熱性能測定儀是全球唯一基于JEDEC “靜態測試方法”（JESD51-1），實時采集器件瞬態溫度響應曲線的儀器，其測試延遲時間（tMD）和分辨率均高達1um。
熱性能測定儀，是MicReD研發制造的用于半導體器件的先進熱測試儀，用于測試IC、LED、散熱
器、熱管等器件的熱特性。儀器獨創的結構函數 (Structure Function)分析法，能夠分析器件熱傳導路徑相關結構的熱學性能，構建器件等效熱學模型，是器件封裝工藝、可靠性研究和測試的強大支持工具。因此被譽為熱測試中的“X射線”。
