實驗室光譜儀器離子熒光光譜分析的發展前景
等離子體原子/離子熒光光譜是獨具特色的痕量、超痕量元素分析工具。作為一種簡單、實用的光譜分析技術，盡管在多年的發展歷史上遠遠沒有達到理論上應有的研究和應用水平，在儀器結構中還有很多需要改進和完善之處，如發展新型大功率激發光源、研 究新型原子化器/離子化器以及使用新型檢測器件等。結合電子學、計算機、激光技術的發展，以及其他儀器分析技術的進步，原子/ 離子熒光光譜分析技術在以下幾個方面將得到發展。(1)激發光源 對已經研究多年并取得成功的大電流短脈沖供電(high current microsecond pulsed， HCMP)空心陰極燈的進一 步研究，尤其是對該種供電的空心陰極燈結構的優化設計，以使其能在商品化原子熒光、離子熒光光譜分析儀器中得以推廣、使用。 由于染料激光器操作復雜，在商品分析儀器上使用有較多困難，半導體激光器的發展已經使其在原子吸收光譜和分子光譜分析中得到應用，半導體激光器體積小、質量輕、調諧簡單的......閱讀全文
實驗室光譜儀器離子熒光光譜分析的發展前景
等離子體原子/離子熒光光譜是獨具特色的痕量、超痕量元素分析工具。作為一種簡單、實用的光譜分析技術，盡管在多年的發展歷史上遠遠沒有達到理論上應有的研究和應用水平，在儀器結構中還有很多需要改進和完善之處，如發展新型大功率激發光源、研 究新型原子化器/離子化器以及使用新型檢測器件等。結合電子學、計算機、激
實驗室光譜儀器等離子體原子/離子熒光光譜分析應用
痕量、超痕量金屬元素的檢測是實驗室日常工作中經常遇到的問題。金屬元素最常用的測定方法主要有 ICP-AES、石墨爐原子吸收光譜（GFAAS）、火焰原子吸收光譜（FAAS）和原子熒光光譜分析技術。ICP-MS 是最近一些年快速發展起來的一種痕量、超痕量元素分析技術，其優異的分析性能，如靈敏度高、動態線
實驗室光譜儀器MPT－原子/離子熒光光譜
無論使用 HCL 或 Xe 弧燈、Ar 或 He， MIP 都可以用作原子熒光光譜的原子化器，開展對堿金屬、堿土金屬以及過渡金屬元素的原子熒光光譜研究；普通 HCL 與 Xe 弧 燈作激發源的 Ar MIP-AFS 對所研究元素的原子熒光光譜的檢出限基本相當，都表現為堿金屬、堿土金屬元素的檢出限比其
實驗室光譜儀器電感耦合等離子體原子/離子熒光光譜
對 ICP-AFS/IFS 研究工作的主要方向是追求被測元素，尤其是難熔金屬元素的檢出限，使該技術能滿足痕量、超痕 量金屬元素分析的要求。由于 ICP 優異的高溫性能，增加 ICP 的入射功率，可增大待測元素原子的電離度，增加待測元素粒子數密度，因此，ICP-IFS 是解決難熔元素原子熒光光譜測定靈
實驗室光譜儀器電感耦合等離子體原子/離子熒光光譜
1、 空心陰極燈的強短脈沖供電電源與 DC-HCL 或 CP-HCL 供電電源相比，HCMP-HCL 供電電源需要進行特殊設計，電源要提供微秒寬度的脈沖，峰值工作電流 一般為幾安培，最大可到十幾安培。下圖所示為強短脈沖電源示意圖。強短脈沖供電時，HCL 工作在大電流狀態，電流一般為幾安培，對個別元素
實驗室光譜儀器短炬管－ICP－原子/離子熒光光譜
使用短炬管的 ICP 原子化器、離子化器進行原子/離子熒光信號觀測時，觀測區域一般也是在等離子體的尾焰部分，使用的入射功率也要比 ICP-AES 分析時的等離子體功率低，一般為800W 左右。對 HCMP-HCL 激發的短炬管 ICP-AFS/IFS 的研究表明，由于熒光信號觀測區域的等離子體溫度較
實驗室光譜儀器激光激發原子熒光光譜分析法概述
激光輻射的強度非常高，是普通光輻射強度的106?1016倍。 激光技術的出現為光譜技術的發展開辟了一片嶄新的天地。激光以多種方式被應用于原子光譜分析中，并由此產生了許多新的分析方法，如激光原子吸收光譜分析法（LAAS）、激光增強離子光譜分析法（LEIS）、共振離子化質譜分析法（RIMS）等。用激光作
實驗室光譜儀器短加長炬管－ICP－原子/離子熒光光譜
加長炬管ICP原子/離子熒光光譜利用 Plasa/AFS 2000系統中加長炬管 ICP 為原子化器/離子化器進行等離子體原子/離子熒光光譜研究，原因之一是充分利用已有的硬件設備，尤其是系統本身的等離子體光源以及元素組件，二 是建立的等離子體原子/離子熒光光譜檢測系統可直接與 Plasa/ AFS
熒光光譜分析
當紫外線照射到某些物質的時候，這些物質會發射出各種顏色和不同強度的可見光，而當紫外線停止照射時，所發射的光線也隨之很快地消失，這種光線被稱為熒光。? 西班牙的內科醫生和植物學家N.Monardes于1575年第一次記錄了熒光現象。17世紀，Boyle和Newton等著名科學家再次觀察到熒光現象。17
分子熒光光譜分析
分子熒光光譜分析編輯molecular fluorescence analysis當物質分子吸收了特征頻率的光子，就由原來的基態能級躍遷至電子激發態的各個不同振動能級。激發態分子經與周圍分子撞擊而消耗了部分能量，迅速下降至第一電子激發態的最低振動能級，并停留約10－9秒（10的負9次方秒）之后，直接
同步熒光光譜分析
同步熒光分析根據激發單色器和發射單色器在掃描過程中彼此間保持的關系，同步掃描熒光技術可分為固定波長差，?固定能量差，和可變角同步掃描三類。固定波長差方法將激發和發射單色器波長維持一定的差值??，得到同步熒光光譜。這時如果????相當于或者大于斯托克額斯位移，能夠獲得尖而窄的熒光峰。熒光物質分子濃度與
實驗室分析儀器光譜分析中的等離子體概念
在物理學中，等離子體狀態是指物質已全部離解為電子及原子核的狀態，而光譜分析中的等離子體概念則不是十分嚴格，光譜分析中的等離子體僅在一定程度上被電離（電離度在0.1％以上），是包含分子、原子、離子、電子等各種粒子的集合體。原子光譜分析中的等離子體通常采用氣體放電的方法獲得，作為原子和離子發射光譜的激發
X射線熒光光譜分析
X射線熒光的激發源使用X射線而不使用電子束，因為使用X射線避免了樣品過熱的問題。幾乎所有的商品X射線熒光光譜儀均采用封閉的X射線管作為初始激發光源。某些較簡單的系統可能使用放射性同位素源，而電子激發一般不單獨使用在X射線熒光光譜儀中，它僅限于在電子顯微鏡中X射線熒光分析中使用。X射線熒光譜儀具有快速
X－射線熒光光譜分析
本文評述了我國在2005年至2006年X射線熒光光譜,包括粒子激發的X射線光譜的發展和應用,內容包括儀器研制、激發源、探測器、軟件、儀器改造、儀器維護和維修、樣品制備技術、分析方法研究和應用。?更多還原
X射線熒光光譜分析
XRF的原理：X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照
熒光光譜分析儀
和大多數光譜分析方法一樣，熒光光譜分析儀主要由光源、單色器或波長選擇系統，樣品池和檢測器。和其他光譜儀器的一個重要區別在于，熒光光譜需要兩個獨立的波長選擇系統，一個用于激發，另一個用于發射（王鎮浦等,?1989;?趙藻藩等,?1990）。 （1）?光源??在紫外－可見區范圍內，常用的光源是氙弧燈和高
X射線熒光光譜分析
X射線熒光的激發源使用X射線而不使用電子束，因為使用X射線避免了樣品過熱的問題。幾乎所有的商品X射線熒光光譜儀均采用封閉的X射線管作為初始激發光源。某些較簡單的系統可能使用放射性同位素源，而電子激發一般不單獨使用在X射線熒光光譜儀中，它僅限于在電子顯微鏡中X射線熒光分析中使用。X射線熒光譜儀具有快速
X熒光光譜分析特點
由于X射線熒光的能量比較大，樣品被激發后，產生的特征X射線極易被吸收，而從樣品中發射出來的熒光很少，也即是熒光產額很少。因此采用X熒光光譜儀測量微量元素，不是特長，因此不要把精力過分地放在低含量元素分析上。同理，對于輕元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的檢出限；但對于高含量的輕元素分析，卻有
分子熒光光譜分析作用
作用編輯對于稀溶液（ 吸光度A=εcl≤0.05 ）而言，其熒光強度F=2.3jI0εcl。式中j是熒光物質的熒光效率；I0為入射光強度；ε為熒光物質的摩爾吸光系數，c為熒光物質的濃度 ，l為樣品池的厚度。該式表明，在稀溶液（A≤0.05）和I0及l不變的條件下，熒光強度與該物質的濃度成正比
光譜分析——熒光分析法
熒光分析法：利用熒光強度進行分析的方法，稱為熒光法。在熒光分析中，待測物質分子成為激發態時所吸收的光稱為激發光，處于激發態的分子回到基態時所產生的熒光稱為發射光。醫學教|育網搜集整理熒光分析法測定的是受光激發后所發射的熒光強弱
X射線熒光光譜分析
X射線熒光的激發源使用X射線而不使用電子束，因為使用X射線避免了樣品過熱的問題。幾乎所有的商品X射線熒光光譜儀均采用封閉的X射線管作為初始激發光源。某些較簡單的系統可能使用放射性同位素源，而電子激發一般不單獨使用在X射線熒光光譜儀中，它僅限于在電子顯微鏡中X射線熒光分析中使用。X射線熒光譜儀具有快速
光譜分析儀器
光譜分析儀器是進行光譜分析的儀器設備，主要由光源、分光系（光譜儀）及觀測系統三部分組成。光源光源的作用：首先，把試樣中的組分蒸發離解為氣態原子，然后使這些氣態原子激發，使之產生特征光譜。因此光源的主要作用是提供試樣蒸發、原子化和激發所需的能量。常用光源類型：目前常用的光源有直流電弧、交流電弧、電火花
實驗室光譜儀器MIP－原子熒光光譜
Perkins 等采用 TM010?腔獲得的低功率 MIP 為原子化 器，通過使用普通 HCL 或 Xe 弧燈為激發光源、Ar 或 He 為 工作氣體研究了多種元素的原子熒光光譜，證明 MIP 也可用作原子熒光光譜的原子化器。在 Perkins 等此建立的研究系統中，樣品經氣動霧化后不 經去溶直接進
實驗室分析儀器色譜與原子熒光光譜分析聯用介紹
原子熒光光譜（AFS）分折具有高度的元素專一性和高的靈敏度。但它沒有價態或形態的分辨能力。今天的分析化學已經超出了元素分析的水平，而要對元素的不同價態、形態給出一個全面的分析結果，這就要求將AFS與各種分離技術聯用來實現。冷阱分離和色譜分離是其中主要的兩類聯用分離技術。冷阱的分離能力相對較低，且使用
射線熒光光譜分析技術的應用
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
X射線熒光光譜分析的簡介
利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法（波長色散）和X射線能譜法（能量色散）。 根據色散方式不同，X射線熒光分析儀相應分為X射線熒光光譜儀（波長色散）和X射線熒光能譜儀
熒光光譜分析的原理及方法
熒光分析法是指利用某些物質被紫外光照射后處于激發態，激發態分子經歷一個碰撞及發射的去激發過程所發生的能反映出該物質特性的熒光，可以進行定性或定量分析的方法。由于有些物質本身不發射熒光（或熒光很弱），這就需要把不發射熒光的物質轉化成能發射熒光的物質。例如用某些試劑（如熒光染料），使其與不發射熒光的
光譜分析儀器的種類
基于光譜分析方法原理而設計的儀器即為光譜分析儀器。參考光譜分析方法的分類，光譜分析儀器也可按同樣的方法進行分類。表1為常用光譜分析儀器及其應用。注：電感耦合等離子體質譜儀不屬于光譜分析儀器，但由于其操作、使用、維護和保等均與光譜分析儀器類似。
X射線熒光光譜分析（－XRF）
XRF：X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 的X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自
X射線熒光光譜分析概述
X射線熒光光譜分析（X?Ray?Fluorescence，XRF）是固體物質成分分析的常規檢測手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。由于整體技術和分光晶體研制發展所限，早期的X射線熒光光譜儀檢測范圍較窄，靈敏度較差。隨著測角儀、計數器、光譜室溫度穩定等新技術的進步，使現代X射線熒光光譜儀的測量精密