美國博曼臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀，為您提供準確、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析,以及電鍍液分析。
Bowman BA-100 Optics 機型采用先進的多孔毛細管光學聚焦裝置,有效縮小測量點斑點的同時,可數倍乃至數十倍提高X射線激發強度。
Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD(硅漂移探測器),有效拓展元素分析范圍,適應嚴格的微區、超薄鍍層,以及痕量元素分析需求。
優秀的測試性能、突出的微區測量能力,Bowman BA-100 Optics機型是研究開發、質量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
博曼X射線膜厚測試儀主要基于核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。采用全新數學計算方法,采用FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco ControlledMeasurement)及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算,在加強的軟件功能之下,簡化了測量比較復雜鍍層的程序,甚至可以在不需要標準片之下,一樣精準測量。
只需輕輕按一下激光對焦按鈕,就可自動進行對焦。對于測量有高低差的樣品時,配置了為防止樣品和儀器沖撞的自動停止功能。
博曼X射線膜厚測試儀,可對應于含無鉛焊錫在內的合金電鍍或多層電鍍的測量,應用范圍廣泛。
利用Microsoft的Office操作系統可將檢測報告工作之便簡單快速地打印出來。
