超高發射掃描顯微鏡共享
儀器名稱：超高發射掃描顯微鏡儀器編號：16026031產地：日本生產廠家：HITACHI型號：SU8010出廠日期：201512購置日期：201609所屬單位：電機系>高電壓實驗室放置地點：高壓館106固定電話：固定手機：固定email：聯系人：何金良（010-62775585,13601024327,hejl@tsinghua.edu.cn）高勝友（010-62794807,13691484232,eeagsy@tsinghua.edu.cn）分類標簽：顯微鏡技術指標：辨率：1.0nm (15 kV)； 1.4nm(1 kV, WD = 1.5mm, 減速模式)；2.0nm (1 kV, WD = 1.5mm, 普通模式） 放大倍數：30倍-800,000倍 ； 電子槍：冷陰極場發射電子源 ; 加速電壓:0.5-30kV (0.1KV/步，可變，普通模式) ......閱讀全文
超高發射掃描顯微鏡共享
儀器名稱：超高發射掃描顯微鏡儀器編號：16026031產地：日本生產廠家：HITACHI型號：SU8010出廠日期：201512購置日期：201609所屬單位：電機系>高電壓實驗室放置地點：高壓館106固定電話：固定手機：固定email：聯系人：何金良（010-62775585,1360102432
冷場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：冷場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16003996產地：日本生產廠家：日立型號：SU-8010出廠日期：2014.1購置日期：201603所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：清華大學理科樓D120房間固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-62783586
蔡司－場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
日立－SU－8600冷場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：日立 SU 8600冷場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：A23000168產地：日本生產廠家：日立型號：SU8600出廠日期：購置日期：20231218所屬單位：醫研院>生物醫學測試中心>細胞生物學平臺>細胞平臺電鏡機組放置地點：醫學科學樓C117固定電話：010-62799346固定手機：固
蔡司－高分辨場發射掃描電子顯微鏡共享
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
掃描探針顯微鏡共享
儀器名稱：掃描探針顯微鏡儀器編號：04001035產地：美國生產廠家：美國維易科精密公司型號：DI-3100出廠日期：200307購置日期：200402所屬單位：航院>強度與振動中心>電鏡室放置地點：103-105固定電話：固定手機：固定email：聯系人：華心（010-62772379,13701
掃描探針顯微鏡共享
儀器名稱：掃描探針顯微鏡儀器編號：05017496產地：日本生產廠家：日本精工公司型號：SPI4000/SPA300HV出廠日期：200410購置日期：200512所屬單位：材料學院>新型陶瓷國家重點實驗室>王曉慧實驗室放置地點：逸夫樓2202固定電話：固定手機：固定email：聯系人：張輝（010
高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡共享應用
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
FEI－場發射環境掃描電鏡共享
儀器名稱：場發射環境掃描電鏡儀器編號：06011403產地：荷蘭生產廠家：FEI型號：QUANTA 200 FEG出廠日期：200607購置日期：200611所屬單位：機械系>摩擦學國家重點實驗室>SEM FIB放置地點：李兆基科技大樓A510室固定電話：010-62772522固定手機：固定ema
FEI熱場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：熱場發射掃描電鏡儀器編號：15008701產地：捷克生產廠家：FEI Company型號：Quanta 450 FEG出廠日期：201505購置日期：201505所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>測試與分析放置地點：微納平臺光刻間固定電話：01062784044-216固定手機：135
超高真空掃描探針顯微鏡
超高真空掃描探針顯微鏡是一種用于材料科學、物理學領域的分析儀器，于2011年12月15日啟用。 1、技術指標 工作溫度為室溫，樣品粗定位范圍>6 mm×6 mm，單管掃描范圍>6 μm×6 μm×2 μm。STM模式下可實現Si（1 1 1）和Au（1 1 1）表面的原子分辨；AFM接觸模式
JEOL－JSM－6301F場發射掃描電子顯微鏡－共享
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：
場發射掃描電子顯微鏡－JEOL－JSM－6301F共享
儀器名稱：場發射掃描電子顯微鏡 JEOL JSM 6301F儀器編號：98075000產地：日本生產廠家：日本電子型號：JSM-6301F出廠日期：199707購置日期：199803所屬單位：材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點：清華大學主樓東配樓十一區118室固定電話：固定手機：固定email：
JEOL日本電子場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
ZEISS高分辨場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：高分辨場發射掃描電鏡儀器編號：20009957產地：英國生產廠家：ZEISS型號：GeminiSEM 300出廠日期：購置日期：2020-08-26所屬單位：集成電路學院>微納加工平臺>測試與分析放置地點：微電子與納電子學系一層微納加工平臺固定電話：01062784044-216固定手機：
清華大學儀器共享平臺日立冷場發射掃描電子顯微鏡
儀器名稱：冷場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16003996產地：日本生產廠家：日立型號：SU-8010出廠日期：2014.1購置日期：201603所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：清華大學理科樓D120房間固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-62783586
清華大學儀器共享平臺日立－冷場發射掃描電子顯微鏡
儀器名稱：冷場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16003996產地：日本生產廠家：日立型號：SU-8010出廠日期：2014.1購置日期：201603所屬單位：化學系>分析中心>北京電子能譜中心放置地點：清華大學理科樓D120房間固定電話：固定手機：固定email：聯系人：郭沖（010-62783586
深圳大學超高分辨場發射掃描電子顯微鏡招標采購
項目概況 深圳大學超高分辨場發射掃描電子顯微鏡采購招標項目的潛在投標人應在（本公告附件中）獲取招標文件，并于2025年04月28日 08:30（北京時間）前遞交投標文件。 一、項目基本情況： 項目編號：SZCG2025000274 2.項目名稱：深圳大學超高分辨場發射掃描電子顯微鏡采購
快速掃描原子力顯微鏡共享
儀器名稱：快速掃描原子力顯微鏡儀器編號：17034320產地：美國生產廠家：牛津儀器公司型號：CYPHER出廠日期：購置日期：2017-12-25所屬單位：材料學院>新型陶瓷國家重點實驗室>顯微結構與成分表征>顯微結構與成分放置地點：清華大學逸夫科技樓2212室固定電話：劉老師，010-627876
激光掃描共聚焦顯微鏡共享
儀器名稱：激光掃描共聚焦顯微鏡儀器編號：A23000005產地：日本生產廠家：Olympus型號：FV3000RS出廠日期：20230216購置日期：20230216所屬單位：化學系>分析中心>光學顯微成像放置地點：清華大學生命科學館141固定電話：01062771139固定手機：131216495
JEOL日本電子場發射掃描電鏡共享應用
儀器名稱：JEOL日本電子場發射掃描電鏡儀器編號：A14000001產地：生產廠家：型號：出廠日期：購置日期：所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫科技樓B112室固定電話：62773810固定手機：固定email：聯系人：付惟琛（010-627711
Zeiss－Merlin高性能場發射掃描電鏡共享
儀器名稱：高性能場發射掃描電鏡 Zeiss Merlin儀器編號：16005773產地：德國生產廠家：Zeiss型號：Merlin出廠日期：201306購置日期：201603樣品要求：常規樣品：1.類型：固體、真空下無揮發物；??????????????? 2.尺寸：一般直徑小于80mm，高度小于3
JSM7600F超高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡樣本
JSM-7600F超高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡1號
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡1號
儀器名稱：1號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：16032505產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin Compact出廠日期：201411購置日期：201611所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡2號
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡3號
儀器名稱：3號高分辨蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：17023948產地：中國生產廠家：蔡司型號：GEMINISEM 500出廠日期：2017.2購置日期：201709所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A125固定電話：62795910固定手機
清華大學儀器共享平臺蔡司場發射掃描電子顯微鏡2號
儀器名稱：2號蔡司場發射掃描電子顯微鏡儀器編號：14013319產地：德國生產廠家：蔡司型號：Merlin出廠日期：2013.9購置日期：201407所屬單位：材料學院>材料中心 >逸夫樓部分>掃描電子顯微鏡（SEM）分室放置地點：逸夫樓A123固定電話：62795910固定手機：固定email：聯