痕量分析方法質譜法介紹
利用射頻火花離子源雙聚焦質譜計測定高純度材料中痕量雜質，其優點是：靈敏度高，測定下限達μg至ng級，一次可分析70多個元素。如有標樣，可進行高純金屬和半導體定量分析、粉末樣品或氧化物（制成電極后需鍍導電高純銀膜）的分析；如無標樣，采用加入內標元素的方法也可進行定量分析。若粉末樣品或溶液樣品的分析與同位素稀釋法技術結合，可不需標樣進行定量分析，并可提高分析的靈敏度和準確度。......閱讀全文
痕量分析方法質譜法介紹
利用射頻火花離子源雙聚焦質譜計測定高純度材料中痕量雜質，其優點是：靈敏度高，測定下限達μg至ng級，一次可分析70多個元素。如有標樣，可進行高純金屬和半導體定量分析、粉末樣品或氧化物（制成電極后需鍍導電高純銀膜）的分析；如無標樣，采用加入內標元素的方法也可進行定量分析。若粉末樣品或溶液樣品的分析
痕量分析介紹
（trace analysis），物質中含量在百萬分之一以下的組合的分析方法。痕量一詞的含義隨著痕量分析技術的發展而有所變化。痕量分析包括測定痕量元素在試樣中的總濃度，和用探針技術測定痕量元素在試樣中或試樣表面的分布狀況。一般分成3 個基本步驟：取樣、樣品預處理和測定。由于被測元素在樣品中含量很
痕量分析的常用方法
化學光譜法常用于測定高純材料中痕量雜質，對分析99.999～99.9999%純度材料，效果好，測定下限可達μg至ng級。此法須先用液-液萃取、揮發、離子交換等技術分離主體，富集雜質，再對溶液干渣用高壓電火花或交流電弧光源進行光譜測定；或在分離主體后，把溶液濃縮到2～5ml，用高頻電感耦合等離子體作光
痕量分析的常用方法
化學光譜法 常用于測定高純材料中痕量雜質，對分析99.999～99.9999%純度材料，效果好，測定下限可達μg至ng級。此法須先用液-液萃取、揮發、離子交換等技術分離主體，富集雜質，再對溶液干渣用高壓電火花或交流電弧光源進行光譜測定；或在分離主體后，把溶液濃縮到2～5ml，用高頻電感耦合等離
痕量分析系統相關介紹
痕量分析 （trace analysis），樣品中待測組分含量低于百萬分之一的分析方法 。 痕量一詞的含義隨著痕量分析技術的發展而有所變化。痕量分析包括測定痕量元素在試樣中的總濃度，和用探針技術測定痕量元素在試樣中或試樣表面的分布狀況。一般分成3 個基本步驟：取樣、樣品預處理和測定。由于被測元素在
痕量分析方法原子吸收光譜法介紹
有較好的靈敏度和精密度，廣泛應用于測定高純材料中的痕量元素。用火焰原子吸收光譜進行分析時，除用空氣-C2H2火焰外,還可用N2O-C2H2火焰以擴大分析元素的數目。近年來，又發展出無火焰原子吸收光譜法，把石墨爐原子儀器應用于痕量元素分析。原子吸收光譜分析由于化學組分干擾產生系統誤差，也由于光散射
實驗室分析方法快原子轟擊質譜法方法介紹
由子快原子轟擊是一種軟電離技術，被分析樣品無需經過氣化而直接電離，所以，快原子轟擊質譜法常用于分析 極性強、不易氣化和熱穩定性差的樣品。FAB：是一種廣泛應用的軟電離技術。快原子轟擊利用的重原子一般為 Xe 或 Ar。Ar+(高動能的) + Ar(熱運動的) ——> Ar(高動能的) + Ar+(熱
什么是痕量分析，超痕量分析
痕量分析，就是可以測定到10^-9 （納克級）超痕量分析，就是可以測定到10^-12 （飛克級）
什么是痕量分析，超痕量分析
痕量分析，就是可以測定到10^-9 （納克級）超痕量分析，就是可以測定到10^-12 （飛克級）
關于痕量分析的相關介紹
痕量一詞的含義隨著痕量分析技術的發展而有所變化。痕量分析包括測定痕量元素在試樣中的總濃度，和用探針技術測定痕量元素在試樣中或試樣表面的分布狀況。一般分成3 個基本步驟：取樣、樣品預處理和測定。由于被測元素在樣品中含量很低、分布很不均勻，特別是環境樣品，往往隨時間、空間變化波動很大，要充分注意取樣
痕量分析
痕量分析 （trace analysis），樣品中待測組分含量低于百萬分之一的分析方法 。
化學方法分析高純金屬純度質譜法
電感耦合高頻等離子體質譜法( ICP-MS) ICP ?-MS技術是20世紀80年代發展成熟起來的一種痕量、超痕量多元素同時分析技術。ICP-MS 綜合了等離子體極高的離子化能力和質譜的高分辨、高靈敏度及連續測定多元素的優點, 檢出限低至(0.001～0.1) ng/ml ,測定的線性范圍寬達
實驗室分析方法無機質譜法
無機質譜分析法成為現代科學技術發展不可替代的分析工具是從測量元素存在開始，并伴隨物質成分分析技術發展逐漸完善。20世紀50代后期，由于火花源質譜的發展，無機質譜法在微量、痕量元素分析領域幾乎與原子吸收光譜、中子活化分析占有同樣的地位。20世紀70～80年代，激光電離質譜法、四極桿電感耦合等離子體質譜
實驗分析方法有機質譜法發展簡史
早期的質譜研究工作是與元素的同位素測定緊密相關的。同位素（isotope）這個詞于1910年第一次使用，第一臺質譜儀也是在這一年誕生的。實際上，早在1886年就有人提出了有關同位素的概念。用磁場偏轉法分離帶電粒子以測定其質量的研究工作也在1896年取得了成果，這些研究為后來的質譜學工作提供了一定的基
關于釩的痕量分析的介紹
釩廣泛分布于自然界中，在地殼中的總含量排在金屬的第22位，約為0.02% — 0.03% 。釩主要存在于巖石礦物中，鋼鐵、淤泥、廢水、食品甚至于人的頭發中也含有微量釩。隨著社會的不斷發展，人們對釩的認識也越來越深入。首先，釩具有生物活性，是人體所必需的微量元素之一。但體內釩過量，則可刺激呼吸、消
關于鉛的痕量分析的介紹
鉛是一種對人體有害的蓄積性毒物。人們已經認識到，即使是低劑量的鉛，由于能在人體中蓄積，也可不同程度地導致對人體特別是兒童的神經系統、造血系統、生長發育等方面出現癥狀不明顯的慢性損害。因此， 痕量鉛的危害愈來愈引起人們的關注， 其分析技術也不斷得到發展，方法日益成熟。痕量鉛的分析日益受到重視，傳統
關于砷的痕量分析的介紹
砷的測定包括砷的各種形態的測定， 早期多用光度法測定，最常見的是銀鹽法和新銀鹽法。前者以AgDDC -CH3 ?-吡啶為吸收法；后者用NaBH4 將砷轉換為砷氫化物，在硝酸-聚乙烯醇-乙醇體系中顯色，根據不同砷氫化物所形成配合物吸收波長的差別測定含量。用一般光度法及聯用技術測定， 如HPLC ?
痕量元素分析系統
痕量元素分析系統是一種用于農學、水利工程領域的分析儀器，于2018年9月8日啟用 技術指標 （1）質量分辨率：在一次分析中分辨率0.3amu~3.0amu連續可調。多元素分析不同元素可以設置不同的分辨率。 （2）線性動態范圍： 系統的線性動態范圍至少9個數量級，數據偏離線性不超過5％。 （3
實驗室分析方法質譜法的概念
質譜法(Mass Spectrometry,MS)即用電場和磁場將運動的離子(帶電荷的原子、分子或分子碎片,有分子離子、同位素離子、碎片離子、重排離子、多電荷離子、亞穩離子、負離子和離子-分子相互作用產生的離子)按它們的質荷比分離后進行檢測的方法。測出離子準確質量即可確定離子的化合物組成。這是由于核
實驗室分析方法質譜法的原理
使試樣中各組分電離生成不同荷質比的離子,經加速電場的作用,形成離子束,進入質量分析器,利用電場和磁場使發生相反的速度色散——離子束中速度較慢的離子通過電場后偏轉大,速度快的偏轉小;在磁場中離子發生角速度矢量相反的偏轉,即速度慢的離子依然偏轉大,速度快的偏轉小;當兩個場的偏轉作用彼此補償時,它們的軌道
實驗室分析方法質譜法的定義
是將待測物質置于離子源中電離形成帶電離子,讓離子加速并通過磁場或電場后,離子將按質荷比(m/z)大小分離,形成質譜圖。依據質譜線的位置和質譜線的相對強度建立的分析方法稱為質譜法。
實驗室分析方法質譜法的應用
質譜法特別是它與色譜儀及計算機聯用的方法,已廣泛應用在有機化學、生化、藥物代謝、臨床、毒物學、農藥測定、環境保護、石油化學、地球化學、食品化學、植物化學、宇宙化學和國防化學等領域。用質譜計作多離子檢測,可用于定性分析,例如,在藥理生物學研究中能以藥物及其代謝產物在氣相色譜圖上的保留時間和相應質量碎片
質譜法的方法應用
質譜法特別是它與色譜儀及計算機聯用的方法，已廣泛應用在有機化學、生化、藥物代謝、臨床、毒物學、農藥測定、環境保護、石油化學、地球化學、食品化學、植物化學、宇宙化學和國防化學等領域。用質譜計作多離子檢測，可用于定性分析，例如，在藥理生物學研究中能以藥物及其代謝產物在氣相色譜圖上的保留時間和相應質量碎片
痕量分析方法中子活化分析法
高純半導體材料的主要分析方法之一。用同位素中子源和小型加速器產生的通量為1012厘米-2·秒-1以上的中子流輻射被測定樣品。中子與樣品中的元素發生核反應，生成放射性同位素及γ射線。例如Si+n→Si+γ。用探測器和多道脈沖高度分析器來分析同位素的放射性、半衰期及γ射線能譜，就能鑒定出樣品中的痕量
實驗室分析方法激光解吸質譜法
激光解吸質譜法：采用激光解吸離子源的質潛法Af竹·為質譜離子源的電離方法有許多種，如常見的電子轟擊源、化學電離、場解吸電離等。最早將激光引入離子源足1963年，當時是利用激光束作為質譜離子源:后經不斷發展，于1963年始川激光解吸離子源。用激光照射噴涂在固體簽底上的樣品，激光所提供的能量使樣品氣化并
實驗室分析方法質譜法質譜分類
電子轟擊質譜EI-MS,場解吸附質譜FD-MS,快原子轟擊質譜FAB-MS,基質輔助激光解吸附飛行時間質譜MALDI-TOFMS,電子噴霧質譜ESI-MS等等,不過能測大分子量的是基質輔助激光解吸附飛行時間質譜MALDI-TOFMS和電子噴霧質譜ESIMS,其中基質輔助激光解吸附飛行時間質譜MALD
實驗室分析方法快原子轟擊質譜法
快原子轟擊質譜法（Fast-atom-bombardment Mass Spectrometry, FAB-MS）是用快原子轟擊方式作為離子源的質譜分析法。
實驗室分析方法同位素質譜法
質譜技術成為分析科學的重要組成部分是從同位素的發現開始的，并伴隨同位素分析、研究和應用而發展。英國著名物理學家湯姆遜在1913年用簡陋的拋物線裝置發現惰性氣體氖的兩個穩定性同位素，標志著質譜技術的開始，而湯姆遜的拋物線裝置被后人公認為是現代質譜儀的雛形。?湯姆遜的學生和助手阿斯頓（Aston），不但
痕量分析的方法化學光譜法簡介
常用于測定高純材料中痕量雜質，對分析99.999～99.9999%純度材料，效果好，測定下限可達μg至ng級。此法須先用液-液萃取、揮發、離子交換等技術分離主體，富集雜質，再對溶液干渣用高壓電火花或交流電弧光源進行光譜測定；或在分離主體后，把溶液濃縮到2～5ml，用高頻電感耦合等離子體作光源進行
痕量分析方法分光光度法
用被測定元素的離子同無機或有機試劑形成顯色的絡化物，元素的測定下限可達μg至ng級。在無機痕量分析中還常用化學熒光（發光）法測定某些元素,例如Ce、Tb、Ca、Al等。新合成有機熒光試劑,如吡啶-2，6-二羧酸，鈣黃綠素等，都有良好的選擇性和靈敏度，測定下限小于0.01μg。