電子探針儀的相關介紹
電子探針儀是一種用于物理學、材料科學領域的分析儀器，于2017年06月05日啟用。 技術指標 1. 二次電子像分辨率：5nm，背散射電子像分辨率：20nm（拓撲像、成分像）； 2. 加速電壓：0 ～ 30kV；束流范圍：10-5～ 10-12A；圖像放大倍數：×40～×300,000； 3. 波譜系統分析元素：5B -92U；定量分析精度：識別0.2 wt%以上的元素。 主要功能 1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分鑒定，固體材料表面涂層、鍍層進行分析； 2、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；。......閱讀全文
電子探針儀的相關介紹
電子探針儀是一種用于物理學、材料科學領域的分析儀器，于2017年06月05日啟用。 技術指標 1. 二次電子像分辨率：5nm，背散射電子像分辨率：20nm（拓撲像、成分像）； 2. 加速電壓：0 ～ 30kV；束流范圍：10-5～ 10-12A；圖像放大倍數：×40～×300,000；
電子探針的功能介紹
電子探針是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器，可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發試樣中某一微小區域，使其發出特征X射線
關于電子探針X射線微區分析面分析的相關介紹
使入射電子束在樣品表面選定的微區內作光柵掃描，譜儀固定接收某一元素的特征X射線信號，并以此調制熒光屏的亮度，可獲得樣品微區內被測元素的分布狀態。元素的面分布圖像可以清晰地顯示與基體成分存在差別的第二相和夾雜物，能夠定性地顯示微區內某元素的偏析情況。在顯示元素特征X射線強度的面分布圖像中，較亮的區
電子探針譜儀概述
原理：利用聚焦電子束（電子探測針）照射試樣表面待測的微小區域，從而激發試樣中元素產生不同波長（或能量）的特征X射線。用X射線譜儀探測這些X射線，得到X射線譜。根據特征X射線的波長（或能量）進行元素定性分析；根據特征X射線的強度進行元素的定量分析。 適合分析材料:金屬及合金，高分子材料、陶瓷、混
電子探針的分析特點介紹
第一、微區性、 微量性：幾個立方μm范圍能將微區化學成分與顯微結構對應起來。而一般化學分析、 X射線熒光分析及光譜分析等， 是分析樣品較大范圍內的平均化學組成，也無法與顯微結構相對應, 不能對材料顯微結構與材料性能關系進行研究。 第二、方便快捷：制樣簡單，分析速度快。 第三、分析方式多樣化：
電子探針分析的基本介紹
以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特征X射線,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理試驗,又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析的原理是：以動能為10～30千電子伏的細聚焦電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補空位而釋放能量，從而產生特征X
驗室電子探針介紹
電子探針是通過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發試樣中的某一微小區域，使其發出特征X射線，由儀器配備的四道波譜儀、一道能譜儀、一個陰極發光成像系統接收并測定該X射線的波長和強度，即可對該微區的元素作定量或定性分析。將其與電鏡功能相結合，能有效的把顯微組織和元素成分聯系起來，成為目前研究亞微觀結構和
電子探針X射線顯微分析儀的陰極發光介紹
陰極發光是指晶體物質在高能電子的照射下，發射出可見光紅外或紫外光的現像。陰極發光現象和發光能力、波長等均與材料基體物質種類和含量有關。陰極發光效應對樣品中少量元素分布非常敏感，可以作為電子探針微區分析的一個補充，根據發光顏色或分光后檢測波長即可進行元素分析。從陰極發光的強度差異還可以判斷一些礦物
電子探針顯微分析的方法介紹
電子探針分析有兩種基本分析方法：定性分析和定量分析。 （1）定性分析 定性分析是對試樣某一選定點（區域） 進行定性成分分析，以確定點區域內存在的元素。 定性分析的原理：用光學顯微鏡或在熒光屏顯示的圖像上選定需要分析的點，使聚焦電子束照射在該點上，激發該點試樣元素的特征X射線。用X射線譜儀探
電子探針X射線微區分析的相關內容
電子探針X射線微區分析(EPMA)Electron Probe X-ray Microanalysis是用聚焦極細的電子束轟擊固體的表面，并根據微區內所發射出X射線的波長（ 或能量）和強度進行定性和定量分析的方法。主要功能是進行微區成分分析。它是在電子光學和X射線光譜學原理的基礎上發展起來的一種
關于電子探針X射線顯微分析儀的結構特點介紹
電子探針X射線顯微分析儀(簡稱電子探針)利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方
電子探針的原理
電子探針的原理如圖1所示。圖1（1）電子光學系統。電子束直徑0.1～1μm，電子束穿透深度1～3μm。被激發原子發射特征X射線譜過程如下：圍繞原子核運動的內層電子，被電子束的電子轟擊后，其他外層電子為補充轟擊出的電子而發生躍遷，在躍遷過程中釋放出能量，即發射出X射線。（2）X射線譜儀。測量各種元素產
電子探針X射線顯微分析儀的透射電子相關內容
當電子束入射到薄的樣品上，如果樣品厚度比入射電子的有效穿透深度小得多，會有一定的入射電子穿透樣品，這部分電子稱為透射電子。電子的穿透能力與加速電壓有關，加速電壓高則入射電子能量大，穿透能力強。透射電子數目與樣品厚度成反比，與原子序數成正比。用途:可通過電子能量損失的方法。測定樣品成分；可觀察樣品
關于電子探針的定性分析方法介紹
1. 定點分析： 將電子束固定在要分析的微區上，用波譜儀分析時，改變分光晶體和探測器的位置，即可得到分析點的X射線譜線；用能譜儀分析時，幾分鐘內即可直接從熒光屏（或計算機）上得到微區內全部元素的譜線。 鎂合金中的析出相CaMgSi的鑒別 Spectrum1 位置析出相富含Ca、Mg、Si元
硫化儀的相關介紹
儀器工作原理是測定膠料在硫化過程中剪切模量的變化，而剪切模量與交聯密度成正比，因此測定結果反映了膠料在硫化過程中交聯程度的變化，可以測出膠料初始黏度、焦燒時間、硫化速度、正硫化時間和過硫返原性等重要參數。 硫化儀連續測定膠料硫化過程中各種性能變化的儀器，由模腔、轉矩測定系統、控溫系統和記錄儀等
能耗儀的相關介紹
能耗儀是一個精確測定人體運動消耗情況的儀器，可以通過定量控制人體運動強度和運動量，并且，可以從提醒使用者養成良好的生活方式。它的主要功能也限于此。 還有以下具體表現如下： （1）能耗儀沒有經過機械階段，因為它要靠精確復雜的計算才可以得出高精度的能耗值，所以，他是在電子時代隨著MCU的出現才出
色差儀的相關介紹
色差儀廣泛用于塑膠及印刷等行業，主要根據CIE色空間的Lab，Lch原理，測量顯示出樣品與被測樣品的色差△E以及△Lab值， 除可測量樣品的反射色度外又可測量樣品吸收率，亮度，各種色值，K/S值，同色導譜，遮蓋率，白度，黃度等。 色差儀是一種模擬人眼成像原理而研發制成的用于測量物體間顏色色差的
關于電子探針X射線顯微分析儀的俄歇電子介紹
入射電子與樣品相互作用后，元素原子內層軌道的電子轟擊出來成為自由電子或二次電子，而留下空位，從而原子不穩定。則外層高能電子填充空位，釋放出能量，釋放的能量一方 面以輻射特征X射線的方式釋放，另一方面釋放的能量被該原子吸收，從而從另一軌道上轟擊出電子，該電子為俄歇電子。俄歇電子發生的幾率隨原子序
電子探針X射線微區分析定點分析的相關內容
(1)全譜定性分析 驅動分光譜儀的晶體連續改變衍射角，記錄X射線信號強度隨波長的變化曲線。檢測譜線強度峰值位置的波長，即可獲得樣品微區內所含元素的定性結果。電子探針分析的元素范圍可從鈹(序數4)到鈾(序數92)，檢測的最低濃度(靈敏度)大致為0.01％，空間分辨率約在微米數量級。全譜定性分析往
電子探針的功能特點
電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析。可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量（預置9999測試點）定量分析。由于電子探針技術具有操作迅速簡便（相對復雜的化學分析方法而言）、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品
電子探針的結構特點
電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功
電子探針的產品優勢
1、能進行微區分析。可分析數個μm3內元素的成分。2、能進行現場分析。無需把分析對象從樣品中取出，可直接對大塊試樣中的微小區域進行分析。把電子顯微鏡和電子探針結合，可把在顯微鏡下觀察到的顯微組織和元素成分聯系起來。3、分析范圍廣。Z>4其中，波譜：Be~U，能譜：Na~U。
電子探針的功能特點
電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析。可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量（預置9999測試點）定量分析。由于電子探針技術具有操作迅速簡便（相對復雜的化學分析方法而言）、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品
電子探針的結構特點
電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功
電子探針的結構原理
（1）電子光學系統。電子束直徑0.1～1μm，電子束穿透深度1～3μm。被激發原子發射特征X射線譜過程如下：圍繞原子核運動的內層電子，被電子束的電子轟擊后，其他外層電子為補充轟擊出的電子而發生躍遷，在躍遷過程中釋放出能量，即發射出X射線。（2）X射線譜儀。測量各種元素產生的X射線波長和強度，并以此對
什么是電子探針顯微分析儀
電子探針顯微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全稱：電子探針x射線顯微分析，是一種顯微分析和成分分析相結合的微區分析。適用于分析試樣中微小區域的化學成分，是研究材料組織結構和元素分布狀態的有效方法。 電子探針顯微分析是利用聚焦電子束（電子探測針）照
撕裂度儀的相關介紹
測試原理 將擺錘提升一定高度，使其具備一定的勢能；當擺錘自由下擺時，利用其自身貯存的能量將試樣撕裂；由計算機控制系統計算出撕裂試樣時消耗的能量，從而得到撕裂試樣所需的力。 結構組成 主要由擺錘支架、?扇形擺錘體、?擺軸、?固定夾具、活動夾具、?增重砝碼、沖刀?、擺錘釋放機構、?計算機等組成
狹義的土肥儀相關介紹
此類儀器在相當長一段時間內占據著市場，特別是05年國家實施測土配方施肥項目以來，此類儀器更是風靡一時，乃至全國每一個縣土肥站都有此類儀器。此舉成就了很多土肥儀企業，也讓很多瀕臨破產的企業看到了曙光，實現了二次發展。然而隨著項目的結題，土肥速測儀由于在實驗室內與大型儀器相比沒有想象的那樣真能實現速
關于濁度儀的相關介紹
濁度是表現水中懸浮物對光線透過時所發生的阻礙程度。水中含有泥土、粉塵、微細有機物、浮游動物和其他微生物等懸浮物和膠體物都可使水中呈現濁度。 濁度儀，又稱濁度計。可供水廠、電廠、工礦企業、實驗室及野外實地對水樣渾濁度的測試，所以掌握正確的使用方法是非常重要的。
極譜儀的相關介紹
極譜儀（polarography ）是根據物質電解時所得到的電流-電壓曲線，對電解質溶液中不同離子含量進行定性分析及定量分析的一種電化學式分析儀器。它的測試結果是一條極譜曲線(或稱極譜圖)。極譜圖上對應各物質的半波電位是定性分析的依據，波高(代表極限擴散電流)則是定量分析的依據。