面分布圖像中，較亮的區
電子探針X射線顯微分析儀的陰極發光介紹
陰極發光是指晶體物質在高能電子的照射下，發射出可見光紅外或紫外光的現像。陰極發光現象和發光能力、波長等均與材料基體物質種類和含量有關。陰極發光效應對樣品中少量元素分布非常敏感，可以作為電子探針微區分析的一個補充，根據發光顏色或分光后檢測波長即可進行元素分析。從陰極發光的強度差異還可以判斷一些礦物