X射線衍射分析對晶粒尺寸和點陣畸變的測定
若多晶材料的 晶粒無畸變、足夠大，理論上其粉末衍射花樣的譜線應特別鋒利，但在實際實驗中，這種譜線無法看到。這是因為儀器因素和物理因素等的綜合影響，使純衍射譜線增寬了。純譜線的形狀和寬度由試樣的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及 晶體點陣中的主要缺陷決定，故對線形作適當分析，原則上可以得到上述影響因素的性質和尺度等方面的信息。 在晶粒尺寸和 點陣畸變測定過程中，需要做的工作有兩個：⑴ 從實驗線形中得出純衍 射線形，最普遍的方法是傅里葉變換法和重復連續卷積法。⑵ 從衍射花樣適當的譜線中得出晶粒尺寸和缺陷的信息。這個步驟主要是找出各種使 譜線變寬的因素，并且分離這些因素對寬度的影響，從而計算出所需要的結果。主要方法有傅里葉法、線形方差法和積分寬度法。......閱讀全文
X射線衍射分析對晶粒尺寸和點陣畸變的測定
若多晶材料的 晶粒無畸變、足夠大，理論上其粉末衍射花樣的譜線應特別鋒利，但在實際實驗中，這種譜線無法看到。這是因為儀器因素和物理因素等的綜合影響，使純衍射譜線增寬了。純譜線的形狀和寬度由試樣的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及 晶體點陣中的主要缺陷決定，故對線形作適當分析，原則上可以得到上述影響因素的性
如何對x射線圖進行物相分析
晶體的X射線衍射圖像實質上是晶體微觀結構的一種精細復雜的變換,每種晶體的結構與其X射線衍射圖之間都有著一一對應的關系,其特征X射線衍射圖譜不會因為它種物質混聚在一起而產生變化,這就是X射線衍射物相分析方法的依據.制備各種標準單相物質的衍射花樣并使之規范化,將待分析物質的衍射花樣與之對照,從而確定物質
關于X射線衍射分析的點陣常數的精確測
點陣 常數是晶體物質的基本結構參數，測定點陣常數在研究固態 相變、確定 固溶體類型、測定固溶體 溶解度 曲線、測定 熱膨脹系數等方面都得到了應用。 點陣常數的測定是通過X 射線衍射線的位置（θ ）的測定而獲得的，通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點陣常數值。 點陣常數測定中的 精
X射線衍射分析對單晶取向和多晶織構測定
單晶取向的測定就是找出晶體樣品中晶體學取向與樣品外坐標系的位向關系。雖然可以用光學方法等物理方法確定 單晶取向，但X 衍射法不僅可以精確地單晶定向，同時還能得到晶體內部微觀結構的信息。一般用勞埃法 單晶定向，其根據是底片上勞埃斑點轉換的極射赤面投影與樣品外坐標軸的極射赤面投影之間的位置關系。透射
原位X射線粉末衍射儀
主要指標:功率50KV*40mA最小步長 0.0001測量角度范圍1-120儀器角度分辨率+/-0.0001功能及應用范圍:X射線衍射儀可對樣品進行結構參數分析，如物相定性與定量分析，衍射譜的指標化及點陣參數測定，晶粒尺寸及點陣畸變測定，粉末衍射圖譜擬合修正晶體結，結構分析，結晶度測定，此外還可進行
X射線衍射分析
建立在X射線與晶體物質相遇時能發生衍射現象的基礎上的一種分析方法。應用這種方法可進行物相定性分析和定量分析、宏觀和微觀應力分析 ?。① 物相定性分析:每種晶體物相都有一定的衍射花樣，故可根據不同的衍射花樣鑒別出相應的物相類別。由于這種方法能確定被測物相的組成，在機械工程材料特別是金屬材料的研究中應用
X射線衍射分析
XRD物相分析是基于多晶樣品對X射線的衍射效應，對樣品中各組分的存在形態進行分析。測定結晶情況，晶相，晶體結構及成鍵狀態等等。 可以確定各種晶態組分的結構和含量。靈敏度較低，一般只能測定樣品中含量在1%以上的物相，同時，定量測定的準確度也不高，一般在1%的數量級。XRD物相分析所需樣品量大（0.1g
X射線衍射分析的簡介
定義： X射線衍射分析（X-ray diffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。 分析原理 當一束X射線入射到晶體時，首先被原子（電子）所散射，每個原子都是一個新的輻射源，向空間輻射出與入射波同頻率的電磁波。由于晶體是由
X射線衍射分析的簡介
X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質受激發，會產生二次熒光X射線（標識X射線
X射線衍射儀的應用介紹
X射線衍射儀是對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結構參數分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數測定（晶體結構分析）、多晶X-射線衍射的指標化以及晶粒尺寸和結晶度的測定等。可精確地測定物質的晶體結構，如：物相定性與定量分
X射線衍射技術分析內容
X射線衍射技術可以分析研究金屬固溶體、合金相結構、氧化物相合成、材料結晶狀態、金屬合金化、金屬合金薄膜與取向、焊接金屬相、各種纖維結構與取相、結晶度、原料的晶型結構檢驗、金屬的氧化、各種陶瓷與合金的相變、晶格參數測定、非晶態結構、納米材料粒度、礦物原料結構、建筑材料相分析、水泥的物相分析等。
什么是x射線衍射分析
X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物
七大材料結構分析方法二——X射線衍射分析
X射衍射線( XRD) 又稱X 射線物相分析法，X射線是一種具有衍射本領的高能電磁波。X射線衍射法是目前測定晶體結構的重要手段，應用極其廣泛。在實際的應用中將該分析方法分為多晶粉末法和單晶衍射法。多晶粉末法常用來測定立方晶系的晶體結構點陣形式、晶胞參數及簡單結構的原子坐標，還可以對固體式樣進行物
X射線衍射的方向與晶體結構之間的有什么對應關系
X射線衍射的方向體現在XRD譜的橫坐標，X射線衍射強度記錄在XRD譜的峰強，解析XRD譜可以獲得晶體結構、晶相晶系等的信息。對無機材料測試研究、金屬材料、納米材料、超導材料、高分子材料等等應用領域都有很好的應用。X射線衍射對無機材料、金屬的分析，常作的就是對材料的物相的定性分析，把對材料測得的點陣平
X射線衍射分析的原理簡介
X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射，對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。將具有一定 波長的X 射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。衍射X 射線滿足 布拉格（
X射線衍射分析的基本介紹
X射線衍射分析（X-raydiffraction，簡稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對
X射線衍射分析的物相分析
晶體的X 射線衍射圖像實質上是晶體微觀結構的一種精細復雜的變換，每種晶體的結構與其X射線衍射圖之間都有著一一對應的關系，其特征X射線衍射圖譜不會因為它種物質混聚在一起而產生變化，這就是X射線衍射物相分析方法的依據。制備各種標準單相物質的衍射花樣并使之 規范化，將待分析物質的衍射花樣與之對照，從而
x射線衍射和xrd的區別
XRD即X-ray diffraction的縮寫，中文翻譯是X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。用于確定晶體結構，其中晶體結構導致入射X射線束衍射到許多特定方向。X射線是一種波長很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能
X射線衍射儀的應用領域究竟有多廣泛
?奧林巴斯X射線衍射儀應用于合金材料來料檢測，金屬加工過程控制，出廠成品檢測；用于現場，無損，快速，準確分析檢測合金元素識別。應用于軌道交通、航天航空、機械設備、能源化工、電子電氣、航海船舶、汽車制造、醫療器械、石油管道、兵器工業、核工業、鋼廠制造業、冶金制造、金屬材料、飛機制造、再生資源金屬等。?
晶粒尺寸及形狀的分析EBSD
晶粒尺寸及形狀的分析傳統的晶粒尺寸測量依賴于顯微組織圖象中晶界的觀察。自從EBSD出現以來，并非所有晶界都能被常規浸蝕方法顯現這一事實已變得很清楚，特別是那些被稱為“特殊”的晶界，如孿晶和小角晶界。因為其復雜性，嚴重孿晶顯微組織的晶粒尺寸測量就變得十分困難。由于晶粒主要被定義為均勻結晶學取向的單元，
X射線衍射儀在哪些行業中得以廣泛應用
X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質上都屬于電磁波,只是彼此之間占據不同的波長范圍而已。當X射線照射到晶體物質上,由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產生強X射線衍射,衍射線在空間分布
電子衍射和X射線衍射的異同點
電子衍射與X射線衍射一樣，遵從衍射產生的必然條件（布拉格方程+反射定律，衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等）和系統消光規律。但電子波是物質波，按入射電子能量的大小，電子衍射可分為高能電子衍射、低能電子衍射和反射式高能電子衍射，而X射線衍射是X射線照射樣品。
中子衍射方法和X射線衍射方法的區別
中子衍射和X射線衍射十分相似，其不同之處在于：1、X射線是與電子相互作用，因而它在原子上的散射強度與原子序數成正比，而中子是與原子核相互作用，它在不同原子核上的散射強度不是隨值單調變化的函數，這樣，中子就特別適合于確定點陣中輕元素的位置(X射線靈敏度不足)和值鄰近元素的位置（X 射線不易分辨）；2、
X射線衍射儀可以進行哪些分析？
X射線衍射分析建立在X射線與晶體物質相遇時能發生衍射現象的基礎上的一種分析方法。應用這種方法可進行物相定性分析和定量分析、宏觀和微觀應力分析。 （1）物相定性分析： 每種晶體物相都有一定的衍射花樣，故可根據不同的衍射花樣鑒別出相應的物相類別。由于這種方法能確定被測物相的組成，在機械工程材料特
x射線衍射儀Terra對水泥熟料礦物相的分析
全球首款真正意義上的便攜式XRD分析儀，具有現場、快速、準確的分析優勢， 粉末震蕩技術(ZL)及靜止的探測器的使用，使得Terra突破了傳統XRD的構造;XRD及XRF的集成，使得XRD的分析性能有了很大的提高。 水泥熟料的定量測定方法 水泥熟料定量測定主要有三種方法:化學計算法
帶你了解工業X射線衍射儀
X射線衍射儀是對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結構參數分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數測定(晶體結構分析)、多晶X-射線衍射的指標化以及晶粒尺寸和結晶度的測定等。可地測定物質的晶體結構，如：物相定性與定量分
X射線衍射儀的分類及技術原理分析
X射線衍射技術(X-raydiffraction，XRD)。是利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主
xrd在金屬材料領域的應用有哪些
xrd在金屬材料領域的應用有以下方面：1.物相分析 是 X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相；后者則根據衍射花樣的強度，確定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的關系和檢查材料的成分配比及隨
X射線衍射儀的工作原理
X射線衍射儀工作原理 X射線是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力。對物質進行物相分析、定性分析、定量分析。廣泛應用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。 特征X射線是一種波長很短(約為20～0.06nm)的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照
X射線衍射分析有什么特點
物理特性1、穿透作用。X射線因其波長短，能量大，照在物質上時，僅一部分被物質所吸收，大部分經由原子間隙而透過，表現出很強的穿透能力。X射線穿透物質的能力與X射線光子的能量有關，X射線的波長越短，光子的能量越大，穿透力越強。X射線的穿透力也與物質密度有關，利用差別吸收這種性質可以把密度不同的物質區分開