大家在做金相顯微鏡觀察時,有種觀察方法微分干涉對比法,也叫DIC觀察法.此是一種比較先進的方法，目前只在國外品牌設備才有用到.其原理具體如何,下面簡單介紹之.
金相顯微鏡所需要部件:起偏器、檢偏器、微分干涉DIC片（由冰川石制成）。
起偏器和檢偏器是在對金相樣品進行正交偏振光觀察中必不可少的基本配套部件，組裝在明/暗場照明組件中，也是微分干涉相襯法必不可少的部件。金相顯微鏡起偏器是把光源變為按東-西方向振動的線偏振光；檢偏器可以使滿足干涉條件的相干光進行干涉。
金相顯微鏡微分干涉DIC片是微分干涉相襯法的核心部件，使其厚度產生微小的改變從而引起光程或光程差的微小變化，產生明顯的干涉相襯效果；
金相顯微鏡微分干涉DIC片應用：
觀察物體表面顆粒、裂紋、孔洞以及凸起，呈浮雕狀，可正確判斷
對一些工件表面要求降低，只要拋光不需腐蝕,就可看到馬氏體的相變浮凸
觀察一些表面顆粒變化,如導電離子觀察等.
通過如上闡述,相信大家對金相顯微鏡微分干涉DIC片原理及應用有一定的了解.
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