歐陽昆：雙向觀測ICPOES最小化您的等待時間

　　2014年10月20日，CCATM’2014國際冶金及材料分析測試學術報告會及展覽會在京召開，在化學場上，來自國內外相關領域的專家、學者、技術人員及儀器設備廠商100余人參加。現將部分報告整理供大家參考學習。

　　來自安捷倫科技（中國）有限公司的歐陽昆工程師為大家帶來了《雙向觀測ICP-OES 最小化您的等待時間》的報告。

安捷倫科技（中國）有限公司 歐陽昆工程師

　　歐陽坤工程師介紹了安捷倫科技最新推出的區別于傳統的、極具創新的、全新概念的全球首款同步雙向觀測電感耦合等離子原子發射光譜儀（ICP-OES）—安捷倫5100 SVDV系列。儀器采用了ZL技術的DSC智能光譜組合技術，實現了同步的水平及垂直雙向觀測分析。儀器秉承簡潔實用，高效、高通量，低成本設計。在滿足日常常規及復雜樣品分析的同時，大大節省運營成本，降低消耗。并且保持了非凡的穩定性和適用性能。高科技的運用及全新概念的儀器設計，使得ICP光譜的分析能力又有了新的提升與創新發展。