銅、鉻、鎳、錳礦，采、選礦石元素含量檢測

　　一、 應用概述

　　礦石是礦產冶煉的原材料，其元素含量的測定對于選礦以及冶煉加工至關重要。各類礦石中主量元素以及微量元素的測定通常采用化學滴定、AA、ICP、ICP-MS等多種分析方法，操作過程繁瑣，耗時耗力。單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀與快速基本參數法正在改變這一現狀，針對各類礦石樣品，同步分析其主量元素以及雜質元素含量，檢測速度快，減少人力物力消耗，為礦產開發與冶煉企業帶來新的元素分析方法。

　　二、 方法原理

　　1) 單色化聚焦激發技術原理

　　單波長X射線熒光光譜儀（HS XRF）采用全聚焦型雙曲面彎晶技術，全聚焦型雙曲面彎晶將X射線光管出射譜中靶材特征射線單色化衍射并聚焦到樣品一點，大幅降低X射線管出射譜中連續散射線背景對樣品元素譜的干擾，提升元素檢測信噪比，相對傳統XRF檢出限降低1-2個數量級，單波長X射線熒光光譜儀從而實現對微量和痕量元素的檢測分析。

　　2) 快速基本參數法

　　快速基本參數法(Fast FP2.0)通過對X射線熒光物理學明確的物理現象建立基本參數庫和系列數學模型，經過大量計算直接得到樣品中各元素的含量，解決了XRF基體效應、元素間吸收增強效應、譜線重疊干擾、探測器各種效應等對定量分析的復雜性和不確定性，實現欠缺標準樣品情況下的樣品元素定量分析。快速基本參數法（Fast FP）提升XRF樣品適應性與定量精度。

　　三、 性能數據

　　1) 礦石種類與元素類型

　　本方案可以測試鉻礦，鎳礦，銅礦和錳礦四種類型礦石，關注元素如下所示：

　　針對以上樣品，快速基本參數法(Fast FP)可以依賴少量(2-3個)定值或標準樣品快速開發相關分析方法，得到高精度的定量結果。

　　2) 準確度與精密度

　　3) 結論

　　高靈敏度X射線熒光光譜儀與快速基本參數法針對Cu, Ni, Mn, Cr四種礦石樣品，可以快速建立分析方法，快速基本參數法通過對基體效應，元素吸收增強效應的精確計算，消除各種干擾帶來的分析誤差，可以大幅降低背景干擾，降低檢出限；計算值與真值之間有極佳的線性關系，主元素不需要校正或只需極少標樣進行校正，即可達到快速精確定量的目的。