二次離子質譜儀組成介紹

二次離子質譜儀組成介紹

　　SIMS主要包括一次離子源、進樣室、質量分析器、真空系統、數據處理系統等部分，對于絕緣樣品還配有電荷補償的電子中和槍，同時根據分析目的不同，還配有不同的離子源，常見的有氣體放電源（如O、Ar、Xe）、表面電離源（如Cs）、熱隙源（如C60）和液態金屬及團簇源（如Bin、Aun、Ga）等。　　這是

二次離子質譜儀（SIMS）

二次離子質譜儀（SIMS）分析方法介紹美信檢測 失效分析實驗室 1.簡介?二次離子質譜儀（secondary ion mass spectroscopy，簡稱SIMS），是利用質譜法分析初級 離子入射靶面后，濺射產生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。二次離子質譜儀分 析對象包括金屬及合金、半導

二次離子質譜儀簡介

　　二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,這些帶電粒子經過質量分析器后就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。[1]　　在傳統的SIMS實驗中，高能一次

等離子體質譜儀的組成介紹

等離子體質譜儀是一種常用的質譜儀產品，主要由等離子體發生器、霧化室、矩管、四極質譜儀和一個快速通道電子倍增管等部件組成，在多個行業中都有一定的應用。

二次離子質譜儀原理簡介

二次離子質譜儀原理簡介二次離子質譜儀（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）又稱離子探針（Ion Microprobe），是一種利用高能離子束轟擊樣品產生二次離子幵迚行質譜測定的儀器，可 以對固體或薄膜樣品迚行高精度的微區原位元素和同位素分析。由于地學樣品的復雜

關于二次離子質譜儀操作模式的介紹

　　SIMS大致可以分為“動態二次離子質譜”（D-SIMS）"和“靜態二次離子質譜“（S-SIMS）兩大類。雖然工作原理上它們并無本質差別，但是兩種模式的應用特點卻有所不同。一次離子束流密度大小是劃分兩種模式的主要標準。一般在S-SIMS模式下，一次離子束流被控制在1013離子/cm2，常用飛行時間

扇形磁場二次離子質譜儀簡介

　　　　扇形磁場二次離子質譜儀器通常使用靜電和扇形磁場分析器來進行濺射二次離子的速度和質量分析。扇形磁場使離子束偏轉，較輕的離子會比較重的離子偏轉更多，而較重的離子則具有更大動量。因此，不同質量的離子會分離成不同的光束。靜電場也應用于二次光束中，以消除色差。由于這些儀器具有更高的工作電流和持續光束，

二次離子質譜儀的發展歷史

　　自從Dunnoyer 第一次發現離子在真空中沿直線運動已經有100年的歷史，自此以后，分子束的應用在二十世紀持續到二十一世紀，它為重大技術進步和基礎研究奠定了基礎，分子束用于濺射源是其中應用之一。　　盡管在是十九世紀中葉濺射的現象已經觀察到，直到十九世紀四十年代，隨著真空技術的進步，Herzog

關于飛行時間二次離子質譜儀的介紹

　　飛行時間二次離子質譜儀(ToF-SIMS)。在此類質譜儀中，二次離子被提取到無場漂移管，二次離子沿既定飛行路徑到達離子檢測器。由于給定離子的速度與其質量成反比，因此它的飛行時間會相應不同，較重的離子到達檢測器的時間會比較輕的離子更晚。此類質譜儀可同時檢測所有給定極性的二次離子，并具有極佳質量分辨

二次離子質譜儀的質譜原理

　　Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基于質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基于一次離子與樣品表面互相作用現象（基本原理如圖1所示）。帶有幾千電子伏特能量的一次離子轟擊樣品表面，在轟擊的區域引發一系列物理及化學過程，包括一次離子散射及表面原子、原子

關于四級桿二次離子質譜儀器的介紹

　　　　由于這些儀器的質量分辨率相對有限（單位質量分辨率不能解決每超過一個峰值的質量），因此這些儀器越來越稀有。四級桿利用一個共振電場，其中只有特定質量的離子才能穩定通過震蕩場。與扇形磁場儀器相類似的是，這些儀器需要在高一次離子電流下操作，且通常被認為是“動態二次離子質譜”儀器（比如用于濺射深度剖析

二次離子質譜儀對分析物的要求

　　在二次離子的常規檢測中，可以用于分析的樣品可以固體，也可以是粉末、纖維、塊狀、片狀、甚至液體（微流控裝置）。如果從導電性考慮，這些樣品可以是導電性好的材料，也可以是絕緣體或者半導體。從化學組成上來分，可以是有機樣品，如高分子材料、生物分子，也可以是無機樣品，如鋼鐵、玻璃、礦石等。

簡述二次離子質譜儀的應用領域

　　當前二次離子質譜領域發展迅速，在半導體制造中元素摻雜，薄膜的組分測量和其他無機材料，宇宙中同位素比例，地球中微量元素等領域具有非常重要應用。　　通過二次離子質譜的深度剖析來分析材料薄膜結構是一種獨特的分析手段，尤其是對于分析不同薄層中的材料，以及相鄰兩層之間材料的相互影響 分析亞微米尺度下的特征

等離子體質譜儀組成部分

等離子體質譜儀是一種常用的質譜儀產品，主要由等離子體發生器、霧化室、矩管、四極質譜儀和一個快速通道電子倍增管等部件組成，在多個行業中都有一定的應用。

質譜儀的組成及介紹

質譜儀的組成：真空系統、進樣系統、離子源或電離室、質量分析器、離子檢測器。1、真空系統作用，是減少離子碰撞損失。若真空度低：大量氧會燒壞離子源的燈絲；會使本底增高，干擾質譜圖；引起額外的離子-分子反應，改變裂解模型，使質譜解釋復雜化；干擾離子源中電子束的正常調節；用作加速離子的幾千伏高壓會引起放電等

鋰離子二次充電電池的組成

鋰離子二次充電電池的組成是這樣的：電芯+保護電路板。充電電池去除保護電路板就是電芯了。他是電池中的蓄電部分。電芯的質量直接決定了充電電池的質量。手機電板拆掉外殼，再去掉電板里的保護電路板就剩下鋰電芯了。

飛行時間二次離子質譜儀（TOFSIMS）

飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）介紹美信檢測失效分析實驗室?【摘要】飛行時間二次離子質譜儀（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微 量的二次離子，根據二次

質譜儀的組成部分介紹

　　質譜儀主要由真空系統、進樣系統、離子源、質量分析器、檢測器等部分組成。　　真空系統：離子源的真空度要保持在10-3～10-5Pa，質量分析器的真空度要保持10-6Pa。　　進樣系統：可以分為直接進樣和色譜進樣。單組分、高沸點的液體樣品可以采用直接進樣。色譜進樣一般是液質聯用或氣質聯用等儀器，適用

鋰離子二次充電電池的結構組成

鋰離子二次充電電池的組成是這樣的：電芯+保護電路板。充電電池去除保護電路板就是電芯了。他是電池中的蓄電部分。電芯的質量直接決定了充電電池的質量。　　手機電板拆掉外殼，再去掉電板里的保護電路板就剩下鋰電芯了。

二次離子質譜的原理組成和結構

二次離子質譜Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加

高級玩具：二次離子質譜儀器核心技術研發

二次離子質譜儀器核心技術項目通過驗收

　　2011年6月21日，由中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心牽頭，聯合了中國計量科學研究院、復旦大學、中國科學院大連化學物理研究所和北京普析通用儀器有限責任公司等單位共同承擔的國家科技支撐計劃課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”(編號：2006BAK03A21)在京

幾種新型號二次離子質譜儀采用的新技術

幾種新型號二次離子質譜儀采用的新技術?本文簡要敘述法國CAMECA公司,德國IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次離子質譜的特色,著重介紹這些儀器改進過的和新增加的 儀器部件的原理、性能及功用。關鍵詞?二次離子質譜?飛行時間二次

幾種新型號二次離子質譜儀采用的新技術

幾種新型號二次離子質譜儀采用的新技術 本文簡要敘述法國CAMECA公司,德國IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次離子質譜的特色,著重介紹這些儀器改進過的和新增加的 儀器部件的原理、性能及功用。關鍵詞 二

等離子體質譜儀有哪些部分組成？

等離子體質譜儀是一種常用的質譜儀產品，主要由等離子體發生器、霧化室、矩管、四極質譜儀和一個快速通道電子倍增管等部件組成，在多個行業中都有一定的應用。

質譜儀的組成

質譜儀一般由真空系統、進樣系統、離子源、質量分析器、檢測器、數據處理系統六部分組成，圖 1?為質譜儀的結構示意圖。

一單位880萬采購飛行時間二次離子質譜儀

　　某單位飛行時間二次離子質譜儀采購項目公開招標公告　　項目概況 某單位飛行時間二次離子質譜儀采購項目 招標項目的潛在投標人應在http://www.oitccas.com/獲取招標文件，并于2023年10月30日13點30分（北京時間）前遞交投標文件。　　一、項目基本情況　　項目編號：OITC-G

同位素質譜儀的組成介紹

同位素質譜儀是由記錄儀、檢測器、質量分析器、離子源以及樣品入口五個獨立的系統組成。　　1、記錄儀：對檢測器的信號進行接收并且放大和記錄，如此就使質譜圖獲得。同位素質譜儀的記錄儀既能夠為簡單的帶狀記錄紙，也能夠為比較復雜的電腦系統。不管是怎樣的情形。數據均應當被準確的記錄，并且在之后有所需要的時候被調

離子分子反應質譜儀的介紹

技術是離子分子反應質譜IMR-MS。這是一種軟電離方法，通過使用這種方法，使待分析物樣品的碎片化大大減少或消除。帶正電荷的原子離子與包含待分析分子的中性氣流中的分子發生低能量碰撞。碰撞所產生的分子離子后續通過四極質量過濾器進行分離，通常的質量范圍為7至519amu。?　　V&F也采用不同的質譜技術，

二次離子質譜儀器核心技術項目在京順利通過驗收

?? 由中國地質科學院地質研究所北京離子探針中心牽頭，聯合了中國計量科學研究院、復旦大學、中國科學院大連化學物理研究所和北京普析通用儀器有限責任公司等單位共同承擔的國家科技支撐計劃課題“二次離子質譜儀器核心技術及關鍵部件研究與開發”（編號：2006BAK03A21）在京順利通過驗收。課題驗收會由“十