Bruker推出新型可擴展3D光學顯微鏡ContourGTK

　　新型ContourGT-K提供無以倫比的臺式3D光學顯微鏡性能

　　2013年3月5日，布魯克宣布推出一款新型、可擴展的3D光學顯微鏡 ContourGT-K ，該產品以價值為導向，是一款無以倫比的臺式計量儀器。ContourGT-K包含了布魯克旗艦光學測量產品的多種高級功能，在大范圍表面的非接觸式形貌、粗糙度和厚度測量中提供全視野無以倫比的Z軸分辨率和出色的2維/3維成像能力。系統的流線型設計包括為避免極具挑戰生產環境中的強大振動而設計的集成的空氣隔離平臺。全新的ContourGT-K還采用了最新版本的Bruker Vision64? 軟件和最全面的預編程序的過濾和分析庫，更適用于LED，太陽能電池，厚薄膜，半導體，眼科，醫療設備，微機電系統和摩擦學應用領域的測量表征。

新型3DContourGT-K光學顯微鏡

　　布魯克的手寫筆和光學計量業務的執行副總裁兼總經理Rob Loiterman說，“布魯克擁有30年的光學測量經驗，創新的提供達到傳統激光共聚焦成像系統價值的真正的計量系統。隨著ContourGT-K的推出，研究人員和工程師不再需要在優質圖像和量化計量間進行選擇。

　　布魯克的手寫筆和光學計量業務的高級總監Kent Heath說“ContourGT-K提供很寬范圍表面測量所需的精度，在保證高速，準確性和簡單易用的情況下優化成本。該產品具有一系列廣泛的工廠和現場升級附件，例如特定應用的生產力軟件，自動塔臺，階段和傾斜功能，色彩和高分辨率攝像頭，以及獨特的NanoLens?AFM模塊，一起確保了ContourGT-K高度的擴展性，以滿足不斷變化的客戶需求。“

NanoLens?AFM模塊

　　關于ContourGT-K三維光學顯微鏡

　　ContourGT-K是Bruker的ContourGT 3D光學顯微鏡?系列的最新產品。它設置了表面計量性能設計和成本的新的行業標準，擁有優秀的表面特性和2維/3維測量以及高分辨率的成像能力。該新產品簡化，緊湊的結構，提供了無與倫比的計量能力。ContourGT-K擁有ZL技術，高亮度雙LED照明和出色的垂直分辨率，大大提高了儀器的靈敏度和穩定性。直觀的Vision64軟件提供業界最易于使用的界面，最強大的測量和分析軟件。該系統擁有完整的附件，可靈活增加額外應用需求，并可根據需要和預算投入不斷提高測量的能力。

　　關于Bruker公司

　　Bruker公司是一家提供高性能科學儀器和解決方案的領先供應商，該產品可應用于分子和材料領域以及工業的應用分析中。欲了解更多信息，請登錄www.bruker.com。