透射電鏡簡介
透射電鏡（全稱：透射電子顯微鏡）是一個電子光學儀器。 透射電鏡包含大型透射電鏡、低壓透射電鏡、冷凍電鏡等，并擁有樣品內部組織形貌觀察、原位的電子衍射分析、原位的成分分析、表面形貌觀察等功能。 透射電鏡，即透射電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。電子顯微鏡是一種高精密度的電子光學儀器，它具有較高分辨本領和放大倍數，是觀察和研究物質微觀結構的重要工具。......閱讀全文
透射電鏡簡介
透射電鏡（全稱：透射電子顯微鏡）是一個電子光學儀器。 透射電鏡包含大型透射電鏡、低壓透射電鏡、冷凍電鏡等，并擁有樣品內部組織形貌觀察、原位的電子衍射分析、原位的成分分析、表面形貌觀察等功能。 透射電鏡，即透射電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。電子顯微鏡是一種高精密度的電子光學儀器，它具有較高分辨
透射電鏡簡介
根據德布羅意（De Broglie,20世紀法國科學家）提出的運動的微觀粒子具有波粒二象性的觀點，電子束流也具有波動性，而且電子波的波長比可見光要短得多（例如200千伏加速電壓下電子波波長為0.00251納米），顯然，如果用電子束作光源制成的顯微鏡將具有比光學顯微鏡高得多的分辨能力。更重要的是，
低壓透射電鏡簡介
低壓透射電鏡 低壓小型透射電鏡（Low-Voltage electron microscope, LVEM）采用的電子束加速電壓（5kV）遠低于大型透射電鏡。較低的加速電壓會增強電子束與樣品的作用強度，從而使圖像襯度、對比度提升，尤其適合高分子、生物等樣品；同時，低壓透射電鏡對樣品的損壞較小。
透射電鏡的組成簡介
透射電子顯微鏡由以下幾大部分組成：照明系統，成像光學系統；記錄系統；真空系統；電氣系統。成像光學系統，又稱鏡筒，是透射電鏡的主體。 照明系統主要由電子槍和聚光鏡組成。電子槍是發射電子的照明光源。聚光鏡是把電子槍發射出來的電子會聚而成的交叉點進一步會聚后照射到樣品上。照明系統的作用就是提供一束亮
透射電鏡功能的簡介
早期的 透射電子顯微鏡功能主要是觀察樣品形貌，后來發展到可以通過 電子衍射 原位分析樣品的 晶體結構。具有能將形貌和晶體結構原位觀察的兩個功能是其它結構分析儀器（如光鏡和X射線衍射儀）所不具備的。 透射電子顯微鏡增加附件后，其功能可以從原來的樣品內部組織形貌觀察（TEM）、原位的電子衍射分析（
透射電鏡的功能簡介
早期的透射電子顯微鏡功能主要是觀察樣品形貌，后來發展到可以通過電子衍射原位分析樣品的晶體結構。具有能將形貌和晶體結構原位觀察的兩個功能是其它結構分析儀器（如光鏡和X射線衍射儀）所不具備的。 透射電子顯微鏡增加附件后，其功能可以從原來的樣品內部組織形貌觀察（TEM）、原位的電子衍射分析（Diff
透射電鏡的真空系統簡介
真空系統 真空系統由機械泵、油擴散泵、換向閥門、真空測量儀奉及真空管道組成。它的作用是排除鏡筒內氣體，使鏡筒真空度至少要在 托以上。如果真空度低的話，電子與氣體分子之間的碰撞引起散射而影響襯度，還會使電子柵極與陽極間高壓電離導致極間放電，殘余的氣體還會腐蝕燈絲，污染樣品。
透射電鏡更換樣品簡介
更換樣品 通常在電子槍加高壓而關斷燈絲電源的條件下置換樣品。取出樣品時，首先打開過渡室和樣品空間的空氣鎖緊閥門，向外拉樣品桿，然后將過渡室放氣，最終拉出樣品桿，從樣品座中取出樣品。換上所需觀察的樣品，必須將樣品鋼網牢固地突持在樣品桿的樣品座中，然后將樣品桿插入過渡室，抽過渡室低真空并使其達到真
透射電鏡象襯度簡介
象襯度是圖象上不同區域間明暗程度的差別。由于圖像上不同區域間存在明暗程度的差別即襯度的存在，才使得我們能觀察到各種具體的圖像。只有了解像襯度的形成機理，才能對各種具體的圖像給予正確解釋，這是進行材料電子顯微分析的前提。 非晶樣品的象襯度 非晶樣品透射電子顯微圖象襯度是由于樣品不同微區間存在的
球差校正透射電鏡簡介
1，前言 球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。這里
球差校正透射電鏡簡介
1，前言球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。這里將給大家
簡介透射電鏡對樣品的要求
由于TEM得到的顯微圖像的質量強烈依賴于樣品的厚度，因此樣品觀測部位要非常的薄，例如存儲器器件的TEM樣品一般只能有10～100nm的厚度，這給TEM制樣帶來很大的難度。初學者在制樣過程中用手工或者機械控制磨制的成品率不高，一旦過度削磨則使該樣品報廢。TEM制樣的另一個問題是觀測點的定位，一般的
簡介透射電鏡的相位襯度
如果所用試樣厚度小于l00nm，甚至30nm。它是讓多束衍射光束穿過物鏡光闌彼此相干成象，象的可分辨細節取決于入射波被試樣散射引起的相位變化和物鏡球差、散焦引起的附加相位差的選擇。它追求的是試樣小原子及其排列狀態的直接顯示。 一束單色平行的電子波射入試樣內，與試樣內原子相互作用，發生振幅和相位
簡介透射電鏡的襯度原理
晶體結構可以通過高分辨率透射電子顯微鏡來研究，這種技術也被稱為相襯顯微技術。當使用場發射電子源的時候，觀測圖像通過由電子與樣品相互作用導致的電子波相位的差別重構得出。然而由于圖像還依賴于射在屏幕上的電子的數量，對相襯圖像的識別更加復雜。 非晶樣品透射電子顯微圖象襯度是由于樣品不同微區間存在的原
大型透射電鏡和冷凍電鏡的簡介
大型透射電鏡 大型透射電鏡（conventional TEM）一般采用80-300kV電子束加速電壓，不同型號對應不同的電子束加速電壓，其分辨率與電子束加速電壓相關，可達0.2-0.1nm，高端機型可實現原子級分辨。 冷凍電鏡 冷凍電鏡（Cryo-microscopy）通常是在普通透射電鏡
透射電鏡常見的樣品臺工作原理簡介
在性能較高的透射式電鏡中，大多采用上述側插式樣品臺，為的是最大限度地提高電鏡的分辨能力。高檔次的電鏡可以配備多種式樣的側插式樣品臺，某些樣品臺通過金屬聯接能對樣品網加熱或者致冷，以適應不同的用途。樣品是先盛載在銅網上，然后固定在樣品臺上的，樣品臺與樣品握持桿合為一體，是一個非常精巧的部件。樣品桿
透射電鏡抽真空、加電子槍高壓操作簡介
抽真空 接通總電源，打開冷卻水，接通抽真空開關，真空系統就自動的抽真空。一般經 15～2 0 m i n 后，真空度即可達到 10－4～ 10－5 T o r r，持高真空指示燈亮后即可上機工作。 加電子槍高壓 接通鏡筒內的電源，給電子槍和透鏡供電，由低至高速級給電子槍加高壓，直至所需值。
透射電鏡陰極射線管（CRT）顯示器簡介
陰極射線管（CRT）顯示器 電鏡的操作面板上的CRT顯示器主要用于電鏡總體工作狀態的顯示、操作鍵盤的輸入內容顯示、計算機與操作者之間的人機對話交流提示以及電鏡維修調整過程中的程序提示、故障警示等。
透射電鏡保養
透射電鏡保養：? 透射電鏡的日常維護注意事項? 1.常開機，多使用，這樣就能隨時掌握儀器工作情況，隨時注意觀察圖、光、聲、真空、氣壓、電源的變化情況，及時調節，作好記錄，時間長了肯定會積累很多經驗。? 2.注意空氣濕度、防止老鼠撒潑、電壓要穩定、氣體要清潔干燥、防止小樣品掉入，尤其是細顆粒，粉
透射電鏡技術
透射電鏡技術??透射電鏡是以電子束透過樣品經過聚焦與放大后所產生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。透射電鏡的分辨率為0.1~0.2nm，放大倍數為幾萬~幾十萬倍。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片(通常為50~100nm)。其制備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴格
透射電鏡－(TEM)
透射電鏡 (TEM)? 樣品必須制成電子能穿透的，厚度為100～2000 ?的薄膜。成像方式與光學生物顯微鏡相似，只是以電子透鏡代替玻璃透鏡。放大后的電子像在熒光屏上顯示出來。圖1 透射電子顯微鏡的光路示意圖是其光路示意圖。TEM的分辨本領能達 3 ?左右。在特殊情況下能更高些。? (1)超高壓
透射電鏡簡單分類
透射電鏡根據產生電子的方式不同可以分為熱電子發射型和場發射型?熱電子發射型用的燈絲主要有鎢燈絲和六硼化鑭燈絲；場發射型有熱場發射和冷場發射之分?根據物鏡極靴的不同可以分為高傾轉?高襯度?高分辨和超高分辨型?
透射電鏡成像原理
透射電鏡構造原理透射電鏡一般是電子光學系統、真空系統和電源與控制系統三大部分組成。電子光學系統通常稱為鏡筒，是透射電子顯微鏡的核心，它又可以分為照明系統、成像系統和觀察記錄系統。下圖是電鏡電子光學系統的示意圖，其中左邊是電鏡的剖面圖，右邊是電鏡的示意圖和光學顯微鏡的示意圖對比。由圖中可以看出，電鏡中
透射電鏡快速入門
在一些實驗中，需要觀察在普通的光學顯微鏡中無法看清的細微結構，那么就需要透射電子顯微鏡，透射電子顯微鏡是以波長更短的光源去提高顯微鏡的分辨率，以便更好的觀察。那么透射電鏡到底是怎么實現的呢？? 關于透射電子顯微鏡? 簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子
透射電鏡的使用
對于一名生物醫學工作者來說，是我們當今進行理論及臨床研究中不可缺少的重要工具。為了充分發揮它的功效，必須學會正確使用。使用除了掌握必要的電鏡基本知識以外，在工作中還應注意下列環節。1.保證透射電鏡各部分的對中。所謂對中的標準就是要做到：（一）當放大倍數改變時，視場的中心不會丟失，（二）當改變物樣上的
透射電鏡成像原理
透射電子顯微鏡是以波長極短的電子束作為照明源，用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨率、高放大倍數的電子光學儀器。透射電子顯微鏡是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上（片狀< 100 nm，顆粒< 2 um），電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。圖片的明暗不同（黑白灰）與樣品的原子序
透射電鏡的原理
在光學顯微鏡下無法看清小于0.2μm的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發射電子束的電壓平方根成反比，也就是說
透射電鏡成像原理
透射電子顯微鏡是以波長極短的電子束作為照明源，用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨率、高放大倍數的電子光學儀器。透射電子顯微鏡是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上（片狀< 100 nm，顆粒< 2 um），電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。圖片的明暗不同（黑白灰）與樣品的原子序
透射電鏡成像原理
透射電鏡構造原理透射電鏡一般是電子光學系統、真空系統和電源與控制系統三大部分組成。電子光學系統通常稱為鏡筒，是透射電子顯微鏡的核心，它又可以分為照明系統、成像系統和觀察記錄系統。下圖是電鏡電子光學系統的示意圖，其中左邊是電鏡的剖面圖，右邊是電鏡的示意圖和光學顯微鏡的示意圖對比。由圖中可以看出，電鏡中
透射電鏡成像原理
透射電鏡構造原理透射電鏡一般是電子光學系統、真空系統和電源與控制系統三大部分組成。電子光學系統通常稱為鏡筒，是透射電子顯微鏡的核心，它又可以分為照明系統、成像系統和觀察記錄系統。下圖是電鏡電子光學系統的示意圖，其中左邊是電鏡的剖面圖，右邊是電鏡的示意圖和光學顯微鏡的示意圖對比。由圖中可以看出，電鏡中