由瑞典卡羅林斯卡研究所的研究人員帶領的一個國際團隊,發現了一個與Van der Woude綜合癥(VWS,是最常見的唇腭裂綜合癥)有關的新基因。這項研究成果,發表在12月19日的國際著名期刊《American Journal of Human Genetics》雜志上,可以開辟一條改進唇腭裂家系和個人遺傳診斷法的途徑。
唇腭裂是一種最常見的出生缺陷,可以唇裂或腭裂其中一種形式單獨出現,也可以唇裂和腭裂兩種形式共同出現。它們能夠與其它畸形一起發生,形成一種綜合癥。有超過350種唇腭裂綜合癥,其中Van der Woude綜合癥最為常見。已有研究表明,IRF6(interferon regulatory factor)基因突變可導致VWS的發生,大約70%具有VWS的人,其IRF6基因發生了突變。
目前,通過來自瑞典、美國、芬蘭和以色列的研究人員之間進行的國際合作,已經發現了與VWS有關的第二個基因。研究人員從一項來自芬蘭的一個大家系的遺傳連鎖研究開始。這個家系被診斷出患有VWS,但是沒有發現IRF6突變。通過將受累者的DNA與來自健康家系成員的DNA進行比較,研究人員發現了另外一個基因,稱為GRHL3(Grainy-head like 3),這個基因僅僅在受累家系成員中發生了突變。在7個附加的VWS家系(該家系以前沒有發現IRF6突變)中發現,該基因也發生了改變。