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    發布時間:2022-11-01 09:28 原文鏈接: 怎么分析通過XRD測結晶度的譜圖

    分析方法:

    已知波長的X射線來測量θ角,從而計算出晶面間距d,這是用于X射線結構分析;另一個是應用已知d的晶體來測量θ角,從而計算出特征X射線的波長,進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。

    分析晶體衍射基礎的公式是布拉格定律:2d sinθ=nλ,式中λ為X射線的波長,n為任何正整數,又稱衍射級數。

    當X射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點陣平面間距為d的原子面上時,在符合上式的條件下,將在反射方向上得到因疊加而加強的衍射線。


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