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    發布時間:2022-09-26 19:09 原文鏈接: X射線熒光光譜儀的吸收與激發效應

      對一給定元素的某一吸收限的短波側,質量衰減系數pm迅速地隨著波長λ的增加而變大,根據式μm=Kλm及勒魯的研究結果,對于若干主要譜系,在0.18-10A的波段,λ的冪值m變化在2.1~2.8之間。因此越是接近吸收限短波側的譜線,所受的吸收或衰減就越大。而且,對一譜系,由于km隨的變化是連續的,故在樣品中發生的吸收與激發效應亦隨譜線的波長而連續地變化,直到波長增加到某一吸收限,質量衰減系數pm才發生陡然的變化。

      在吸收和激發效應中,最主要的是,原級入射線進入樣品時所受到的吸收效應和熒光譜線出射時受樣品的吸收或分析元素受其他元素的繼發效應。對于化學組成不同的樣品,當分析元素含量相同時,吸收和激發效應表現在對同一分析線的強度影響上,首先是由于樣品對原級入射線和分析線的聯合質量衰減系數的差異造成的。

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