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    概述X熒光分析儀的應用領域

    鋼鐵行業:生鐵、爐渣、礦石、燒結礦、球團礦、鐵精粉、鐵礦石等。 水泥行業:生料、熟料、水泥、原材料等。 耐火材料:主要包括高硅質的粘土類、高鋁質的礬土類、高鎂質的鎂砂類、高鉻質類、各類剛玉等耐火材料。 有色行業:鋁廠各類樣品、鉛鋅礦、銅礦、錫礦、銀礦、鉬礦等。 電氣電子產品行業:針對ROHS六種有害物質檢測,主要包括:白家電,如電冰箱、洗衣機、微波爐、空調、吸塵器、熱水器等;黑家電,如音頻、視頻產品、DVD、CD、電視接收機、IT產品、數碼產品、通信產品等;電動工具,電動電子玩具、醫療電氣設備等。 食品行業:食品中重金屬濃度分析。 考古學:古物年代鑒定。 藝術品修復:顏料中金屬成分分析。......閱讀全文

    概述X熒光分析儀的應用領域

      鋼鐵行業:生鐵、爐渣、礦石、燒結礦、球團礦、鐵精粉、鐵礦石等。  水泥行業:生料、熟料、水泥、原材料等。  耐火材料:主要包括高硅質的粘土類、高鋁質的礬土類、高鎂質的鎂砂類、高鉻質類、各類剛玉等耐火材料。  有色行業:鋁廠各類樣品、鉛鋅礦、銅礦、錫礦、銀礦、鉬礦等。  電氣電子產品行業:針對RO

    X熒光鈣鐵分析儀概述

      X熒光鈣鐵分析儀是一種微機化的新型臺式分析儀器,主要用于水泥生料,煤矸石,磚坯料中CaO、 Fe2O3百分含量的快速(30秒)定量分析。它根據元素特征射線的X熒光能量色散原理,采用低能小功率X光管激發(不用放射源)、正比計數管探測、核電子學及微機等組成,采用先進的物理測量方法,符合節能、環保、安

    X光熒光分析的概述

      X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術,即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子,使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。  X射線是一種電磁輻射,按傳統的說法,其波長介于紫外線和γ射線之間,但隨著高能電子加速器的發展,電子軔致輻射所產生的X射線的

    X熒光分析儀的分類

    不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同,因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的,進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射????線強度跟這元素在樣品中的含量有關,因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。????因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色

    X熒光分析儀簡介

      EDX 60a X熒光儀是一種新型的采用純物理分析方法的微機化臺式儀器,用于水泥廠,能夠30秒快速分析旋窯、機立窯、窯外分解旋窯廠家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中 CaO、 Fe2O3的百分含量,為配料成分控制及時提供數據。由于它的分析速度快(30秒),因此可實時監控生產過程中成份變化的

    X熒光分析儀簡介

      X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。  不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同,因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的,進行元素的定性分析。

    X熒光分析儀的光源是“熒光”嗎?

    強調“熒光”,許多用戶誤認為只有用X光管作為激發源的管激發儀器才是X熒光儀,一味地強調所謂“熒光”。事實上,如前所述,無論是采用X光管還是采用放射性同位素源作為激發源,只要是由X射線激發、通過測定被測樣品發出的熒光X射線得出其化學成分及含量的儀器,都是X熒光分析儀。

    概述熒光X射線測厚儀的應用范圍

      -測厚范圍可測定厚度范圍:取決于您的具體應用。請告訴牛津儀器您的具體應用,我們將列表可測定的厚度范圍-基本分析功能無標樣檢量線測厚,可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍

    x射線熒光光譜儀的應用領域

      熒光光譜儀被廣泛應用于化學、環境和生物化學領域。  是研究小分子與核酸相互作用的主要手段。通過藥物與核酸相互作用,使DNA與探針鍵合的程度減小,反映在探針熒光光譜的改變,從而可以了解藥物和核酸的作用機理。  熒光光譜儀是研究藥物與蛋白質相互作用的常用儀器。藥物與蛋白質相互作用后可能引起藥物自身熒

    X熒光光譜儀的應用領域介紹

      被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫學,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。  X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度,可以測定元素含量。  近年來,X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、

    X射線熒光光譜儀的應用領域

      X射線熒光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金,地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測,對產品和材料質量進行無損檢測,對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的重要分

    X射線熒光分析儀的優點

      對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測,而不毀壞樣品。  測試速率高,可以在較少時間內進行大量樣品測試,分析結果可以通過計算機直接連網輸出。  分析速度較快。  對于純金屬可采用無標樣分析,精度能達分析要求。  不需要專業實驗室與操作人員,不引入其它對環境有害的物質。

    X射線熒光分析儀的缺點

      關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時,如果測試樣品里含有C、H、O等元素,會出現誤差。  不能作為仲裁分析方法,檢測結果不能作為國家認證根據,不能區分元素價態。  對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金,需要代表性樣品進行標準曲線繪制,分析結果的精確性是建立在標樣

    X射線熒光分析儀的優點

      對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測,而不毀壞樣品。  測試速率高,可以在較少時間內進行大量樣品測試,分析結果可以通過計算機直接連網輸出。  分析速度較快。  對于純金屬可采用無標樣分析,精度能達分析要求。  不需要專業實驗室與操作人員,不引入其它對環境有害的物質。

    X射線熒光分析儀的缺點

      關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時,如果測試樣品里含有C、H、O等元素,會出現誤差。  不能作為仲裁分析方法,檢測結果不能作為國家認證根據,不能區分元素價態。  對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金,需要代表性樣品進行標準曲線繪制,分析結果的精確性是建立在標樣

    X熒光分析儀的特點介紹

      原裝進口電制冷探測器,可以快速分析從11Na到92U之間的全部元素,精度高、測量時間短,它可以廣泛用于有色礦山、鋼鐵、水泥、耐火材料、不銹鋼、合金等領域  特點:  1、同時分析元素周期表中由鈉(Na)到鈾(U)之間的全部元素;  2、可檢測固體﹑液體﹑粉末,不需要復雜的制樣過程;  3、分析測

    X熒光分析儀的結構簡介

      1、多功能置樣裝置  A.樣品種類:固體﹑液體﹑粉末﹑鍍層。  B.樣品托盤:可自動旋轉的測量裝置。  C.樣品室的環境:可選擇空氣﹑真空﹑氦氣。由軟件自動控制,無需人工操作。  2、激發系統  激發系統采用獨特的倒置直角光學結構設計。以50KV的低功率X射線發生器作為激發源,從X射線管產生的初

    X射線熒光分析儀的介紹

      X射線熒光分析儀主要由激發、色散(波長和能量色散)、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處,但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上,兩類儀器也有顯著的區別。X射線熒光分析儀按其性能和應用范圍,可分為實驗室用的X射線熒光光譜儀

    X熒光分析儀的特點簡介

      儀器機電一體微機化設計,大屏幕24bit色LCD,操作人機對話,簡潔美觀;  檢測品種廣,檢測量程寬,分析速度快,標準樣品用量少;  采用熒光強度比率分析方法, 溫度、氣壓自動修正,碳氫比(C/H)亦可修正;  儀器的自動診斷功能,判斷儀器的工作狀態和電氣參數;  采用一次性樣品杯,可避免交叉污

    X熒光分析儀的歷程介紹

      自1895 年德國物理學家倫琴(Renten W C)發現了 X 射線。1896年法國物理學家喬治(G eorgs S)發現了X 射線熒光,1948年弗利德曼(Friedm an H )和伯克斯(]3irks L S)首先研制了第一臺商品性的波長色散 X 射線熒光光譜儀以來,X 射線熒光光譜分析

    X熒光分析儀工作原理

      熒光,顧名思義就是在光的照射下發出的光。  從原子物理學的知識我們知道,對每一種化學元素的原子來說,都有其特定的能級結構,其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行,內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子核的束縛,成為自由電子,我們說原子被激發了,處于激發態,這時,其他的外層電子便會填

    X熒光硫元素分析儀

      X熒光硫元素分析儀 型號:HY1000   概述   環境污染已引起世界各國政府和公眾的密切關注,要求保護生態環境和大氣環境的呼聲日漸高漲。造成大氣層破壞和污染的主要禍是CO2 和SO2的排放。CO2、SO2源自動力燃料的燃燒,車船飛機中使用汽油、柴油、重油等含硫量越低將會大大減少對大氣的

    概述X射線熒光光譜儀X射線的產生

      根據經典電磁理論,運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的:利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶,電子被金屬靶所減速,便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線,也包括了特征譜線。  1、連續譜線  連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受

    X熒光光譜儀XRF的概述

      是用X-射線管發出的初級線束輻照樣品,激發各化學元素發出二次譜線。是用X射線直接照射樣品發射X熒光,分光晶體將熒光光束色散后,測定各種元素的特征X-射線波長和強度,從而測定各種元素的含量;而光譜儀是通過濾光片得到背景相對較低的X射線,照射樣品發射X熒光,X熒光借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分

    X射線熒光光譜儀的概述

      自1895年倫琴發現X射線以來,X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中,1910年特征X射線光譜的發現,為X射線光譜學的建立奠定了基礎;20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世,使得X射線光譜學技術進入了實用階段;60年代能量色散型X射線光譜儀的出現,促進了X射線光譜學儀器的迅

    帶電粒子激發X熒光分析的概述

      簡稱PIXE,它應用的帶電粒子可以是質子、α粒子或重離子,目前使用最多的是質子。它是用加速器(常用靜電加速器產生的幾兆電子伏能量的質子束轟擊樣品,質子使樣品中各元素原子的內層電子電離,接著較外層的電子向內層躍遷,同時發射X射線。由于各種元素發射具有特定波長(或能量)的標識X射線,可利用鋰漂移硅探

    X-射線熒光光譜法的應用領域介紹

      X 射線熒光光譜法可用于冶金、地質、化工、機械、石油、建材等工業部門,以及物理、化學、生物、地學、環境科學、考古學等。還可用于測定涂層和金屬薄膜的厚度和組成以及動態分析等。  在常規分析和某些特殊分析方面,包括工業上的開環單機控制和閉環聯機控制,本法均能發揮重大作用。分析范圍包括原子序數Z≥3(

    X射線熒光光譜儀概述

      X射線熒光光譜儀具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結果,結果準確度對某些樣品可以接近定量水

    X熒光光譜儀器性能和應用領域

    性能特點:1,可自動切換準直器和濾光片2,專業ROHS檢測3,智能ROHS軟件,專業開發,與儀器相得益彰4,任意多個可選擇的分析和識別模型5,多變量非線性回收程序ROHS應用領域1,黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測2,金屬鍍層的厚度測試和電鍍液和鍍層含量的測試3,地礦等資源類的全元素分析4,

    選擇X射線熒光分析儀的誤區

      強調“熒光”,許多用戶誤認為只有用X光管作為激發源的管激發儀器才是X熒光儀,一味地強調所謂“熒光”。事實上,如前所述,無論是采用X光管還是采用放射性同位素源作為激發源,只要是由X射線激發、通過測定被測樣品發出的熒光X射線得出其化學成分及含量的儀器,都是X熒光分析儀。  源激發和管激發各有優缺點。

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