簡述能譜儀的性質指標
固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好 檢出角：理論上該角度越大越好 探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步取代鋰硅Si(Li)探測器 能量分辨力：最高級別的能譜儀分辨力可達121eV 探測元素范圍：Be4～U92......閱讀全文
簡述能譜儀的性質指標
固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好 檢出角：理論上該角度越大越好 探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步取代鋰硅Si(Li)探測器 能量分辨力：最高級別的能譜儀分辨力可達121eV 探測元素范圍：Be4～U92
能譜儀性能指標
固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好檢出角：理論上該角度越大越好探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步取代鋰硅Si(Li)探測器能量分辨力：目前最高級別的能譜儀分辨力可達121eV探測元素范圍：Be4～U92
簡述能譜儀的基本原理
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。 各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量
簡述電子能譜儀的主要用途
電子能譜儀主要用途： 1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析； 2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定； 3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測； 4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；
什么是能譜儀？能譜儀的原理簡介
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。 原理 各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子
能譜儀
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。
能譜儀
原理編輯各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一?[1]??特點來進行成分分析的。性能指標編輯固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好檢出角：理論上該角度越大越好探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步
能譜儀用途
簡單說，就是根據射線粒子的能量，來分析物質的成份、含量。如γ射線能譜儀主要根據射線的能量判定核素，并分析放射性核素含量，在環境檢測、輻射防護、反應堆監控等廣泛應用。
?能譜儀EDS
能譜儀EDS(Energy?Dispersive?Spectrometer)是電子顯微鏡（掃描電鏡、透射電鏡）的重要附屬配套儀器，結合電子顯微鏡，能夠在1-3分鐘之內對材料的微觀區域的元素分布進行定性定量分析。??原理：利用不同元素的X射線光子特征能量不同進行成分分析。??與WDS(Wave?Dis
能譜儀（EDS）
能譜儀：EDS(Energy Dispersive Spectrometer)是電子顯微鏡（掃描電鏡、透射電鏡）的重要附屬配套儀器，結合電子顯微鏡，能夠在1-3分鐘之內對材料的微觀區域的元素分布進行定性定量分析。?原理：利用不同元素的X射線光子特征能量不同進行成分分析。?EDS與WDS(Wave D
簡介X射線光電子能譜儀的技術指標
可實現的功能：單色化雙陽極XPS、微區XPS、離子散射譜ISS、反射電子能量損失譜REELS、紫外光電子能譜UPS、氬復合團簇離子槍刻蝕、角分辨ARXPS、平行成像XPS、原位X射線熒光光譜EDXRF分析，并能進行樣品臺加熱冷卻、超高真空環境下的測量。 能量掃描范圍0～5000eV；通過能范圍
γ能譜儀的相關敘述
能譜儀主要有探測器、脈沖幅度分析器、記錄顯示電路三部分組成。工作時，探測器將不同能量的射線變成相應幅度的電脈沖并加以放大。放大的脈沖送到脈沖幅度分析器加以分離，然后由記錄顯示電路記錄。它既可以測量γ能譜，又可以測量總γ照射量率。野外輕便γ能譜儀常用于測量巖石或地層的鈾、鐳、釷、鉀等含量。一般實驗
電子能譜儀的分類
電子能譜儀的類型有許多種，它們對樣品表面淺層元素的組成能做出比較精確的分析，有時還能進行在線測量如膜形成成長過程中成分的分布、變化的探測等，使監測制備高質量的薄膜器件成為可能。光電子能譜儀光電子譜儀分析樣品成分的基本方法，就是用已知光子照射樣品，然后檢測從樣品上發射的電子所帶有關于樣品成分的信息。試
電子能譜儀的構成
一臺電子能譜儀的基本組成由所研究的試樣、一個初級激發源和電子能量分析器組成。它們安裝在超高真空(UHV)下工作。實際上，經常再備有一個UHV室安裝各種試樣制備裝置，和可能的輔助分析裝置。此外還有數據采集與處理系統。?(1)真空系統。電子能譜分析技術本身的表面靈敏度要求必須維持超高真空。現代電子能譜儀
電子能譜儀的簡介
電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。電子能譜儀可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素，還可研究原子的狀態、原子周圍的狀況及分子結構，在表面化學分析、分子結構、催化劑、新材料等研究領域中已得到應用。
能譜儀的功能介紹
來自樣品的X光子通過鈹窗口進入鋰漂移硅固態檢測器。每個X光子能量被硅晶體吸收將在晶體內產生電子空穴對。不同能量的X光子將產生不同的電子空穴對數。例如，Fe的Kα輻射可產生1685個電子空穴對，而Cu為2110。知道了電子空穴對數就可以求出相應的電荷量以及在固定電容（1μμF）上的電壓脈沖。多道脈沖高
簡述俄歇電子能譜儀對表面元素分布分析
俄歇電子能譜表面元素分布分析 , 也稱為俄歇電子能譜元素分布圖像分析。它可以把某個元素在某一區域內的分布以圖像方式表示出來 , 就象電鏡照片一樣。只不過電鏡照片提供的是樣品表面形貌 , 而俄歇電子能譜提供的是元素的分布圖像。結合俄歇化學位移分析 , 還可以獲得特定化學價態元素的化學分布圖像。俄歇
電子能譜儀概述
電子能譜儀：對固體表面進行微區成份分析及元素分布。可應用于半導體材料、冶金、地質等部門。X光光電子能譜儀：對固體進行化學結構測定、元素分析、價態分析。可應用于催化、高分子、腐蝕冶金、半導體材料等部門。 電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器
四道γ能譜儀
四道γ能譜儀是放射性礦產找礦勘探中常用的γ譜儀之一，目的是一次同時測量礦石、土壤中鈾、釷、鉀的含量。有地面四道γ能譜儀和四道γ能譜測井儀等。為了說明原理，先從基本的單道γ能譜儀的分析器說起。入射不同能量的γ射線，在探測器中產生不同幅度的脈沖電信號輸出；經過線性放大器放大之后，輸入到單道脈沖幅度分析器
能譜儀測試原理
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電流脈
什么是能譜儀
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡使用。包括以下幾指標：探頭：一般為Si(Li)鋰硅半導體探頭探測面積：幾平方毫米分辨率（MnKa）：～133eV探測元素范圍：Be4～U92使用范圍：1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；2、金屬材料的相分
能譜儀是什么？能譜儀與波譜議相比有哪些優點？
波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格方程的2方向上
關于電子能譜儀的簡介
電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。電子能譜儀可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素，還可研究原子的狀態、原子周圍的狀況及分子結構，在表面化學分析、分子結構、催化劑、新材料等研究領域中已得到應用。
電子能譜儀的分類介紹
電子能譜儀的類型有許多種，它們對樣品表面淺層元素的組成能做出比較精確的分析，有時還能進行在線測量如膜形成成長過程中成分的分布、變化的探測等，使監測制備高質量的薄膜器件成為可能。 光電子能譜儀 光電子譜儀分析樣品成分的基本方法，就是用已知光子照射樣品，然后檢測從樣品上發射的電子所帶有關于樣品成
能譜儀的測試原理簡介
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電
能譜儀的功能和應用
來自樣品的X光子通過鈹窗口進入鋰漂移硅固態檢測器。每個X光子能量被硅晶體吸收將在晶體內產生電子空穴對。不同能量的X光子將產生不同的電子空穴對數。例如，Fe的Kα輻射可產生1685個電子空穴對，而Cu為2110。知道了電子空穴對數就可以求出相應的電荷量以及在固定電容（1μμF）上的電壓脈沖。多道脈沖高
關于能譜儀的優點簡介
分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分鐘內分析和確定樣品中含有的所有元素，帶鈹窗口的探測器可探測的元素范圍為11Na~92U，20世紀80年代推向市場的新型窗口材料可使能譜儀能夠分析Be以上的輕元素,探測元素的范圍為4Be~92U。 靈敏度高 X射線收
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線
電子能譜儀的構成介紹
一臺電子能譜儀的基本組成由所研究的試樣、一個初級激發源和電子能量分析器組成。它們安裝在超高真空(UHV)下工作。實際上，經常再備有一個UHV室安裝各種試樣制備裝置，和可能的輔助分析裝置。此外還有數據采集與處理系統。 (1)真空系統。電子能譜分析技術本身的表面靈敏度要求必須維持超高真空。現代電子
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線