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    發布時間:2020-05-06 09:31 原文鏈接: 韓國XRF2000X射線鍍層測厚儀測量樣品高度達到20cm

    國XRF-2000X射線鍍金層測厚儀

    檢測電鍍層厚度,可檢測鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍鉻,鍍鈀等
    可測量單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層

    單鍍層:如銅上鍍鎳,銅上鍍銀,銅上鍍錫,鐵上鍍鎳等,不限底材
    雙鍍層:銅上鍍鎳鍍金,鐵上鍍銅鍍鎳等
    多鍍層:鐵上鍍銅鍍鎳鍍銀,銅上鍍鎳鍍鈀鍍金等
    合金鍍層:銅上鍍鋅鎳等

    XRF-2000X射線鍍層測厚儀


    儀器配置
     
    全自動臺面

    自動雷射對焦
    多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品)
    測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
    鍍層厚度測試范圍:0.04-35um
    可測試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
    每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
    測量時間:15秒
     
    精度控制:
          *層:±5%以內
          第二層:±8%以內
          第三層:±12%以內


    X射線鍍層測厚儀/X射線金屬鍍層測厚儀(韓國先鋒XRF-2000)
     
    韓國先鋒XRF2000鍍層測厚儀
     
    XRF-2000鍍層測厚儀共分三種型號

    不同型號各種功能一樣

    機箱容納樣品大小有以下不同要求
    XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
    XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
    XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
    以上兩款型長容納樣品長寬為55cm

    加高型容納樣品至20CM內

     

    XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設計,長寬不限)




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