國家有色金屬及電子材料分析測試中心，擁有美國Thermo Fisher公司最新型號的Element GD輝光放電質譜儀(GDMS)，適用于金屬中ppb級及其以上含量的雜質分析，可以檢測5N、6N高純鋁、銅、鋅、鎳、鈷、多晶硅中的痕量和超痕量雜質元素。
輝光放電質譜法，簡稱GDMS，是利用輝光放電源作為離子源與質譜儀器聯接進行質譜測定的一種分析方法。GDMS在多個學科領域均獲得重要應用。在材料科學領域，GDMS成為反應性和非反應性等離子體沉積過程的控......
分析測試百科網訊2019年11月22日，第二十三屆“全國光譜儀器學術研討會”在上海召開。本次會議由上海理工大學與中國儀器儀表學會分析儀器分會光譜儀器學術專家組聯合主辦，分析測試百科網承辦。上海理工大學......
分析測試百科網訊HORIBA科學儀器事業部最近為輝光放電發射光譜（GD-OES）的深度分析發布了DiP創新系統。DiP(差分干涉分析)為無需校準的深度剖面分析提供了實時的鍍層厚度、斷面深度和濺射速度。......